導(dǎo)電聚合物薄膜材料(編輯修改稿)
2025-05-26 05:54 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 材料微組織結(jié)構(gòu)以及這些材料的物理、化學特性以及力學性能參數(shù)的檢測。 ? 但用電子散斑干涉技術(shù)精確測試材料的力學性能以及進行斷裂分析的研究國內(nèi)外尚未見報道。 石油、天然氣 裂解、蒸餾 有機原料 乙炔、乙烯 有機合成 聚合、縮合等 高分子材料 聚噻吩 導(dǎo)電聚噻吩薄膜 導(dǎo)電聚噻吩薄膜材料的制備工藝 / Working technology of CPTF 材料的制備技術(shù)和工藝過程對材料的性能會產(chǎn)生巨大的影響 , 因此，對制備技術(shù)和工藝過程的研究十分必要。 導(dǎo)電聚噻吩薄膜材料的制備工藝 / Working technology of CPTF ?電極體系 ?聚合電位 ?三氟化硼乙醚體系 ?單體濃度30mmol/L 三電極電化學薄膜制備示意圖 IM KOH Electrochemical Polymerization ITO contact electrode Microporous alumina membrane(MAM) ITO/Au/MAM Aligned Pth tubules Au vapor deposition 納米管導(dǎo)電聚噻吩薄膜材料的制備工藝 電子散斑干涉微測原理 /Micromeasuring method with the ESPI ? 電子散斑干涉（ ESPI）技術(shù)是計算機圖像處理技術(shù)、激光技術(shù)以及全息干涉技術(shù)相結(jié)合的一種新技術(shù)。 ? 散斑是在相干照明的情況下在漫射式的反射或透射表面觀察到的隨機分布的具有“閃爍”顆粒狀外貌的微小光斑，有亮散斑和暗散斑之分。激光的高相干性使散斑現(xiàn)象顯而易見。實際上，散斑就是來自粗糙表面不同面積元的光波之間的自相干涉現(xiàn)象，因而它也是粗糙表面的某些信息的攜帶者。借助于散斑不僅可以研究粗糙表面本身，而且還可以研究其位置及形狀的變化。 電子散斑干涉微測原理 /Micromeasuring method with the ESPI ? 電子散斑干涉系統(tǒng)由光學干涉儀和信息處理系統(tǒng)組成。光學干涉儀形成原始散斑干涉場，由 CCD探測器將其轉(zhuǎn)換成標準視頻信號輸入到帶圖像卡的計算機進行圖像處理，最后可以直接在屏幕上觀察到與變形相關(guān)的干涉條紋。 ? 實驗系統(tǒng)主要包 括 : (1)外腔式激光器； (2)光束提升器； (3)漸變分光器； (4)過半球擴束鏡； (5)分光棱鏡；(6)全反射鏡； (7)變焦鏡； (8)CCD攝像頭； (9)偏振片；(10)帶圖像卡的計算機； (11)試件等。 ? 典型實驗光路如圖 1所示 : 電子散斑干涉微測原理 /Micromeasuring method with the ESPI ? 實驗方法 : ? (1)按設(shè)定的實驗光路布置好各光學元器件后，適當調(diào)整變焦鏡，使被測試件成像清晰、大小適中； ? (2)通過 CCD取得一幅像，然后加載使
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