【文章內(nèi)容簡介】 第2部分：試驗方法 試驗Db：交變濕熱（12h12h循環(huán))√GB/T / idt IEC68227：1987電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ea和導(dǎo)則：沖擊√GB/T / idt IEC68229：1987電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Eb和導(dǎo)則：碰撞√GB/T / idt IEC68230：1990電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ed和導(dǎo)則：自由跌落√GB/T / IEC6006826：1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fc：振動(正弦)√GB/T / IEC6006827：1986電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ga和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度√GB/T / IEC60068210：2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗J及導(dǎo)則：長霉√GB/T / IEC60068211：1981電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ka:鹽霧√GB/T / IEC60068252：1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Kb:鹽霧,交變（氯化鈉溶液）√GB/T / IEC60068213：1983電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗M:低氣壓√GB/T / IEC60068214：2009電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N:溫度變化√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Q:密封√GB/T / idt IEC6825：1975電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射√GB/T / IEC60068240：1976電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗√GB/T / IEC60068241：1976電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗√GB/T / IEC60068239：1976電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗√GB/T / idt IEC68245：1993電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗XA和導(dǎo)則:在清洗劑浸漬√GB/T / idt IEC681：1988電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Kca:高濃度二氧化硫試驗√GB/T / IEC60068238：2009電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗√GB/T / IEC60068250：1983電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動（正弦）綜合試驗√GB/T / IEC60068251：1983電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BFc:散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動（正弦）綜合試驗√GB/T / IEC60068268：1994電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗L：沙塵試驗√GB/T / IEC60068218：2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗R：水試驗方法和導(dǎo)則√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱√GB/T 電子電工產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 風(fēng)壓試驗方法√序號執(zhí) 行 標(biāo) 準(zhǔn) 號、名 稱收藏系統(tǒng)與設(shè)備型號及名稱備 注GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 振動、沖擊和類似動力學(xué)試驗樣品的安裝√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/ABDM:氣候順序√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ff：振動——時間歷程法√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fe：振動——正弦拍頻法√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cy：恒定濕熱主要用于元件的加速試驗√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ke：流動混合氣體腐蝕試驗√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗77：結(jié)構(gòu)強(qiáng)度與撞擊√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Xb：由手的摩擦造成標(biāo)記和印刷文字的磨損√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Xc：流體污染√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Eh:錘擊污染√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fh:寬帶隨機(jī)振動（數(shù)字制作）和導(dǎo)則√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ei：沖擊 沖擊響應(yīng)譜合成√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fi：振動 混合模式√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/ABMFh：溫度（高溫、低溫）/低氣壓/振動(隨機(jī))綜合√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗U:引出端及整體安裝件強(qiáng)度√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：傾斜和搖擺√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合√GB/T 恒定應(yīng)力壽命試驗和加速壽命試驗方法√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測量方法 第1部分：振動√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測量方法 第2部分：鹽霧√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測量方法 振動數(shù)據(jù)處理和歸納√2可靠性試驗導(dǎo)則、設(shè)備性能確認(rèn)GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 高溫低溫試驗導(dǎo)則√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 濕熱試驗導(dǎo)則√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度試驗箱性能確認(rèn)√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度/濕度試驗箱性能確認(rèn)√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗A/B(帶負(fù)載）用溫度試驗箱的測量√GB/T 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 大氣腐蝕加速試驗的通用導(dǎo)則 √序號執(zhí) 行 標(biāo) 準(zhǔn) 號、名 稱收藏系統(tǒng)與設(shè)備型號及名稱備 注GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 溫度變化試驗導(dǎo)則√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 太陽輻射試驗導(dǎo)則√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度/低氣壓綜合試驗導(dǎo)則√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 模擬貯存影響的環(huán)境試驗導(dǎo)則√GB/T 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度（高溫、低溫）和振動(正弦)綜合試驗導(dǎo)則√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第3部分：支持文件和導(dǎo)則 振動試驗選擇√√3可靠性設(shè)備檢驗、檢定方法、技術(shù)條件√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 鹽霧試驗設(shè)備√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 太陽輻射試驗設(shè)備√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 高低溫低氣壓試驗設(shè)備√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 腐蝕氣體試驗設(shè)備√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動（正弦）試驗用機(jī)械振動臺√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢驗方法 振動（正弦）試驗用電動振動臺√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動（正弦）試驗用液壓振動臺√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 穩(wěn)態(tài)加速度試驗用離心機(jī)√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 溫度/振動（正弦）綜合試驗設(shè)備√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 水試驗設(shè)備√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢驗方法 振動（隨機(jī)）試驗用液壓振動臺√GB/T 105862006濕熱試驗箱技術(shù)條件√GB/T 105872006鹽霧試驗箱技術(shù)條件√GB/T 105882006長霉試驗箱技術(shù)條件√GB/T 105892008低溫試驗箱技術(shù)條件√GB/T 105902006高低溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件√GB/T 105912006高溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件√GB/T 105922008高低溫試驗箱技術(shù)條件√GB/T 111582008高溫試驗箱技術(shù)條件√GB/T 111592010低氣壓試驗箱技術(shù)條件√序號執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)號、名稱收藏系統(tǒng)與設(shè)備型號及名稱備 注4包裝件試驗GB 包裝運(yùn)輸包裝件 試驗時各部位的標(biāo)示方法GB 包裝 運(yùn)輸包裝件基本試驗 第2部分:溫濕度調(diào)節(jié)處理GB 包裝 運(yùn)輸包裝件基本試驗 第3部分:靜載荷堆碼試驗方法GB 包裝 運(yùn)輸包裝件基本試驗 第4部分:采用壓力試驗機(jī)進(jìn)行的抗壓和堆碼試驗方法GB 包裝 運(yùn)輸包裝件 跌落試驗方法GB 包裝 運(yùn)輸包裝件 滾動試驗方法GB 包裝 運(yùn)輸包裝件基本試驗 第7部分:正弦定頻振動試驗方法GB 包裝 運(yùn)輸包裝件基本試驗 第9部分:噴淋試驗方法GB 包裝 運(yùn)輸包裝件基本試驗 第10部分:正弦變頻振動試驗方法GB 包裝 運(yùn)輸包裝件基本試驗 第11部分:水平?jīng)_擊試驗方法GB 包裝 運(yùn)輸包裝件 浸水試驗方法GB 包裝 運(yùn)輸包裝件基本試驗 第13部分:低氣壓試驗方法GB 包裝 運(yùn)輸包裝件 傾翻試驗方法GB 包裝 運(yùn)輸包裝件 可控水平?jīng)_擊試驗方法GB 包裝 運(yùn)輸包裝件 編制性能試驗大綱的一般原理GB 包裝 運(yùn)輸包裝件 編制性能試驗大綱的定量數(shù)據(jù)GB 包裝 運(yùn)輸包裝件 流通試驗信息記錄GB 包裝 運(yùn)輸包裝件 碰撞試驗方法GB 包裝 運(yùn)輸包裝件 單元貨物穩(wěn)定性試驗方法GB 包裝 運(yùn)輸包裝件基本試驗 第23部分:隨機(jī)振動試驗方法GB/T 53981999 GB/T 53981999大型運(yùn)輸包裝件試驗方法5產(chǎn)品試驗BY/Q B00162010產(chǎn)品老化標(biāo)準(zhǔn)√LB/T 0052010寒地LED道路照明產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范√ 可靠性與失效分析 儀表設(shè)備清單及單價/場地與要求序號設(shè)備/儀表/名稱型號單價(萬)L?W?H設(shè)備(m3)L?W?H占地(m2)水(m3)電(KW)氣(m3)重量(kg)備 注一 機(jī)械環(huán)境1產(chǎn)品振動臺(正弦/隨機(jī))公司有1臺2包裝物振動試驗臺二 氣侯環(huán)境3高溫(貯存)箱公司有4臺4低溫(貯存)箱