先進過程控制系統(tǒng)ppt課件(編輯修改稿)
2025-06-02 03:46 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 變差，計算量和存儲容量也相應(yīng)增大； L值小，控制機動性差，控制靈敏度差。通常，選取 L在 10以下。 3）控制加權(quán)矩陣 R和誤差加權(quán)矩陣 Q應(yīng)該同時加以考慮。 R用于降低控制作用的波動，使控制作用平穩(wěn)變化。通常， R取較小的數(shù)值。 預(yù)測控制 控制算法 根據(jù)參考模型的輸出與實際過程的輸出之差來自動調(diào)整控制器的參數(shù)，以適應(yīng)過程特性或環(huán)境的變化。 自適應(yīng)控制系統(tǒng)結(jié)構(gòu) 自適應(yīng)控制 自適應(yīng)控制 自校正控制系統(tǒng) 自校正控制將過程模型參數(shù)的在線估計和實時最優(yōu)控制有機結(jié)合。 實現(xiàn)在線估計的參數(shù)估計器采用 遞推參數(shù)估計算法。 最優(yōu)控制器采用 最小方差控制、線性二次型最優(yōu)控制、極點配置和廣義最小方差控制等。 通過調(diào)整控制器參數(shù)或控制規(guī)律，使系統(tǒng)動態(tài)輸出 y與參考模型輸出 ym盡可能一致。 調(diào)整控制系統(tǒng)控制規(guī)律和參數(shù)的依據(jù)是：被控過程輸出 y(t)相對于參考模型輸出 ym(t)的偏差 e(t)，以使系統(tǒng)的實際輸出 y(t)盡可能與參考模型輸出 ym(t)一致。 *39。 0c m mm( ) ( )KK B e t y tK?? 自適應(yīng)控制 模型參考自適應(yīng)控制 以概率論和數(shù)理統(tǒng)計等統(tǒng)計學原理，以提高產(chǎn)品質(zhì)量水平為目標，采用統(tǒng)計控制圖、統(tǒng)計描述、統(tǒng)計相關(guān)分析、實驗設(shè)計等方法，分析處理與產(chǎn)品質(zhì)量相關(guān)的生產(chǎn)過程數(shù)據(jù)，監(jiān)視生產(chǎn)過程的進行，判斷過程是否處于統(tǒng)計控制狀態(tài)，對產(chǎn)品的質(zhì)量進行分析，確定產(chǎn)品是否合格，并尋找改進途徑等。 統(tǒng)計過程控制 統(tǒng)計過程控制 原理 失控狀態(tài)：當過程受到某些確定性原因的影響，引起的系統(tǒng)變化時，質(zhì)量數(shù)據(jù)的分布曲線形狀、均值、分散性等會隨時間變化，超過區(qū)間，這時過程脫離統(tǒng)計過程控制狀態(tài)。 受控狀態(tài)： 當從一個過程采集的數(shù)據(jù)服從單一分布（正態(tài)分布），并具有一些理想的特性，如產(chǎn)品性能指標符合規(guī)定，其均值、方差的大小及分布曲線形狀保持一致。 偶然因素指過程所固有的對過程影響較小、難于消除的因素。 由偶然因素造成的質(zhì)量隨機波動稱為正常波動；當僅有偶然出素存在時，產(chǎn)品質(zhì)量處于正常波動范圍，認為生產(chǎn)過程處于受控狀態(tài)。 異常因素是非過程所固有、對質(zhì)量影響較大、可以消除的因素。由異常因素造成的質(zhì)量波動稱為異常波動。當異常因素的影響使質(zhì)量特征值偏離規(guī)定的范圍時，則認為生產(chǎn)過程處于失控狀態(tài)。 休哈特控制圖 統(tǒng)計過程控制 質(zhì)量控制圖 標準差 樣本組 上控制線 下控制線 中線 判穩(wěn)準則 ： 連續(xù) 25點，界外點 d=0 ； 連續(xù) 35點，界外點 d≤1 ； 連續(xù) 100點，界外點 d≤2 。 判異準則： 連續(xù) 6點具有相同上升或下降趨勢；點分布在 范圍內(nèi)；連續(xù) 9點在中線 CL的一側(cè) 鏈；連續(xù) 11（或 1 1 20）點，至少有 10（或 1 116）點在中線 CL的一側(cè) 間斷鏈；點的排列隨時間推移而呈周期性；連續(xù) 3（或 10）點中至少有 2（或 4）點落在 和 控制界限間。 多元投影方法： 將高維數(shù)據(jù)空間數(shù)據(jù)投影到低維特征空間方法；可用于多元統(tǒng)計過程控制。 主元分析法（ PCA） ：用幾個綜合變量反映原系統(tǒng)中較多的具有相關(guān)特征變量所包含的大部分信息。 部分最小二乘法： 通過多元投影變換，分析兩個不同
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