【文章內(nèi)容簡介】 原理： 酸介質(zhì)下 ， 與硼氫化鈉反應得氣態(tài)氫化物 。 例： AsCl3+4NaBH4+HCl+8H2O=AsH3+4NaCl+4HBO2+13H2 將待測試樣在專門的氫化物生成器中產(chǎn)生氫化物 ， 送入原子化器中檢測 。 特點： 原子化溫度低；靈敏度高 (對砷 、 硒可達 109g)； 基體干擾和化學干擾小 。 （ 2）冷原子化法 原子化溫度為 常溫 。 主要應用于 ：各種試樣中 Hg元素的測量。 原理 ：將試樣中的汞離子用 SnCl2或鹽酸羥胺完全還原為金屬汞后 ， 用氣流 （ Ar或 N2） 將汞蒸氣帶入具有石英窗的氣體測量管中進行吸光度測量 。 特點 ：常溫測量；靈敏度 、 準確度較高 （ 達 108g汞 ） 。 四、光學系統(tǒng) 作用 將待測元素的共振線與鄰近線分開 。 組成 分為外光路系統(tǒng)和分光系統(tǒng) 。 外光路系統(tǒng)使光源發(fā)出的分析線能正確地通過被測試樣的原子蒸氣 ， 并投射到單色器的狹縫上 。 分光系統(tǒng) 主要由色散元件 （ 棱鏡 、 光柵 ） ， 反射鏡 、 狹縫等組成 。 通帶 （ W） 指通過單色器出射狹縫的某標稱波長處的輻射范圍 。 當?shù)股⒙?（ D） 一定時 ， 可通過選擇狹縫寬度 （ S） 來確定： W=D?S ?103 五、檢測系統(tǒng) 主要由檢測器、放大器、對數(shù)變換器、顯示記錄裝置組成。 將單色器分出的光信號轉(zhuǎn)變成電信號。 將光電倍增管輸出的弱信號，經(jīng)電子線路進一步放大 。 光強度與吸光度之間的轉(zhuǎn)換。 、 記錄 原子吸收計算機工作站 配制一組含有不同濃度被測元素的 系列標準溶液 ，在與試樣測定完全相同的條件下，按濃度由低到高的順序測定吸光度值。繪制吸光度對濃度的校準曲線。測定試樣的吸光度，從校準曲線上用內(nèi)插法求出被測元素的含量。 167。 84 定量分析方法 一、標準曲線法 A C Cx Ax O Problem: 繪制和使用工作曲線時應該考慮那些因素？ 在應用中有時出現(xiàn) 標準曲線彎曲 的現(xiàn)象 。 使用本法時 注意以下幾點 ： (1) 所配制的標準溶液的濃度 ， 應在吸光度與濃度呈線性關系的范圍內(nèi)； (2) 標準溶液與試樣溶液都應用相同的試劑處理； (3) 應該扣除空白值； (4) 在整個分析過程中操作條件應保持不變； (5) 每次測定前應用標準溶液對吸光度進行檢查和校正 。 二、標準加入法 分取 幾份 相同量的 被測試液 ，分別加入不同量的被測元素的標準溶液，使加入的標準溶液濃度為 0，CS、 2CS 、 3CS? ，然后分別測定它們的吸光度 A，繪制 吸光度 對 加入濃度 的校準曲線，再將該曲線外推至與濃度軸相交。交點至坐標原點的距離即 Cx。 使用本法時 注意以下幾點 ： (1)待測元素的濃度與其對應的吸光度應呈線性關系； (2)至少用 4個點外推 ， 且加入標準濃度大小要適當； (3) 該法可消除基體干擾 ， 不能消除背景干擾； (4) 對于斜率太小的曲線 ， 容易引進較大的誤差 。 167。 85 干擾及其抑制 原子吸收光譜法的主要干擾有 物理干擾 、 化學干擾 、 光譜干擾 等。 一、物理干擾 物理干擾 是指 試液與標準溶液物理性質(zhì)有差異而產(chǎn)生的干擾 。如粘度、表面張力或溶液的密度等的變化，影響樣品的霧化和氣溶膠到達火焰的傳送等，引起原子吸收強度的變化而引起的干擾。 消除辦法： 配制與被測試樣組成相近的標準溶液或采用標準加入法。若試樣溶液的濃度高，還可采用稀釋法。 二、化學干擾 化學干擾是由于被測元素原子與共存組份發(fā)生化學反應生成穩(wěn)定的化合物，影響被測元素的原子化，而引起的干擾。 消除化學干擾的方法： （ 1）選擇合適的原子化方法 如用高溫火焰或提高石墨爐溫度，可使難離解化合物分解；采用還原性火焰，促進難離解氧化物還原、分解。 （ 2）加入釋放劑 釋放劑的作用 是釋放劑與干擾物質(zhì)生成更穩(wěn)定化合物，使被測元素釋放出來。 例如 ，磷酸根干擾鈣測定，可加入鑭、鍶鹽， 鑭、鍶與磷酸根 生成比鈣更穩(wěn)定的磷酸鹽，就相當于把鈣釋放出來。 （ 3）加入保護劑 保護劑的作用 是防止被測元素與干擾組份生成難離解的化合物。保護劑一般是有機配合劑，可與被測元素生成穩(wěn)定的配合物，但在原子化條件下易分解。例如， EDTA、 8羥基喹啉。 （ 4）加入消電離劑 消電離劑是比被測元素 易電離的元素 ，相同條件下消電離劑首先電離，產(chǎn)生大量的電子，抑制被測元素的電離。 例如 ，測鈣時可加入過量 KCl溶液。鈣的電離電位為，鉀的電離電位為 ，由于 K電離抑制鈣電離。 (5)緩沖劑 于試樣與標準溶液中均加入超過 緩沖量(即干擾不再變化的最低限量 )的干擾元素。如在用乙炔 — 氧化亞氮火 焰 測鈦 時，可在試樣和標準溶液中均 加入 200ppm以上的鋁 ，使鋁 對鈦的干擾趨于穩(wěn)定。 (6)加入基體改進劑 對于石墨爐原子化法，在試樣中加入基體改進劑，使其在 干燥或灰化 階段與試樣發(fā)生化學變化，其結(jié)果可以增加基體的揮發(fā)性或改變被測元素的揮發(fā)性，以消除干擾。 三、光譜干擾 光源在單色器的光譜通帶內(nèi)存在與分析線相鄰的其它譜線。 可能有下述兩種情況： （ 1）與分析線相鄰的是待測元素的譜線 常見于多譜線元素 (如 Ni、 Co、 Fe)。減小狹縫寬度可改善或消除這種影響。 （ 2）與分析線相鄰的是非待測元素的譜線 若此譜線為非吸收線，會使欲測元素的靈敏度下降，工作曲線彎曲；若此譜線為吸收線，而試樣中又含有該元素時，將產(chǎn)生“假吸收”，產(chǎn)生正誤差。 這種干擾主要是由于空心陰極燈的 陰極材料不純、稀有氣體不純 等，且常見于 多元素燈 。 → 選擇純度較高的單元素燈。 另外： 空心陰極燈中有 連續(xù)背景發(fā)射 主要來自燈內(nèi)雜質(zhì)氣體或陰極上的氧化物 。連續(xù)背景的發(fā)射不僅使 靈敏度降低 ，工作曲線彎曲，而且當試樣中共存元素的吸收線處于連續(xù)背景的發(fā)射區(qū)時有可能產(chǎn)生 假吸收 。 燈的連續(xù)背景發(fā)射是由于燈的制作不良，或長期不用而引起的?？?將燈反接，并用大電流空點，以純化燈內(nèi)氣體 ，經(jīng)過這樣處理后，情況可能會改善。否則應更換新燈。 見教材表 85（ P252）?？蛇x用待測元素的其它光譜線作為分析線，或者分離干擾離子來消除干擾。 （ 1）原子化器的發(fā)射 來自火焰本身或原子蒸氣中待測元素的發(fā)射。當儀器 采用調(diào)制方式進行工作時，這一影響可得到減免。如果干擾仍然存在，則可適當 增加燈電流 ,提高光源發(fā)射強度 來