電子元器件檢驗(yàn)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)書模板(編輯修改稿)
2025-05-04 21:50 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. 極性等標(biāo)記符號(hào)印刷不清，難以辨認(rèn)不可接受；b. 電解電容之熱縮套管破損、脫落，不可接受；c. 本體變形，破損等不可接受；，均不可接受。目檢可焊性檢驗(yàn)MA，或完全不上錫不可接受。(將PIN沾上現(xiàn)使 用之合格的松香水，再插入小錫爐5秒鐘左右后拿起觀看PIN是否100%良好上錫；如果不是則拒收)實(shí)際操作每LOT取5~10PCS在 小錫爐上驗(yàn) 證上錫性尺寸規(guī)格檢驗(yàn)MA a. 外形尺寸不符合規(guī)格要求不可接受?？ǔ呷粲糜谛碌腗odel，需在PCB上對(duì)應(yīng)的位置進(jìn)行試插電性檢驗(yàn)MAa. 電容值超出規(guī)格要求則不可接受。用數(shù)字電容表或LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀量測(cè)（五） 晶體類檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)晶體類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所用晶體之檢驗(yàn)。3. 抽樣計(jì)劃依MILSTD105E，LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考《抽樣計(jì)劃》。4. 允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0。主要缺點(diǎn)(MA): 。次要缺點(diǎn)(MI): .5. 參考文件《數(shù)字頻率計(jì)操作指引》檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否都 正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. 字體模糊不清，難以辨認(rèn)不可接受；b. 有不同規(guī)格的晶體混裝在一起，不可接受；c. 元件變形，或受損露出本體等不可接受；d. Pin生銹氧化、上錫不良，或斷Pin，均不可接受。目檢每LOT取5~10PCS在小錫爐上驗(yàn)證上錫性電性檢驗(yàn)MAa. 晶體不能起振不可接受；b. 測(cè)量值超出晶體的頻率范圍則不可接受。測(cè)試工位 和數(shù)字頻率計(jì)電性檢測(cè)方法晶體檢 測(cè) 方 法 在好的樣板的相應(yīng)位置插上待測(cè)晶體, 再接通電源開機(jī)。 在正常開機(jī)后，用調(diào)試好的數(shù)字頻率計(jì)測(cè)量晶體，看 測(cè)量的頻率是否在規(guī)格范圍內(nèi)，若不能開機(jī)或測(cè)量值不在規(guī)格范圍內(nèi)，則該晶體不合格。在好的樣板的相應(yīng)位置插上待測(cè)晶體、CPU、內(nèi)存條等，再接通電源開機(jī)，看能否正常開機(jī)顯示；在正常開機(jī)顯示后，用調(diào)試好的數(shù)字頻率計(jì)測(cè)量晶體，看測(cè)量的頻率是否在規(guī)格范圍內(nèi)，若不能開機(jī)顯示或測(cè)量值不在規(guī)格范圍內(nèi)，則該晶體不合格。（六） 三極管檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)三極管類物料之依據(jù)。2. 適用范圍
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