[工學]電子顯微分析(1)(編輯修改稿)
2025-02-15 11:34 本頁面
【文章內容簡介】 SiTiCTi 5 Si 3TiCcarboncoatingTi Si Al Nbcontent (at%)d is tan ce ( ? m)b Ccoating TiC Ti3Si Ti3AlC 1?m A B Ti2AlNb TiC Ti5Si3 1 300kv, L=130cm, R1= ， R2=, ?=71? 計算機標定 軟件： CaRIne(法 )， Desktop Micrographer(美 ) ， 等等 2 , 2 , 22 , 0 , 02 , 2 , 21 , 1 , 11 , 1 , 10 , 2 , 20 , 2 , 2 1 , 1 , 1 1 , 1 , 1 2 , 2 , 2 2 , 0 , 0 2 , 2 , 2a*b*c*Z o n e a x i s : [0 , 1 , 1 ][ ] TiC 1 1 0 1 1 1 1 1 1 1 000 c 透射電子顯微鏡圖像分析 非晶樣品質厚襯度 薄晶體樣品的衍射襯度 相位襯度 (1)質厚襯度 復型和非晶物質試樣的襯度是質厚襯度。質厚襯度的基礎是原子對電子的散射和小孔徑角成像。樣品中相鄰區(qū)域原子序數或厚度的不同引起對電子吸收和在不同散射方向上分布的不同。原子序數大的或厚度大的區(qū)域不僅對入射電子吸收大，而且散射能力強，因此被散射的電子能通過物鏡光欄孔參與成像的少，被散射到光欄孔外的多，在電子像上該區(qū)域顯示暗的襯度；相反原子序數小的或厚度薄的區(qū)域，則呈現(xiàn)亮的襯度。 復型樣品質厚襯度 a 粒狀貝氏體； b
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