otdr常見曲線分析ppt課件(編輯修改稿)
2025-06-01 18:21 本頁面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 帶寬頻率剛好相同 ,此情況下 , 改變測(cè)試脈寬，同時(shí)應(yīng)從受測(cè)光纖的兩端進(jìn)行測(cè)量 實(shí)際在測(cè)試中最常見的異常曲線、原理和對(duì)策 現(xiàn)象：光纖未端無菲涅爾反射峰，曲線斜率、衰減正常，無法確認(rèn)光纖長(zhǎng)度 原因：光纖未端面上比較臟或光纖端面質(zhì)量差； 對(duì)策：清洗光纖未端面或重新做端面； 現(xiàn)象：曲線成明顯弓形，衰減嚴(yán)重偏大或偏小，無菲涅爾反射峰； 原因：量程設(shè)置錯(cuò)誤（不足被測(cè)光纖長(zhǎng)度 2倍以上）； 對(duì)策：增大量程 現(xiàn)象：在曲線斜率恒定的曲線中間有一個(gè) “ 小山峰 ” （背向散射劇烈增強(qiáng)所致） 原因： （ 1）光纖本身質(zhì)量原因（小裂紋）； （ 2）二次反射余波在前端面產(chǎn)生反射； 對(duì)策：在這種情況下改變光纖測(cè)試量程、脈寬、重新做端面，再測(cè)試如“小山峰”消失則為原因（ 2），如不消失則為原因（ 1） 現(xiàn)象：在光纖纖連接器、耦合器、熔接點(diǎn)處產(chǎn)生一個(gè)明顯的增益； 原因：模場(chǎng)直徑不匹配造成的； 對(duì)策：測(cè)試衰減和接頭損耗必須雙向測(cè)試，取平均值 現(xiàn)象：曲線斜率正常，光纖均勻性合格，但兩端光纖衰減系數(shù)相差很大 原因：模場(chǎng)不均勻造成，一般為光纖拉絲引頭和結(jié)尾部分； 對(duì)策：測(cè)試衰減必須雙向測(cè)試，取平均值 現(xiàn)象：在整根光纖衰減合格，曲線大部分斜率均勻，但在菲涅爾反射峰前沿有一小凹陷 原因：未端幾米或幾十米光纖受側(cè)壓； 對(duì)策：復(fù)繞觀察有無變化 1310nm 1550nm 現(xiàn)象： 1310nm光纖曲線平滑，光纖衰減斜率基本不變
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