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正文內(nèi)容

數(shù)字頻率計(jì)賽題的分析(編輯修改稿)

2025-02-14 18:43 本頁(yè)面
 

【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 減小計(jì)數(shù)誤差( )的思路 NN?NN?NN?減小計(jì)數(shù)誤差是本次設(shè)計(jì)中需要重點(diǎn)考慮的問(wèn)題! ③ 計(jì)數(shù)誤差的分析 頻率測(cè)量時(shí),計(jì)數(shù)誤差與被測(cè)信號(hào)頻率成反比。 例如,若閘門(mén)時(shí)間 T=1s,當(dāng)被測(cè)信號(hào)頻率為 100kHz,計(jì)數(shù)值為 100000,計(jì)數(shù)誤差為 105;但當(dāng)被測(cè)信號(hào)頻率分別為 10Hz時(shí),其計(jì)數(shù)誤差為 101。 頻率測(cè)量實(shí)現(xiàn)原理(傳統(tǒng)方法) ③ 計(jì)數(shù)誤差的分析 周期測(cè)量時(shí),計(jì)數(shù)誤差與被測(cè)信號(hào)周期成正比(與頻率成反比)。 例如,若時(shí)標(biāo)取 T0=1181。s,則當(dāng)被測(cè)信號(hào)周期為 100ms( f =10Hz)時(shí),計(jì)數(shù)值為 100000,其計(jì)數(shù)誤差為 105;但當(dāng)被測(cè)信號(hào)周期分別為10181。s( f =100kHz )時(shí),其計(jì)數(shù)誤差 101。 周期測(cè)量實(shí)現(xiàn)原理(傳統(tǒng)方法) 在頻率測(cè)量時(shí),當(dāng)被測(cè)信號(hào)頻率較高時(shí),直接測(cè)其頻率;當(dāng)被測(cè)信號(hào)頻率較低時(shí),先測(cè)其周期,然后再換算其頻率值。 測(cè)量誤差與被測(cè)頻率的大小有關(guān),且最低測(cè)量誤差受中介頻率的限制。 頻率和周期測(cè)量設(shè)計(jì)方案 (主要考慮計(jì)數(shù)誤差的影響) : 方案一,基于傳統(tǒng)頻率與周期的測(cè)量方法 方案二,多周期同步測(cè)量方法(倒數(shù)計(jì)數(shù)器法) ? 被測(cè)信號(hào)脈沖先同步再計(jì)數(shù); ? 設(shè)兩個(gè)計(jì)數(shù)器,分別測(cè)量被測(cè)脈沖個(gè)數(shù)及閘門(mén)時(shí)間的大小。 測(cè)量精度高,且與被測(cè)頻率的大小無(wú)關(guān),實(shí)現(xiàn)了“等頻率”測(cè)量。 同步電路 同步原理 由于D觸發(fā)器的同步作用,計(jì)數(shù)器 Ⅰ 所記錄的 NA已不存在 177。 1 字誤差的影響。 但是,實(shí)際的閘門(mén)時(shí)間T已不等于預(yù)置的閘門(mén)時(shí)間 TP。因此,還需要同時(shí)測(cè)量實(shí)際的閘門(mén)時(shí)間T的大小。 D觸發(fā)器的功能:對(duì)應(yīng) CK 端上升沿,D端的信號(hào)傳送到Q端。 TP T 為了測(cè)量實(shí)際的閘門(mén)時(shí)間 T,設(shè)置了計(jì)數(shù)器 Ⅱ ,并用標(biāo)準(zhǔn)時(shí)鐘 f0 進(jìn)行計(jì)數(shù)來(lái)確定實(shí)際閘門(mén)時(shí)間 T的大小。 ? 計(jì)數(shù)器 Ⅰ 的累計(jì)數(shù) NA= fx T; T= NA / fx ? 計(jì)數(shù)器 Ⅱ 的累計(jì)數(shù) NB= f0 T; T= NB / f0 聯(lián)立上兩式,得 0fNNf BAx ?? 計(jì)數(shù)器 Ⅱ 記錄的 NB 值仍存在177。 1字誤差的影響,但由于時(shí)鐘頻率很高, 177。 1字誤差的影響很小。 取時(shí)鐘頻率 f0= 100MHz,則由177。 1字引起的相對(duì)誤差為 108。該誤差與被測(cè)信號(hào)的頻率無(wú)關(guān),且在全頻段的測(cè)量精度是均衡的。 100MHz 時(shí)標(biāo)電路 2. 頻率和周期的測(cè)量 ? 頻率計(jì)的三類(lèi)測(cè)量誤差 ① 標(biāo)準(zhǔn)頻率誤差: ② 觸發(fā)誤差: θ = 10R/20,其中R為 信噪比 。 ③ 計(jì)數(shù)誤差: ,其中△ N = 177。 1。 00ff?NN?? 參賽 作品 概況 ① 獲全國(guó)獎(jiǎng)的作品均采用了 晶體振蕩器(或 帶 溫補(bǔ)的 晶體振蕩器),其準(zhǔn)確度 一般可以達(dá)到 105及 以上,其標(biāo)準(zhǔn) 頻率誤差 可忽略。 ② 獲 全國(guó)獎(jiǎng)的 作品大部分都采用了多周期同步測(cè)量方法,因而大幅度較低了觸發(fā)誤差和計(jì)數(shù)誤差的影響。 ③ 除通道電路和控制電路,測(cè)量電路幾乎都在 FPGA 的芯片中完成。 3.時(shí)間間隔的測(cè)量(相位測(cè)量) a.方波,頻率范圍為 100Hz~ 1MHz;峰峰值電壓范圍為 50mV~ 1V; c.被測(cè)時(shí)間間隔的范圍為 ~ 100ms; d.測(cè)量誤差的絕對(duì)值不大于 102。 晶振 分頻 、 倍頻 閘門(mén)計(jì)數(shù) 、 顯示T 0門(mén)控T A Bt At BA 通道B 通道t At BA 信號(hào)B 信號(hào)單周期測(cè)量方案(傳統(tǒng)方法) 當(dāng)晶振頻率不變情況下,被測(cè)時(shí)間間隔越小,計(jì)數(shù)誤差就越大 精度最差的測(cè)試點(diǎn): 被測(cè)時(shí)間間隔為 ( 100ns),晶振頻率( fs)為 100MHz( T0=10ns)時(shí),由 177。 1字誤差引起的誤差為 101,不能能達(dá)到 102。 注:要求 A、 B通道電路性能一致 ! 100MHz 3.時(shí)間間隔的測(cè)量(相位測(cè)量) 提高 TAB 測(cè)量精度的方法(思路) ① 當(dāng)采用單周期測(cè)量的傳統(tǒng)方法時(shí),應(yīng)盡量提高晶振的頻率 設(shè)計(jì)測(cè)時(shí)間間隔為 ( 100ns), 當(dāng)晶振頻率為 10MHz( T0=100ns)時(shí),由 177。 1字誤差引起的誤差為 100%, 當(dāng)晶振頻率為 100MHz( T0=10ns)
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