【文章內(nèi)容簡介】 c o s80lg2062lg20 ??????dB? （這里 對 K2值探頭 ? β=176。 ， ? 故忽略 =10mm。） mmtgtg 1000 ?? ????89c os40 ??1 78c os80 ??2)表面耦合與底面反射損失差測試。 ? 一發(fā)一收兩斜探頭置于 CSKⅢ A（T=30mm）或 CSKⅡ A（ T=T1）在相距1P時測出回波高 H1（ dB），再將探頭移至工件上，相距 1P時同樣測出回波高 H2（ dB）。 ? 則表面耦合與底面反射損失差△ 1為： ? 表面與底面反射損失：△ 1（ dB） =（ H1H2△ 2△ 3） dB ? 擴散（聲程差引起）： （ T1—— 試塊厚； T2—— 工件厚） ? 材質(zhì)衰減引起：△ 3=α2X2α1X1 ? 當(dāng)試塊 α1≤， ? △ 3=α2 X2=α2 ? （單探頭探傷時 α2為來回雙程，故 ， 不為 。） ?cosT?c os2 TX ??c o s2 T? （見書 P289） ? 1）鋸齒形掃查：探頭對準(zhǔn)焊縫檢測沿鋸齒形路線掃查。 ? 2）左右掃查與前后掃查：探頭對準(zhǔn)焊縫沿左右與前后路線掃查。 ? 3）轉(zhuǎn)角掃查：探頭在某一位置對焊縫作轉(zhuǎn)角掃查。 ? 4）環(huán)繞掃查：探頭對準(zhǔn)焊縫中某一點，以此點為中心作環(huán)繞掃查。 ? 5）平行、斜平行掃查：探頭平行或斜平行于焊縫掃查。 ? 6）串列式掃查：用一發(fā)一收兩頭對準(zhǔn)焊縫檢測，作串列式掃查。 ? ? 1）聲程定位法 ? 根據(jù)聲程，定出缺陷水平距離和深度。（缺陷聲程由缺陷在掃描線上位置求得）。 ? 設(shè)聲程為 X，水平距離 L，深度 d，則，L=Xsinβ； d=Xcosβ。 ? 在定位時，根據(jù) X數(shù)值，判斷一次波或二次波檢測。 ? 2）水平定位法 ? 定出缺陷水平距離 ?和深度 d。 ? 水平距離 Lf直接由水平掃描線上缺陷波位置根據(jù)水平掃描線比例得出。 ? Lf=n*Γf， n— 水平掃描比例， 1:n。 ? 深度 d： ? 一次波： ? 二次波： Kd f??KTd f??? 23）深度定位：（書 P199） 儀器按深度 1:n 調(diào) 水平距離： L=Knτf 缺陷深度一次波發(fā)現(xiàn)： d=nτf 二次波發(fā)現(xiàn)： d=2Tnτf 對數(shù)字式探傷儀，可直接得水平距離和深度值，不必計算，儀器內(nèi)將自動換算，但換算原理遵循上面的表示式。 ? ? 1）缺陷幅度測定： ? 檢測中找到缺陷最高波，將缺陷波調(diào)到基準(zhǔn)波高），讀出衰減器讀數(shù)。定出缺陷當(dāng)量值，例 Φ1 6— dB。 ? 再與被探工件 DAC曲線中評定線，定量線、判廢線比較，定出缺陷波所在區(qū)域。 ? 2）根據(jù)缺陷波區(qū)域決定對缺陷測長方法。 ? Ⅱ 區(qū)：缺陷波一個高點：用 6dB法測長。 ? 缺陷波多個高點： □ 用端點 6dB法測長。 ? GB11345用端點峰值法測長。 ? Ⅰ 區(qū)：移動探頭使缺陷波降到評定線的絕對靈敏度測長。 ? Ⅲ 區(qū)：波高位于區(qū) Ⅲ 已判廢（不管多長），但在發(fā)報告和返修仍要測長，可用 6dB測。 ? 3）指示長度計量 ①指示長度小于 10mm以 5mm計。 ② 相鄰兩缺陷在一直線上相鄰間距 較小缺陷長度，以兩個缺陷之和作為一個缺陷指示長度（不含間距）。 □分為 Ⅰ 、 Ⅱ 、 Ⅲ 級，按標(biāo)準(zhǔn)中表 23焊接接頭質(zhì)量分級規(guī)定執(zhí)行。 實際評定時，根據(jù)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)，和缺陷實際情況評定。 焊縫超聲檢測質(zhì)量評級一般遵循以下程序： 1）對所探焊縫按標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的方法和探傷工藝準(zhǔn)確測出缺陷的波幅、區(qū)域、指示長度，及位置分布。 2）根據(jù)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)的質(zhì)量評級要求和規(guī)定，對所探焊縫評定級別，評定時程序如下： ①先評不允許存在的缺陷，發(fā)現(xiàn)此種缺陷均不合格。 不允許存在的缺陷大致有以下： （ 1） 反射波高位 Ⅲ 區(qū)。（判廢線及以上區(qū)域 ?（ 2）檢驗人員判定為裂紋等危險性缺陷者： ? □低于評定線的缺陷只要判為裂紋也不允許。□ ?（ 3）位于 Ⅱ 區(qū)的缺陷指示長度超過各標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定級別限值： ? 這里二層意思：一是，對未規(guī)定合格級別的檢驗?！鮿t評為 Ⅲ 級不合格，□ ? 二是，規(guī)定合格級別的檢驗，如規(guī)定 Ⅰ 級合格，則評為 Ⅱ 級就不合格。 ②允許存在的缺陷 （ 1）波高位于 Ⅰ 區(qū)的非裂紋類缺陷。 （ 2）規(guī)定合格級別范圍內(nèi)，波高位于 Ⅱ區(qū)，指示長度為超過合格級別規(guī)定長度的缺陷。 ? 1）曲面工件 直徑小于或等于 500mm的承壓設(shè)備。 2）檢測條件選擇 （ 1）探頭 應(yīng)根據(jù)工件曲率和材料厚度選擇 K值，選小晶片探頭。對于縱縫應(yīng)考慮幾何臨界角的限制，確保聲束能掃查到整個焊接接頭，探頭接觸面應(yīng)修磨，此時注意探頭入射點和 K值變化，并用曲率試塊作實際測定。對于環(huán)縫，一般無需修磨，若耦合不好時，可修磨探頭。 （ 2）對比試塊 直接采用 CSK系列標(biāo)準(zhǔn)試塊時，缺陷定位定量時考慮修正。也可采用曲率試塊，其結(jié)構(gòu)形式和人工反射體的設(shè)置可參考 CSK系列標(biāo)準(zhǔn)試塊確定。 若曲率半徑 R ≤ W2/4則 b ≥ 2S/D0 式中 b—— 試塊寬度， mm λ—— 聲波波長， mm S—— 聲程， mm D0—— 聲源有效直徑， mm 若檢測曲率半徑 R≥W2/4 縱縫：對比試塊的曲率半徑與檢測面曲率半徑之差應(yīng)小于 10%； 環(huán)縫：對比試塊的曲率半徑為檢測面曲率半徑的 ； 3）掃查：與對接接頭相同。 4）缺陷定位定量 縱縫：應(yīng)注意顯示屏指示的缺陷深度或水平距離與缺陷實際的徑向埋藏深度或水平距離弧長的差異，必要時應(yīng)進行修正。 環(huán)縫：定位定量與對接接頭基本相同。 ? ? 1）結(jié)構(gòu) ? 插入式：斜探頭在筒體外側(cè)或內(nèi)側(cè)檢測焊縫，也可在大接管內(nèi)側(cè)檢測，直探頭在接管內(nèi)側(cè)檢測焊縫。 ? 安放式：斜探頭在接管外側(cè)或內(nèi)側(cè)檢測焊縫，直探頭在筒體內(nèi)側(cè)檢測焊縫。 ? 實際探傷時，可選擇一種或幾種組合方式探傷。 ? 2）檢測條件 ? ①單晶縱波直探頭 ? 雙晶縱波直探頭 ? 單晶橫波斜探頭， K值可根據(jù)壁厚選擇，但需保證不漏檢危險性缺陷，在 K1～ 、 、 3之間。選擇探頭原則： ? 考慮到各種類型缺陷出現(xiàn)的可能性。 ? 使聲束盡可能垂直于焊縫中主要缺陷。 ? ② 檢測頻率 2MHZ～ 5MHZ ? 探頭與工件接觸面： ? ，雙晶直探頭，探頭與工件接觸面尺寸， R為檢測面曲率 ? 半徑。（當(dāng)時，應(yīng)采用與探傷面曲率半徑相同的對比試塊）?！? ? a或 b。 ? [a— 斜探頭接觸長（周向檢測）； b— 斜探頭接觸寬（軸向檢測）； D— 檢測面曲面直徑 ] ? 此式為 JB314482鍋爐大口徑管座角焊縫超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)中應(yīng)用。 2Dba ?或? ③耦合劑與表面 ? 表面粗糙度 Ra≤。耦合劑：機油、化學(xué)漿糊等。 ? ④試塊 ? 材質(zhì)與工件相同或相近。 ? 寬度 （ λ— 波長； S— 聲程；Do— 聲源有效直徑） ? 避免側(cè)壁干涉。 ? JB/T4730202 GB1134 GB/T158395均按此規(guī)定。 oDSb ?2?? 直探頭試塊：表面粗糙度、試塊材質(zhì)、檢測面曲率半徑與工件相同，反射體為平底孔，孔徑為：評定線 Φ2mm，定量線Φ3mm，判廢線 Φ6mm。 ? 斜探頭試塊：與平板對接焊縫相同。 ? 3）儀器調(diào)整 ? ① 掃描線比例：調(diào)整時最大聲程位于掃描線后半部分?！? ? 直探頭：用試塊或已知尺寸的工件底面調(diào)整。 ? 斜探頭：用 CSKⅠ A，或 Ⅱ W2，或半園試塊按聲程法調(diào)整掃描比例，也可按深度或水平比例調(diào)整。 ? 不管用何種方法，均應(yīng)進行缺陷位置確定時與平板工件進行對比修正。 ? 應(yīng)預(yù)先根據(jù)工件尺寸、形狀、探頭位置計算出缺陷出現(xiàn)時的聲程位置（或水平及深度位置值）計算出相對平板工件位置可修正的專門用于檢測工件的表示式來確定位置。 ? ② 檢測靈敏度調(diào)整 ? 用工件園柱形曲底面作參數(shù)反射體調(diào)整，用當(dāng)量計算法確定靈敏度，應(yīng)選三個反射波幅小于 4dB點進行測試，并以該三點的算術(shù)平均值進行靈敏度標(biāo)準(zhǔn)。 ? 也可用曲面試塊校靈敏度。 ? 4）距離 —— 波幅曲線 ? 直探頭距離 —— 波幅曲線及各線靈敏度要求可根據(jù)不同檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定要求確定。 ? 斜探頭距離 —— 波幅曲線與各標(biāo)準(zhǔn)平板對接焊縫相同。 ? 5）缺陷測定 ? 當(dāng)量： ? 直探頭探傷：測定缺陷平底孔當(dāng)量直徑值可用試塊或當(dāng)量計算尺獲得。 ? 斜探頭探傷與平板相同處理。 ? 指示長度： ? 根據(jù)缺陷最高反射波當(dāng)量值，超過定量線的缺陷應(yīng)測指示長度，并要確定缺陷位置。 ? 測長方法： ? 缺陷波只有一個高點，用 6dB法； ? 缺陷波有多個高點，□端點 6dB□ 法。 ? 相鄰缺陷累計相加方法：□ ? □相鄰兩缺陷在一直線上，其間距小于其中較小的缺陷長度時，以兩缺陷長度之和作為其指示長度（不考慮間距）。 ? 6）質(zhì)量驗收 ? 總原則： ? 不允許存在的缺陷：① 反射波幅位于 Ⅲ 區(qū)或判廢線。 ? ② 檢測人員判定為裂紋等危害性缺陷。 ? ③ 非危險性缺陷單個長度和累計長度超過合格級允許范圍。 ? 允許存在的缺陷：① 非危險性缺陷，單個或累計長度未超過合格級別值。 ? ② 位于 Ⅰ 區(qū)或評定線以下非危險性缺陷。 ? 具體各標(biāo)準(zhǔn)有各自的規(guī)定。 ? ? 1） T型焊縫結(jié)構(gòu)與探傷方法 腹板4翼板123圖7 4圖 14 T型焊縫探頭布置圖 ? 直探頭位置 1：檢測腹板和翼板間未焊透。翼板側(cè)焊縫隙下層狀撕裂。 ? 斜探頭位置 2：檢測焊縫中缺陷 [未焊透及其它（也可檢測橫向缺陷）缺陷 ]用一次波檢測，常用 45176。 。 ? 斜探頭位置 3：用二次波檢測焊縫中缺陷靈敏度比位置 2低。 ? 斜探頭位置 4：用兩種 K值檢測，在腹板上用一次波和二次波檢測焊縫中缺陷，及腹板側(cè)坡口邊緣未熔合與熱影響區(qū)裂紋。 對角焊縫，直探頭位置 1和斜探頭在腹板上位置 2和 3檢測。常用 45176。 、 63176。 或兩種K值探頭 K1， K2。 腹板翼板231圖7 5圖 16 角接頭檢測探頭布置圖 ? 2） 檢測條件選擇 ? 頻率： ? 直探頭： Φ10和 Φ14晶片，盲區(qū)不大于5mm ? 斜探頭：探頭 K值或折射角與板厚關(guān)系：腹板厚 25mm，用 ，腹板厚 25～ 50mm，用 ~。腹板厚 50mm時，用 ~。 ? 對鍋爐 T型：晶片直徑尺寸 ≤14mm，方晶邊長 ≤13mm， K=～ ，前沿 ≤10mm。 ? 3）儀器調(diào)整 ? ①掃描線比例：直探頭直接在 T型焊縫上調(diào)比例，利用翼板厚度調(diào)。斜探頭比例調(diào)法與平板工件相同。 ? 斜探頭用 CSKⅢ A或 RBT試塊掃深度 2:1或水平 2:1或水平 1:1。 ? RBT為鍋爐 T型接頭斜探頭專用試塊，見鍋爐標(biāo)準(zhǔn) P14，附錄 A。如圖 76。 ? 反射體為 Φ2 30橫孔。 圖7 6圖 17 RBT專用 試塊 ? 或 5mm ? ? 最小 5mm 21 T???? ?? T4 mmL 52 ?43 t??? ②靈敏度調(diào)整 ? 直探頭：用翼板大平底的底波或平底孔試塊，□評定靈敏度