核輻射測量原理復(fù)習(xí)資料(編輯修改稿)
2025-05-14 04:17 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 MeVγ射線的脈沖幅度譜給出的峰總比是 大于 1/23。（大于、小于、等于）27. 6MeV的α粒子穿過其厚度為其射程1/3的物質(zhì)后， 能量 減小，強(qiáng)度不變。28. 進(jìn)行放射性測量中，樣品計(jì)數(shù)率的大小為100cps,若要求計(jì)數(shù)率的相對(duì)統(tǒng)計(jì)誤差不大于1%，則最短測量時(shí)間應(yīng)為 100s 。29. 重帶電粒子的能量損失率與物質(zhì)的 原子序數(shù) 和 材料 有關(guān)。30. 光電子的能量等于入射γ射線能量減去 散射γ射線的能量 。31. 20MeV電子入射到Cu(Z=29)靶上，其輻射能量損失率和電離能量損失率之比為 。電子的電離損失率和輻射損失率之比： 當(dāng)電子電離損失率與輻射損失率一樣時(shí)32. 在GM計(jì)數(shù)管的工作氣體中添加的少量抑制放電的氣體，稱為 猝滅氣體 。33. 測量α射線一般選用ZnS(Ag)閃爍體。（NaI(Tl)閃爍體、ZnS(Ag)閃爍體、塑料閃爍體)34. 探測器對(duì)一個(gè)入射粒子的相應(yīng)是一個(gè) 電流 脈沖。35. GM計(jì)數(shù)管的輸出脈沖幅度與入射粒子的 能量 無關(guān)。36. 電子脈沖電離室輸出回路的時(shí)間常數(shù)為 RC。37. 用涂鈾電離室探測中子是通過 核裂變 方法間接探測中子。38. 帶電粒子的能量損失率又叫物質(zhì)的 阻止本領(lǐng) 。39. 光電效應(yīng)中光電子的能量等于入射γ射線能量減去 散射γ射線的能量 。40. 正電子 與電子相遇會(huì)發(fā)生湮沒而放出湮沒光子。41. 電離室按工作方式可分為 脈沖電離室 和累積電離室。42. 正比計(jì)數(shù)器雪崩通常發(fā)生在 陽極絲附近 。43. 測量γ射線一般選用NaI(Tl)閃爍體。（NaI(Tl)閃爍體、ZnS(Ag)閃爍體、塑料閃爍體)44. 光電倍增管一般由 光陰級(jí) 、倍增極和陽極組成。45. 6MeV的α粒子穿過其厚度為其射程1/3的物質(zhì)后， 能量減小，強(qiáng)度不變。46. 進(jìn)行放射性測量中，測得的總計(jì)數(shù)N為4000，則計(jì)數(shù)率的相對(duì)統(tǒng)計(jì)誤差為 ％。σ=47. 重帶電粒子的能量損失率與物質(zhì)的 原子序數(shù) 和 材料 有關(guān)。48. 反沖電子的能量等于入射γ射線能量減去 散射γ射線的能量 。49. 自猝滅GM計(jì)數(shù)管加的自猝滅氣體一般是 有機(jī)分子氣體（酒精等）和鹵素氣體。50. 測量α射線一般選用ZnS(Ag)閃爍體。（NaI(Tl)閃爍體、ZnS(Ag)閃爍體、塑料閃爍體)51. 閃爍體探測器的高壓是通過分壓器加在 光電倍增管 。（閃爍體、光導(dǎo)、光電倍增管)。52. 放射性活度的測量方法一般有 相對(duì)測量法 和 絕對(duì)測量法 。53. 進(jìn)行放射性測量中，要求計(jì)數(shù)率的相對(duì)統(tǒng)計(jì)誤差不大于177。1%時(shí)，要求總的計(jì)數(shù)N應(yīng)不小于 100 。σ=54. 離子脈沖電離室輸出回路的時(shí)間常數(shù)為。55. 用涂鈾電離室探測中子是通過 核裂變 方法間接探測中子。56. 重帶電粒子的能量損失率與物質(zhì)的電子密度和電荷數(shù)有關(guān)。57. 原子外層電子填充內(nèi)層電子留下的空位是會(huì)發(fā)生俄歇效應(yīng)和軔致輻射。58. 正電子與負(fù)電子相遇會(huì)發(fā)生湮沒而放出湮沒γ光子。59. 重帶電粒子與物質(zhì)相互作用的主要能量損失方式是電離損失。60. 坪特性是衡量計(jì)數(shù)管質(zhì)量好壞的主要參量。61. 電離室按工作方式分為脈沖電離室和累積電離室
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