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正文內(nèi)容

傳統(tǒng)電子電路設(shè)計(jì)與eda設(shè)計(jì)之比較(編輯修改稿)

2025-07-11 15:06 本頁面
 

【文章內(nèi)容簡介】 了手工操作,產(chǎn)生了計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)的概念。 (2)八十年代為 CAE 階段,與 CAD 相比,除了純粹的圖形繪制功能外,又增加了電路功能設(shè) 計(jì)和結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),并且通過電氣連接網(wǎng)絡(luò)作者:陸?。?06 級電子信息科學(xué)與技術(shù)專業(yè)) 10 表將兩者結(jié)合在一起,以實(shí)現(xiàn)工程設(shè)計(jì),這就是計(jì)算機(jī)輔助 工程的概念。 CAE 的主要功能是:原理圖輸入,邏輯仿真,電路分析,自動布局布線, PCB 后分 析。 (3)九十年代為ESDA 階段。盡管 CAD/CAE 技術(shù)取得了巨大的 成功,但并沒有把人從繁重的 設(shè)計(jì)工作中徹底解放出來。在整個設(shè)計(jì)過程中,自動化和智能化程度還不高,各種 EDA 軟件界面千 差萬別,學(xué)習(xí)使用困難,并且互不兼容,直接影響到設(shè)計(jì)環(huán)節(jié)間的銜接?;谝陨喜蛔悖藗冮_始 追求貫徹整個設(shè)計(jì)過程的自動化,這就是 ESDA 即電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)自動化。 從目前的 EDA 技術(shù)來看,其發(fā)展趨勢是政府重視、使用普及、應(yīng)用文泛、工具多樣、軟件功能強(qiáng)大。 中國 EDA 市場已漸趨成熟,不過大部分設(shè)計(jì)工程師面向的是 PC 主板和小型 ASIC領(lǐng)域,僅有小部分(約 11%)的設(shè)計(jì)人員工發(fā)復(fù)雜的片上系統(tǒng)器件。 為了與臺灣和美國的設(shè)計(jì)工程師形成更有力的競爭,中國的設(shè)計(jì)隊(duì)伍有必要購入一些最新的 EDA 技術(shù)。 在信息通信領(lǐng)域,要優(yōu)先發(fā)展高速寬帶信息網(wǎng)、深亞微米集成電路、新型元器件、計(jì)算機(jī)及軟件技術(shù)、第三代移動通信技術(shù)、信息管理、信息安全技術(shù),積極開拓以數(shù)字技術(shù)、網(wǎng)絡(luò)技術(shù)為基礎(chǔ)的新一代信息產(chǎn)品,發(fā)展新興產(chǎn)業(yè),培育新的經(jīng)濟(jì)增長點(diǎn)。要大力推進(jìn)制造業(yè)信息化,積極開展計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)( CAD)、計(jì)算機(jī)輔助工程( CAE)、計(jì)算機(jī)輔助工藝( CAPP)、計(jì)算機(jī)機(jī)輔助制造( CAM)、產(chǎn)品數(shù)據(jù)管理( PDM)、制造資源計(jì)劃( MRPII)及企業(yè)資源管理( ERP)等。有條件的企業(yè)可開展 “ 網(wǎng)絡(luò)制造 ” ,便于合作設(shè)計(jì)、合作制造,參與國內(nèi)和國際競爭。開展 “ 數(shù)控化 ” 工程和 “ 數(shù)字化 ” 工程。自動化儀表的技術(shù)發(fā)展趨勢的測試技術(shù)、控制技術(shù)與計(jì)算機(jī)技術(shù)、通信技術(shù)進(jìn)一步融合,形成測量、控制、通信與計(jì)算機(jī)( M3C)結(jié)構(gòu)。在 ASIC 和 PLD 設(shè)計(jì)方面,向超高速、高密度、低功耗、低電壓方向發(fā)展。 外設(shè)技術(shù)與 EDA 工程相結(jié)合的市場前景看好,如組合超大屏幕的相關(guān)連接,多屏幕技術(shù)也有所發(fā)展。 中國自 1995 年以來加速開發(fā)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè),先后建立了幾所設(shè)計(jì)中心,推動系列設(shè)計(jì)活 動以應(yīng)對亞太地區(qū)其它 EDA 市場的競爭。 在 EDA 軟件開發(fā)方面,目前主要集中在美國。但各國也正在努力開發(fā)相應(yīng)的工具。日本、韓國都有 ASIC 設(shè)計(jì)工具,但不對外開放 。中國華大集成電路設(shè)計(jì)中心,也提供 IC設(shè)計(jì)軟件,但性能不是很強(qiáng)。相信在不久的將來會有更多更好的設(shè)計(jì)工具有各地開花并結(jié)果。據(jù)最新統(tǒng)計(jì)顯示,中國和印度正在成為電子設(shè)計(jì)自動化領(lǐng)域發(fā)展最快的兩個市場,年復(fù)合增長率分別達(dá)到了 50%和 30%。 計(jì)算機(jī)與信息工程學(xué)院畢業(yè)論文 11 EDA 技術(shù)發(fā)展迅猛,完全可以用日新月異來描述。 EDA 技術(shù)的應(yīng)用廣泛,現(xiàn)在已涉及到各行各業(yè)。 EDA 水平不斷提高 ,設(shè)計(jì)工具趨于完美的地步。 EDA 市場日趨成熟,但我國的研發(fā)水平沿很有限,需迎頭趕上。 EDA 的設(shè)計(jì)流程 ( Define Specification) 在 ASIC 設(shè)計(jì)之初,工程師們須根據(jù)產(chǎn)品的應(yīng)用場合,為 ASIC 設(shè)定一些諸如功能、操作速度、接口規(guī)格、環(huán)境溫度及消耗功率等規(guī)格,以做為將來電路設(shè)計(jì)時的依據(jù)。在這方面,目前已有廠商提供系統(tǒng)級仿真器( system level simulator),為系統(tǒng)設(shè)計(jì)提供不錯的解決方案;透過此類仿真器,工程師們可以預(yù)估系統(tǒng)的執(zhí)行效能,并可以最佳化的考 量,決定軟件模塊及硬件模塊該如何劃分。除此之外,更可進(jìn)一步規(guī)劃哪些功能該整合于 ASIC內(nèi),哪些功能可以設(shè)計(jì)在電路板上,以符合最大的經(jīng)濟(jì)效能比。 ( Design Description) 一旦規(guī)格制定完成,便依據(jù)功能( function)或其它相關(guān)考量,將 ASIC 劃分為數(shù)個模塊( module);此階段是整個設(shè)計(jì)過程中最要的關(guān)鍵之一,它直接影響了 ASIC 內(nèi)部的架構(gòu)及各模塊間互動的訊號,更間接影響到后續(xù)電路合成的效能及未來產(chǎn)品的可靠性。 決定模塊之后,便分交由團(tuán)隊(duì)的各個工程師,以 VHDL 或 Verilog 等硬件描述語言進(jìn)行設(shè)計(jì)-亦即功能的行為描述( behavioral description);為能明確及有效率地描述模塊的內(nèi)部功能,各模塊之下可能再細(xì)分成數(shù)個子模塊( submodule),直到能以可合成( synthesizible)的語法描述為止。這種一層層分割模塊的設(shè)計(jì)技巧,便是一般所謂的階層式設(shè)計(jì)( hierarchical design);這與早期直接以繪制閘級電路進(jìn)行設(shè)計(jì)的時代,所使用的技巧是相類似的。此一步驟所完成的設(shè)計(jì)描述,是進(jìn)入高階合成電路設(shè)計(jì)流程的叩門磚;習(xí)慣上,稱之為硬件描述語言的設(shè)計(jì) 切入點(diǎn)( HDL design entry)。 關(guān)于此一步驟,亦有相關(guān)的輔助工具相繼推出。 Design Book 便是其中的代表;它利用一般工程師熟悉的圖形接口-如狀態(tài)圖及流程圖,協(xié)助初接觸以硬件描述語言進(jìn)行設(shè)計(jì)的工程師,自動編寫出相對應(yīng)的硬件語言描述碼。效能如何筆者不敢斷言,但它能依使用者決定,整合慣用之其它 EDA 工具的特點(diǎn),倒是滿吸引人的地方 。 ( Function Verification) 完成步驟 2 的設(shè)計(jì)描述,接下來便是利用 VHDL 或 Verilog 的電路仿真器,針對先前的設(shè)計(jì)描述,驗(yàn)證其功 能或時序( timing)是否符合由步驟 1 所制定的規(guī)格。通常,稱這類驗(yàn)證為功能仿真( function simulation),或行為仿真( behavioral simulation),而作者:陸健( 06 級電子信息科學(xué)與技術(shù)專業(yè)) 12 這類的 HDL 電路仿真器,則通稱為行為仿真器( behavioral simulator)。 對于這一類功能驗(yàn)證的仿真而言,仿真器并不會考慮實(shí)際邏輯閘或聯(lián)機(jī)( connenct wires)所造成的時間延遲( time delay)、閘延遲( gate delay)及傳遞延遲( transport delay)。取而代之的是,使用單一延 遲( unit delay)的數(shù)學(xué)模型,來粗略估測電路的邏輯行為;雖然如此無法獲得精確的結(jié)果,但其所提供的信息,已足夠作為工程師,針對電路功能的設(shè)計(jì)除錯之用。 為了能順利完成仿真,在此,您還需要準(zhǔn)備一分稱為 測試平臺 ( test bench)的 HDL 描述 ?。在這份測試平臺的描述檔中,必須盡可能地細(xì)描述所有可能影響您設(shè)計(jì)功能的輸入訊號組合,以便激發(fā)出錯誤的設(shè)計(jì)描述位于何處。幸運(yùn)的話,或許在幾次修改之后,就可得到您想要的結(jié)果,順利進(jìn)入下一個步驟。 ( Logic synthesis) 確定設(shè)計(jì)描述 之功能無誤之后,便可藉由合成器( synthesizer)進(jìn)行電路合成。合成過程中,您必須選擇適當(dāng)?shù)倪壿嬮l組件庫( logic cell library),作為合成邏輯電路時的參考依據(jù)。組件庫的取得,可能直接來自于您的 ASIC 供貨商( ASIC vendor, 負(fù)責(zé)協(xié)助客戶設(shè)計(jì) ASIC 的廠商)、購自其它組件庫供貨商( thirdparty ASIC library vendor),或是為了某種特殊原因,您亦可能考慮自行建立。 事實(shí)上,組件庫內(nèi)含的邏輯閘信息非常廣泛,大致上包括了以下各項(xiàng)。 cell schematic,用于電路合成,以便產(chǎn)生邏輯電路的網(wǎng)絡(luò)列表( list)。 timing model,描述各邏輯閘精確的時序模型;組件工程師會萃取各邏輯閘內(nèi)的寄生電阻及電容進(jìn)行仿真,進(jìn)而建立各邏輯閘的實(shí)際延遲參數(shù)。其中包括閘延遲( gate delay) 、輸出入的延遲( input delay / output delay)及所謂的聯(lián)機(jī)延遲( wire delay)等;這在進(jìn)入邏輯閘層次的電路仿真,以及在 Pamp。R 之后的仿真都會使用到它。 routing model,描述各邏輯閘在進(jìn)行繞線時的限制,作為 繞線工具的參考資料。 silicon physical layout,在制作 ASIC 的光罩( mask)時會使用到它。 使用合成器有幾個需要注意的事項(xiàng),其一就是最佳化( optimize)的設(shè)定。根據(jù)步驟 1 所制定的規(guī)格,工程師可對合成器下達(dá)一連串限制條件( constrain),根據(jù)這些條件,合成器便會自動合成滿足您規(guī)格要求的邏輯電路。最常見的三個限制條件(注 3)有:操作速度、邏輯閘數(shù)及功率消耗。事實(shí)上,這三項(xiàng)限制條件之間是呈現(xiàn)互相矛盾的關(guān)系;也就是說:一旦您所下的限制條件太過嚴(yán)苛,將使電路合成的速度變得非常 的慢,更甚者,有可能在花費(fèi)大把時間后,仍得不到您想要的結(jié)果。 計(jì)算機(jī)與信息工程學(xué)院畢業(yè)論文 13 design entry 硬件語言設(shè)計(jì)描述文件,其語法的編寫風(fēng)格( HDL coding style) ,亦是決定合成器執(zhí)行效能的另一個因素。事實(shí)上,無論是對 VHDL 或是 Verilog 而言,合成器所支持的 HDL 語法均是有限的;過于抽象的語法只適用于編寫 cell library,或是做為系統(tǒng)規(guī)劃評估時的仿真模型所用,而不為合成器所接受。 此外,由于一般合成器的最佳化算法則,都只能達(dá)到區(qū)域性最佳化( local optima);因此,對于過分刁鉆的語法 描述,將影響合成器在最佳化過程的執(zhí)行時間。 ( GateLevel Netlist Verification) 由合成器產(chǎn)生的 list,會在這個階段進(jìn)行第二次的電路仿真;一般稱之為邏輯閘層次的電路功能驗(yàn)證,或稱為 Pamp。R 前的仿真,簡稱前段仿真( presimulation)。在此階段,主要的工作是要確認(rèn),經(jīng)由合成器所合成的電路,是否如同原始的設(shè)計(jì)描述般,符合您的功能需求;利用邏輯閘層次仿真器( gatelevel simulator),配合在功能驗(yàn)證時已經(jīng)建立的 test bench,便可達(dá)到這個目的。 這里出現(xiàn)兩個新的名詞: VITAL( VHDL Initiative Toward ASIC Library)、 library 及Verilog library;兩者均可視為先前所提及的 cell library 當(dāng)中的 timing model。在presimulation 中,一般只考慮閘延遲,而聯(lián)機(jī)延遲在此處是不予考慮的(通常在電路合成階段,是無法預(yù)測實(shí)際聯(lián)機(jī)的長度,因此也就無法推測聯(lián)機(jī)所造成的延遲)。 時序變異( timing variation)是此處經(jīng)常出現(xiàn)的發(fā)生錯 誤,這當(dāng)中包括了,設(shè)定時間( setup time)或保持時間( holding time)的不符合,以及脈沖干擾( glitch)現(xiàn)象的發(fā)
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