材料測(cè)試技術(shù)課后題答案(編輯修改稿)
2025-07-16 17:14 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 方法、拍照溫度、面間距、米勒指數(shù)及相對(duì)溫度在進(jìn)行物相定性分析時(shí)，送樣時(shí)應(yīng)向?qū)嶒?yàn)人員提供哪些信息？答：送樣時(shí)必須注明以下信息：
①待分析項(xiàng)目和所要的圖形格式；
②試樣的來(lái)源、化學(xué)組成和物理特性等，尤其是化學(xué)組成，這些對(duì)于作出正確的結(jié)論是很有幫助的。
③要確定樣品中含量較少的物相時(shí)，可用物理或化學(xué)方法進(jìn)行富集濃縮。
④樣品有擇優(yōu)取向時(shí)，必須說(shuō)明。
⑤盡量將XRD分析結(jié)果和其他分析方法結(jié)合起來(lái)，如TEM、偏光顯微鏡等。
光學(xué)顯微鏡用（可見光）做照明源，其最小分辨率為（200nm）；電子顯微鏡以（電子束 ）做照明源，其分辨率可達(dá)（），通常人眼的分辨率是（）。電磁透鏡的像差指的是（電磁透鏡的像與物總有一定的偏差），電磁透鏡的像差主要有（球差）、（色差）、（軸上像散）、（畸變）等。解釋名詞：分辨本領(lǐng)、磁透鏡、場(chǎng)深、焦深。①分辨本領(lǐng)：分辨本領(lǐng)是指成像系統(tǒng)或系統(tǒng)的一個(gè)部件的分辨能力，又稱分辨率。即成像系統(tǒng)或系統(tǒng)元件能有差別地區(qū)分開相鄰物件最小間距的能力。②磁透鏡：旋轉(zhuǎn)對(duì)稱的磁場(chǎng)對(duì)電子束有聚焦成像作用，電子光學(xué)中用電子束聚焦成像的磁場(chǎng)是非勻強(qiáng)磁場(chǎng)，其等磁位面形狀與靜電透鏡中的等電位面相似。把產(chǎn)生這種旋轉(zhuǎn)對(duì)稱磁場(chǎng)的線圈裝置叫磁透鏡。
③場(chǎng)深：場(chǎng)深＝景深是指在不影響透鏡成像分辨本領(lǐng)的前提下，物平面可沿透鏡軸移動(dòng)的距離。場(chǎng)深也是電鏡的性能指標(biāo)之一，場(chǎng)深越大越好，表示樣品的不平度可以差一些。掃描電鏡的場(chǎng)深很大，做失效分析是很有用，可直接觀察斷口試樣的斷裂形貌。
④焦深：焦深是指在不影響成像分辨率的前提下，像平面可沿透鏡軸移動(dòng)的距離。焦深也是越大越好，便于照相。
畫圖說(shuō)明電子與固體樣品相互作用所能產(chǎn)生的物理信號(hào)并說(shuō)明SEM和TEM分別用哪些信號(hào)成像？在SEM的成像信號(hào)中，哪一個(gè)信號(hào)的成像分辨率最高？
SEM以二次電子、背散射電子、吸收電子成像，其中二次電子是最主要的成像信號(hào)。 TEM是高分辨率、高放大倍數(shù)的顯微鏡，它在哪三個(gè)方面是觀察和分析材料的有效工具？
答：①分辨率：表示TEM顯示顯微組織、結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)的能力。分點(diǎn)分辨率和線分辨率。
②放大倍數(shù)：指電子圖像對(duì)與所觀察試樣區(qū)的線性放大率。
③加速電壓：加速電壓高可觀察較厚的試樣。對(duì)材料研究工作選200KV加速電壓的TEM更合適。 TEM以（聚焦電子束）為照明源，使用對(duì)電子束透明的（薄膜試樣，幾十到幾百nm）樣品，以（透射電子）為成像信號(hào)。 說(shuō)說(shuō)TEM對(duì)樣品的基本要求；對(duì)于無(wú)機(jī)非金屬材料等一些非導(dǎo)電材料，制備TEM樣品常用的兩種方法及其特點(diǎn)分別是什么？
答：（1）TEM對(duì)樣品的基本要求：①載樣品的銅網(wǎng)直徑是3mm，所以可觀察樣品的最大尺度不超過(guò)1mm。
②樣品要相當(dāng)?shù)?
環(huán)評(píng)公示相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號(hào)-1