星河src6001培訓教材(編輯修改稿)
2025-04-28 23:52 本頁面
【文章內容簡介】 下降到線性區(qū)，記下此時的Vb與Vc，然后給b極增加一個ΔVb，此時C極電壓將減少一個ΔVc，由此可以計算出電流增益β=(ΔVc*Rb)/(ΔVb*Rc)，Rb 、Rc分別是信號源內阻。（OP0）光電藕合器最少是四個端子，兩個發(fā)光控制端和兩個受光被控端，只有真正的進行發(fā)光控制才能測試其好壞，所以我們采取四端測量方法先在控制側不驅動，測量被控測的電壓，以測試光藕的關斷特性，然后以5~10mA的電流驅動發(fā)光側，被控側電壓將下降，由此可檢測其導通特性。編輯界面中 針1對應發(fā)光管正極 針2對應發(fā)光管負極 針3對應受光管C極 G針1對應受光管E極測量值1：發(fā)光無驅動電壓時的C極電壓測量值2：發(fā)光端施加5V驅動電壓時的C極電壓。7. IC測量（IC0）幾乎所有數(shù)字IC及大量的模擬IC芯片在其輸入輸出管腳與電源管腳間都接有防過電壓保護的PN結，通過測量這種PN結的存在與否以及其方向，可判斷被測IC管腳的漏焊及IC方向的正確與否，但此種方法不適合與有兩個以上IC并連管腳的情況，因為PN結并聯(lián)后，丟失一個PN結的情況是測不出的。（IC1）針對集成電路PN結掃描法存在的漏測情況，為測量并聯(lián)IC（或IC與二極管相聯(lián)）管腳的漏焊情況，可在IC外殼表面分別安裝電壓感應探頭，當某IC的管腳開路（漏焊）時會影響其探頭上的感應電壓強度，而對其他IC上的探頭不會產(chǎn)生影響。把接插件當成IC也可以用此方法測量其焊接開路的故障且由于接插件內部無復雜的電路聯(lián)系，測試效果會很好。對于同一IC的多個管腳外純并聯(lián)的用此法較難測量。由于IC外圍電路元件的影響，當待測IC管腳開路時，施加到該網(wǎng)絡的信號會通過其它元件耦合到IC內部而影響測試結果。為了提高可測率，需要加隔離，消除IC管腳間的信號串擾。隔離針的設置順序一般是： 與待測IC管腳有元件相連的管腳針號； IC的GND或VCC腳； 待測管腳的相鄰管腳，比如測試IC的PIN3，則將PIN2和PIN4的針號設為隔離針。 待測管腳針號的相鄰針號，比如待測IC的PIN3是20號針，則19號針和21號針設為隔離針。8. PN結測量 PN結非線性曲線測量法(PN0)當PN結正向導通時電流與電壓的關系是非線性的,如圖所示,。其中：測量值1：PN結驅動電流為I1時的正向壓降V1測量值2：PN結驅動電流為I2時的壓降V2與驅動電流為I1時的壓降V1之差。 PN結正反向測量法
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