星河src6001培訓(xùn)教材(編輯修改稿)
2025-04-28 23:52 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 下降到線性區(qū)，記下此時(shí)的Vb與Vc，然后給b極增加一個(gè)ΔVb，此時(shí)C極電壓將減少一個(gè)ΔVc，由此可以計(jì)算出電流增益β=(ΔVc*Rb)/(ΔVb*Rc)，Rb 、Rc分別是信號(hào)源內(nèi)阻。（OP0）光電藕合器最少是四個(gè)端子，兩個(gè)發(fā)光控制端和兩個(gè)受光被控端，只有真正的進(jìn)行發(fā)光控制才能測試其好壞，所以我們采取四端測量方法先在控制側(cè)不驅(qū)動(dòng)，測量被控測的電壓，以測試光藕的關(guān)斷特性，然后以5~10mA的電流驅(qū)動(dòng)發(fā)光側(cè)，被控側(cè)電壓將下降，由此可檢測其導(dǎo)通特性。編輯界面中 針1對應(yīng)發(fā)光管正極 針2對應(yīng)發(fā)光管負(fù)極 針3對應(yīng)受光管C極 G針1對應(yīng)受光管E極測量值1：發(fā)光無驅(qū)動(dòng)電壓時(shí)的C極電壓測量值2：發(fā)光端施加5V驅(qū)動(dòng)電壓時(shí)的C極電壓。7. IC測量（IC0）幾乎所有數(shù)字IC及大量的模擬IC芯片在其輸入輸出管腳與電源管腳間都接有防過電壓保護(hù)的PN結(jié)，通過測量這種PN結(jié)的存在與否以及其方向，可判斷被測IC管腳的漏焊及IC方向的正確與否，但此種方法不適合與有兩個(gè)以上IC并連管腳的情況，因?yàn)镻N結(jié)并聯(lián)后，丟失一個(gè)PN結(jié)的情況是測不出的。（IC1）針對集成電路PN結(jié)掃描法存在的漏測情況，為測量并聯(lián)IC（或IC與二極管相聯(lián)）管腳的漏焊情況，可在IC外殼表面分別安裝電壓感應(yīng)探頭，當(dāng)某IC的管腳開路（漏焊）時(shí)會(huì)影響其探頭上的感應(yīng)電壓強(qiáng)度，而對其他IC上的探頭不會(huì)產(chǎn)生影響。把接插件當(dāng)成IC也可以用此方法測量其焊接開路的故障且由于接插件內(nèi)部無復(fù)雜的電路聯(lián)系，測試效果會(huì)很好。對于同一IC的多個(gè)管腳外純并聯(lián)的用此法較難測量。由于IC外圍電路元件的影響，當(dāng)待測IC管腳開路時(shí)，施加到該網(wǎng)絡(luò)的信號(hào)會(huì)通過其它元件耦合到IC內(nèi)部而影響測試結(jié)果。為了提高可測率，需要加隔離，消除IC管腳間的信號(hào)串?dāng)_。隔離針的設(shè)置順序一般是： 與待測IC管腳有元件相連的管腳針號(hào)； IC的GND或VCC腳； 待測管腳的相鄰管腳，比如測試IC的PIN3，則將PIN2和PIN4的針號(hào)設(shè)為隔離針。 待測管腳針號(hào)的相鄰針號(hào)，比如待測IC的PIN3是20號(hào)針，則19號(hào)針和21號(hào)針設(shè)為隔離針。8. PN結(jié)測量 PN結(jié)非線性曲線測量法(PN0)當(dāng)PN結(jié)正向?qū)〞r(shí)電流與電壓的關(guān)系是非線性的,如圖所示,。其中：測量值1：PN結(jié)驅(qū)動(dòng)電流為I1時(shí)的正向壓降V1測量值2：PN結(jié)驅(qū)動(dòng)電流為I2時(shí)的壓降V2與驅(qū)動(dòng)電流為I1時(shí)的壓降V1之差。 PN結(jié)正反向測量法
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