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正文內(nèi)容

ebsd及其在材料科學領域中的應用(編輯修改稿)

2025-06-09 22:06 本頁面
 

【文章內(nèi)容簡介】 勻地分布,對材料的性能有顯著的影響,這是織構分析的全新方法[89]。 圖3無取向硅鋼樣品的取向成像圖 圖4無取向硅鋼Goss織構的分布 相鑒定 目前,EBSD可以對七大晶系任意對稱性的樣品進行自動取向測量和標定。結合EDS的成分分析可以進行未知相的鑒定。在掃描電鏡x射線能譜分析中,可能難以在化學成分基礎上區(qū)別某元素的氧化物(如Fe203,F(xiàn)e304和FeO)、碳化物(如M7C3,M3C等)或氯化物,但EBSD有時卻很容易地從相的結晶學關系上毫無疑問的分開,如直接區(qū)別鐵的體心立方和面心立方。EBSD在相鑒定方面的另一個優(yōu)勢就是區(qū)分化學成分相似的相,如:M7C3和M3C相,鋼中的鐵素體和奧氏體[1011]。傳統(tǒng)的晶粒尺寸測量依賴于顯微組織圖象中晶界的觀察。但并非所有晶界都能用常規(guī)浸蝕的方法顯現(xiàn)出來,特別是一些孿晶和小角晶界。因此,嚴重孿晶顯微組織的晶粒尺寸測量就變得十分困難。EBSD方法是測量晶粒尺寸的理想工具,最簡單的方法是進行橫穿樣品的線掃描,同時觀察花樣的變化。材料微觀區(qū)域的殘余應力會使局部的晶面變得歪扭、彎曲,從而使EBSD的菊池線模糊,因而可通過觀察菊池圖像質(zhì)量可定型評估應變大小。類似于ECP,晶體的應變對EBSP的質(zhì)量有強烈的影響一隨著應變增加,EBSP的襯度下降,亮帶邊緣的角分辨率下降,甚至消失。由于EBSP技術的分析區(qū)域遠小于ECP技術,所以即使試樣的宏觀形變達80%,仍可進行微觀應變分析,因而對應變評定的范圍有很大的改進。根據(jù)EBSP的襯度效應和角分辨率進行分析,還可以用來研究導致晶體應變有關的過程,例如輻照和離子注入損傷,溶質(zhì)原子誘導應變,合金中的應力分析以及外力作用下所發(fā)生的塑性變形和斷裂過程(如疲勞和蠕變斷裂等)。如果對用于不同晶面指數(shù)的亮帶的角分辨率進行比較,則還可以用來探討不均勻形變及其所導致的晶粒間的錯向度等問題[1213]。4 EBSD與其他衍射技術的比較晶體結構及晶粒取向的傳統(tǒng)研究方法主要有兩個方面:一是利用X
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