【正文】 009《LED隧道燈》√GB/T 248232009《普通照明用LED模塊 性能要求》√GB/T 248242009《普通照明用LED模塊 測試方法》√GB/T 248272009《道路與街路照明燈具 性能要求》√GB/T 249072010《道路照明用LED燈 性能要求》√GB/T 249082010《普通照明用自鎮(zhèn)流LED燈 性能要求》√GB/T 292962012《反射型自鎮(zhèn)流LED燈 性能要求》√ IESNA LM7908 北美《固態(tài)照明產(chǎn)品的電氣和光度測量的認定方法》√美國Energy Star《關于對LED燈具規(guī)范的相關測量要求》√CIE 127:2007(英文)《LED測量》√CIE 15:2004《colorimetry 比色法/色度測量》》ANSI 《固態(tài)照明產(chǎn)品色度學的要求》√2燈具空間光強分布(配光曲線)、空間顏色分布、空間亮度分布測試系統(tǒng) GOR5000全空間快速分布光度計(立式)(LM79稱為測角光度計)FullField Speed Goniophotometer(“變角/測角/測向”光度計)　　可用于:燈具及光源下述功能測量(近場/遠場/全空間)燈具空間光強分布(配光曲線)燈具空間(光譜分布、顏色分布、平均顏色特性及空間顏色不均勻性)燈具空間亮度分布(閃亮面積、平均亮度、眩光)總光通量、光效能燈具電壓、電流、功率、 諧波各種傳統(tǒng)燈具及LED燈具標準對配光性能測試的要求燈具最大規(guī)格 GB/T 231102008/CIE431979《投光燈具光度測試》√GB/T 70022008《投光照明燈具光度測試》√GB/T 94682008《燈具分布光度測量的一般要求》√LM8008 IESNA(美國)《LED光源流明維護率測量認定方法》√GB/T 229072008等同CIE 1211996《燈具的光度測試和分布光度學》√CIE 121:1996《泛光燈光度測量法和測角光度測量法》GB/T 261782010/CIE841989 技術文件《光通量測量法》√CIE 70:1987《照度分布測量法》CIE TC274(光輻射源的空間光譜輻射測量技術委員會)?。?B3版《美國通報LED燈具測試新規(guī)》一文中有“TBT”通報評議會，對美國最近[無日期]發(fā)布的“LED燈測試程序”展開評議。規(guī)定“測量LED燈流明輸出、輸入功率和相對光譜分布的方法”規(guī)定“測量LED光源光通維持率的方法，以預測LED燈的額定壽命” B2版另有《》一文， B2/“”？序號 執(zhí) 行 標 準 號、名 稱收藏系統(tǒng)與設備型號及名稱備 注3LED照明 現(xiàn)場環(huán)境測量設備(照明工程更必需)1 EZ3000便攜式現(xiàn)場光譜光色綜合分析2 CX2B 成像亮度計3 SR2 光譜輻亮度計4 PHOTO2000 面照度計5 PHOTO2000 半柱面照度計6 PHOTO2000 自動安平照度計7 PHOTO2000 快速存儲照度計8 Z10 智能照度計用于：包括LED照明在內(nèi)各類照明產(chǎn)品現(xiàn)場照明環(huán)境數(shù)量指標：照度、亮度。質(zhì)量指標：顏色、光譜成分、顯色性、反射比、眩光限制、照明均勻度等分析。建筑、裝潢材料的光學性能分析。(SR2)實驗室兼用能耗指標：照明功率密度限制GB/T 57002008《照明測量方法》√GB/T 56992008《采光測量方法》√GB/T 261802010/CIE :1995《光源顯色性的表示與測量方法》√GJJ 452006《城市道路照明設計標準》√JGJ/T 1632008《城市夜景照明設計規(guī)范》√CIE 15:2004《colorimetry 比色法/色度測量》GB 500342004《建筑照明設計標準》√GB/T 162752008《城市軌道交通照明》√LB/T 0042010《半導體照明試點示范工程 LED道路和隧道照明現(xiàn)場檢測及驗收實施細則》√4光輻射安全測定系統(tǒng)OST300光輻射安全測試系統(tǒng)　　　用于：各種光源、燈具光譜分布、光譜輻亮度、光譜輻照度、照度、光譜輻射曝光量、有效紫外輻射比(mW∕klm)表現(xiàn)光源尺寸、色溫、色坐標、顯色指數(shù)、色容差等。覆蓋200nm～3000nm全波段GB/T 201452006/ IEC/EN 62471:2006/CIE S009/E:2002《燈和燈系統(tǒng)的光生物安全性》√IEC/EN 60335227:1997《紫外和紅外輻射皮膚護理電器的特殊要求》IEC/EN 60598 Annex P 2005/32/EC歐盟指令等√IEC/EC 60432《Incandescent Lamp UV radiation 白熾燈紫外輻射》GB :2003《燈具第1部分：一般要求和試驗》√5LED(燈和燈具)加速老化和壽命測試系統(tǒng)(含溫度特性試驗)LT300ALED加速老化和壽命測試系統(tǒng)　　　　用于：LED燈和LED燈具產(chǎn)品常規(guī)老化、過載老化、壽命試驗、光通量維持特性試驗顏色漂移特性試驗溫度特性試驗LED壽命推算系統(tǒng) TM2111推估方式(55℃/85℃/自選溫度3個測試溫度)[ E、S新規(guī)有光衰30%時，視覺受影響，新規(guī)光通維持率定為≥70%，不是原≥50%的低標準要求]。GB/T 2482232009 、 √QB/T 40572010《普通照明用發(fā)光二極管 性能要求》√LB/T 0012009√LM802008 美國標準IESNA《LED光源流明維護率測量認定方法》ASSIST(？)推薦參考文件《？》IEC 62612 IES TM21《LED壽命測試》(非標準測試)ENERGY STAR 美國能源之星 《Program Requirements Product Specification Eligibility Criteria》IEC/PAS 62717:2011LED modules for general lighting – Performance requirements√IEC/PAS 6272221:2011Luminaire Performance –Part 21: Particular requirements for LED luminaires√序號設備/儀表/名稱型號單價L?W?H設備(m2)L?W?H占地(m2)水(m3)電(KW)氣(m3)重量(kg)備 注1LED燈具電光色參數(shù)測試系統(tǒng)(高精度快速光譜輻射計)HAAS2000643m(24m2)5約500光通量需配積分球　2燈具配光性能測試系統(tǒng)全空間快速分布光度計(立式)GOR5000117萬元(套)186m 117m2(暗室)34 12m2(操作室)15約2000(主機部分)樓板承重要求大于(600～700)kg/m2　3現(xiàn)場環(huán)境測量系統(tǒng)現(xiàn)場光譜光色綜合分析EZ300066(36 m2)2約100成像亮度計CX2B光譜輻亮度計SR2柱面照度計PHOTO2000半柱面照度計PHOTO2000自動安平照度計PHOTO2000快速存儲光度計PHOTO2000智能照度計Z104光輻射安全測定系統(tǒng)OST30083(24m2暗室)10約600安規(guī)試驗LED(燈和燈具)加速老化和壽命測試系統(tǒng)LT300A(9m2)14約500可靠性壽命試驗LED(單顆與模組)加速老化和壽命測試系統(tǒng)LT200A34(12m2)14約8006合 計萬元234m2 ? 暗室 占141m2? 6m屋凈高 占117m2 照明產(chǎn)品性能 儀表設備清單及單價/場地與要求  照明產(chǎn)品性能 布置圖說明：1 暗室內(nèi)門、墻及天花板均涂無光黑色漆，有窗的部分都掛黑色絲絨布簾，絨面朝內(nèi)。2 地面建議鋪設黑色地毯。3 所有儀器必須有良好接地，請設置接地良好的單相220V供電。4 房間必須有足夠大的門以進儀器，圖中門位置為示意圖。5 暗室建議安裝中央空調(diào)，其四周墻體建議采用保溫材料（儀器四周需滿足恒溫要求25177。1℃），空調(diào)管道的位置需與我方協(xié)商，以免碰到儀器。6 光闌外形如圖所示，由Ⅰ、Ⅱ兩部分組成，Ⅰ為固定木板，厚度為200mm。 Ⅱ為兩對半開門板，厚度為60mm.第3部分 可靠性與失效分析 編制說明可靠性與失效分析部分是一個以照明產(chǎn)品為主要對象，但編寫的體系圖則具有通用性。其試驗的內(nèi)容方法，條件依據(jù)的是GB/T2423電工電子產(chǎn)品通用的環(huán)境實驗標準，產(chǎn)品可以按要求選擇使用。 市場上的通用設備規(guī)格與具體產(chǎn)品實施時會有容積與數(shù)量要求無法滿足照明產(chǎn)品特殊的外型、大小懸殊的個體，是實施難關之一。 本處列出的部分技術標準，既有通用的機械與氣候環(huán)境試驗方法，也需要補充具體產(chǎn)品的可靠性試驗要求方面的標準規(guī)定。 耐久性(壽命)試驗，是試驗室中占地與耗能大戶，也是可靠性的核心試驗內(nèi)容。溫度耐久性試驗較簡單，只需保證試驗臺數(shù)，但電耐久性不僅會涉及壽命臺的數(shù)量，還涉及試驗技術方法如間歇、加速等，市場上沒有現(xiàn)成的試驗臺，要自制。 失效分析是提高與改進制造質(zhì)量的最有效工作方法之一。除了必有的環(huán)境試驗設備外，它還應該有一些物理化學手段，如缺陷分析觀察顯微鏡、X射線分析儀等。目前還開列不出系統(tǒng)內(nèi)容，在工作中需補充增添。 本處的可靠性與失效分析部分，將EMC、安規(guī)與認證(如IP防護，防爆等)歸入專門章節(jié)部分表述。 可靠性與失效分析 體系圖 可靠性與失效分析 耐久性（壽命）失效分析機械（環(huán)境）氣候（環(huán)境） 電耐久性多應力溫度（儲存） 微結構失效熱失效12產(chǎn)品與包裝加速度離心力碰撞（結構強度與撞擊）沖 擊振動（隨機）振動（正弦）附高溫應力附低溫應力溫濕度低 溫高 溫其它失效性能失效溫控儀熱成像分析儀熱阻測試儀X射線應用儀視像顯微鏡溫度、電、其他加速壽命間歇壽命恒定壽命181719列入EMC及安規(guī)部分處理自(定)制1178916151413其 他高 溫低 溫高低溫沖擊高低溫循環(huán)恒溫恒濕交變濕熱低氣壓鹽 霧水試驗沙 塵多應力風 壓防紫外防臭氧腐蝕防 雷12106543注：此處編號為“設備部分序號” 可靠性與失效分析 執(zhí)行標準(補充修訂)序號執(zhí) 行 標 準 號、名 稱收藏系統(tǒng)與設備型號及名稱備 注1可靠性試驗方法GB/T / IEC6006821：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫√GB/T / IEC6006822：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫√GB/T / IEC60068278：2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗√GB/T / IEC60068230：2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗