電法測(cè)井講座ppt課件(編輯修改稿)
2025-01-31 23:20 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 微電阻率掃描成像測(cè)井 動(dòng)態(tài)圖 FMI電阻率測(cè)量有很大的動(dòng)態(tài)范圍，而小的電導(dǎo)率反差不能在標(biāo)準(zhǔn)平衡圖像上觀察到。動(dòng)態(tài)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)也稱圖像動(dòng)態(tài)加強(qiáng)，它使得圖像顯示更詳細(xì)。 靜態(tài)圖 它是把全井段所有資料都用于確定顏色的級(jí)別，這一技術(shù)適合于觀察較大的電阻率的變化和進(jìn)行巖性對(duì)比。 第二部分 微電阻率掃描成像測(cè)井 1） 測(cè)前要檢查電極的靈敏度 ， 要對(duì)井徑刻度 。 2） 無(wú)特殊情況 ， 應(yīng)在套管中做井徑的測(cè)前測(cè)后刻度 ， 并且其讀值與實(shí)際套管內(nèi)徑值誤差不超過(guò) 177。 （ ） 。 3） 儀器旋轉(zhuǎn)周期不得小于 10m（ 在 6〃 井眼的直井段旋轉(zhuǎn)周期不得小于 7m） 。 4） 測(cè)井時(shí)應(yīng)同時(shí)監(jiān)視六條電導(dǎo)率曲線 ， 不得保持在零或飽和值 ， 出現(xiàn)飽和現(xiàn)象時(shí)一次不超過(guò) 5m。 5） 每個(gè)極板上出現(xiàn)的死電極數(shù)不得超過(guò) 10個(gè) ， 連續(xù)死電極數(shù)不得超過(guò) 4個(gè) 。 6） 在井斜大于 5176。 磁偏角小于 80176。 時(shí) ， 方位的重復(fù)誤差在 177。 2176。 以內(nèi) ， 井斜角的重復(fù)誤差在 177。 176。 以內(nèi) 。 7） 圖像能正確反映地層的地質(zhì)現(xiàn)象 ， 除儀器遇卡外 ， 圖像上不允許出現(xiàn)磚塊狀 。 8） 按規(guī)定進(jìn)行重復(fù)測(cè)量 ， 重復(fù)井段不少于 25m， 重復(fù)圖像應(yīng)與主圖像基本相似 。 9） 必須有齊全正確的磁帶記錄 。 FMI 質(zhì)量控制 第二部分 微電阻率掃描成像測(cè)井 儀器旋轉(zhuǎn)過(guò)多 現(xiàn)場(chǎng)資料實(shí)例分析 測(cè)井儀以大于系統(tǒng)采樣的速度 ,導(dǎo)致測(cè)井資料采樣不足。通常儀器旋轉(zhuǎn)大于每 30英尺（ 10米）一轉(zhuǎn)時(shí)，就會(huì)出現(xiàn)這樣問(wèn)題。結(jié)果降低了磁傾角的精度和準(zhǔn)確性。對(duì)解釋有著輕微到嚴(yán)重的影響。 第二部分 微電阻率掃描成像測(cè)井 存在問(wèn)題資料實(shí)例 儀器速度不規(guī)則 無(wú)規(guī)律的速度變化在圖像上引起了各段圖像的壓縮 /擴(kuò)張。這是儀器的速度突變或電纜上下移動(dòng)的結(jié)果 影響解釋 第二部分 微電阻率掃描成像測(cè)井 存在問(wèn)題資料實(shí)例 電極或極板 “ 壞死 ” 儀器中單個(gè)電極或整個(gè)極板電流損壞，導(dǎo)致電極資料損失和圖像被斷開(kāi)。對(duì)解釋影響從輕微嚴(yán)重到嚴(yán)重。 第二部分 微電阻率掃描成像測(cè)井 存在問(wèn)題資料實(shí)例 重復(fù)井段選在垂直縫和高角縫發(fā)育層段，由于儀器覆蓋率的問(wèn)題造成在垂直縫和高角縫重復(fù)不好，其他地方兩次測(cè)井很吻合，說(shuō)明儀器本身沒(méi)有問(wèn)題，不需要重測(cè)。 第二部分 微電阻率掃描成像測(cè)井 FMI成像準(zhǔn)確地確定了一個(gè)倒轉(zhuǎn)的沉積序列 月 2 井龍?zhí)督M正向序列與倒轉(zhuǎn)序列?成像測(cè)井資料進(jìn)行地層對(duì)比河漫亞相的小型槽狀交錯(cuò)層理組分、顆粒、形狀、排列、構(gòu)造、結(jié)構(gòu)、分選、膠結(jié) 井壁微電阻率圖象地質(zhì)特征提取和地質(zhì)應(yīng)用 （ 1）裂縫識(shí)別和評(píng)價(jià) 。 (2）進(jìn)行高分辨率薄層評(píng)價(jià)； （ 3）地層沉積環(huán)境分析； （ 4）地層層內(nèi)結(jié)構(gòu)分析和地質(zhì)構(gòu)造解釋； （ 5）幫助巖心定位和描述。 ◆ 側(cè)向測(cè)井 （ LateroLog） （ Dual LateroLog) (Micro LateroLog) (Azimuthal Resistivity Imager ARI) ◆ 感應(yīng)測(cè)井 （ Induction log) (Dual Induction log) ◆ 地層傾角測(cè)井 ◆ 微電阻率掃描成像測(cè)井 ◆自然電位測(cè)井 （ SP－ Spontaneous Potential) ◇ 井徑測(cè)井 （ CAL－ Caliper) 第二部分 電法測(cè)井技術(shù)介紹 自然電位測(cè)井－ SP 第二部分 自然電位測(cè)井－ SP曲線 自然電位測(cè)井－ SP 自然電位測(cè)井是在裸眼井中測(cè)量井軸上自然產(chǎn)生的電位變化，以研究井剖面地層性質(zhì)的一種測(cè)井方法。在所有測(cè)井方法中算是最簡(jiǎn)單的了，屬于電法測(cè)井范疇。 （ a ） （ b ）圖 2 4 自然電位測(cè)量原理（ ） （ ）圖 自然電位測(cè)量原理★ 將一個(gè)電極 M放入井中，另一個(gè)電極 N放在地面上接地，在不存在任何人工電場(chǎng)的情況下，用測(cè)量電位差的儀器測(cè)量 M電極相對(duì)于 N電極之間的電位差，便可以進(jìn)行自然電位測(cè)井。 ★ 由于固定在地面上的 N電極的電位是一個(gè)恒定值，因此，當(dāng) M電極在井內(nèi)移動(dòng)時(shí)，所測(cè)得的 M、 N之間的電位差的變化，即自然電位曲線，就反映了井內(nèi)某種電位值沿井身的變化情況。顯然，自然電位測(cè)井測(cè)的是相對(duì)電位值，即井內(nèi)不同深度上的自然電位與地面上某一點(diǎn)的固定電位值之差，而不是井中自然電位的絕對(duì)數(shù)值。實(shí)際上，這一數(shù)值也是不可能測(cè)得的。因此，自然電位測(cè)井曲線圖上，只用每厘米偏轉(zhuǎn)所代表的毫伏數(shù)和正負(fù)方向來(lái)表示井內(nèi)自然電位數(shù)值的相對(duì)高低，而無(wú)絕對(duì)的零線。 測(cè)量原理 第二部分 自然電位測(cè)井－ SP 自然電場(chǎng)的產(chǎn)生 井內(nèi)有自然存在的電位變化，說(shuō)明井內(nèi)有自然電流流動(dòng)，井內(nèi)必然有自然產(chǎn)生的電動(dòng)勢(shì)。實(shí)踐研究表明，能夠引起井內(nèi)自然電流，進(jìn)而產(chǎn)生一定電位值的自然電動(dòng)勢(shì)有多種，包括 擴(kuò)散電動(dòng)勢(shì)、擴(kuò)散吸附電動(dòng)勢(shì)、過(guò)濾電動(dòng)勢(shì)、氧化還原電動(dòng)勢(shì) 等。在沉積巖地區(qū)的油氣井中，主要遇到的是前三種，而且常常以前兩種占絕對(duì)優(yōu)勢(shì)。 1. 擴(kuò)散電動(dòng)勢(shì) 2. 擴(kuò)散吸附電動(dòng)勢(shì) 第二部分 自然電位測(cè)井－ SP 1. 擴(kuò)散電動(dòng)勢(shì) —— 地層水與泥漿之間的直接擴(kuò)散 圖 2 1 井中砂、泥巖接觸情況下離子擴(kuò)散及形成的電荷分布（ Cw ＞ C m f ）圖 井中砂、泥巖接觸情況下離子擴(kuò)散及形成的電荷分布（ ＞ ）mfwdd CCKE lg?wmfdd RRKE lg? —— 地層水通過(guò)泥巖與泥漿
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