[自然科學(xué)]第四章統(tǒng)計過程控制spc(編輯修改稿)
2025-11-12 22:56 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 以外； 9點(diǎn)落在中心線的同側(cè)； 6點(diǎn)遞增或遞減； 14點(diǎn)中相鄰點(diǎn)上下交替； 3點(diǎn)中有 2點(diǎn)落在中心線同側(cè)的 B區(qū)以外； 5點(diǎn)中有 4點(diǎn)落在中心線同一側(cè)的 C區(qū)以外； 15點(diǎn)在 C區(qū)中心線上下； 8點(diǎn)在中心線兩側(cè)而無一點(diǎn)在Ｃ區(qū)。 四、局部問題對策與系統(tǒng)改進(jìn) （ 1）局部問題 —— 處理由異常原因造成的質(zhì)量波動通常由過程人員負(fù)責(zé)處理 （ 2）系統(tǒng)改進(jìn) —— 解決由偶然原因造成的質(zhì)量波動需由高一級管理人員決策 第四節(jié) 過程能力與過程能力指數(shù) 一、過程能力（工序能力） ?是指過程加工質(zhì)量方面的能力 ， 用于衡量過程加工內(nèi)在一致性 。 ?過程能力決定于質(zhì)量因素：人 、 機(jī) 、 料 、法 、 環(huán) ， 而與公差無關(guān) 。 ?通常用 6σ表示過程能力 。 二、過程能力指數(shù)（工序能力指數(shù)） （ 一 ） 雙側(cè)公差的過程能力指數(shù) ?????6TT6TCp Lu（二）單側(cè)公差的過程能力指數(shù) 上單側(cè)： ????3TCp UU ? ?UT??????3TCp LL ? ?LT??（三）有偏移情況的過程能力指數(shù) ? Cpk=min(Cpu， Cpl) T22/TK???? （ 0K1） ? ? ? ? ????? 6 TK1CpK1Cp K其中： ε—— μ與公差中心 M偏移量 T—— 公差帶寬 T=TU— TL 則： K: μ 對 M的偏移度， ε=|M μ| ? （四） Cp和 Cpk的比較與說明 Cp—— 反映過程加工的一致性，即“質(zhì)量能力” Cpk—— 反映過程中心 μ與公差中心的偏移情況，是“質(zhì)量能力”與“管理能力”綜合的結(jié)果 ?將 Cp與 Cpk兩數(shù)值聯(lián)合使用，可對產(chǎn)品質(zhì)量有更全面的了解。 三 、 過程改進(jìn)策略 ?國家標(biāo)準(zhǔn) GB/T 40912021《 常規(guī)控制圖 》 給出過程改進(jìn)策略圖 ?包括： 1． 判斷過程是否處于統(tǒng)計控制狀態(tài) 2． 評價過程能力 四 、 過程性能指數(shù) PP與 PPK PP—— 無偏移過程性能指數(shù) PPU—— 無偏移上單側(cè)過程性能指數(shù) PPL—— 無偏移下單側(cè)過程性能指數(shù) PPK—— 有偏移過程性能指數(shù) PPK=min（ PPU， PPL）或 PPK=（ 1K） PP ?過程能力指數(shù) ?過程性能指數(shù) STLUP?6T
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