【正文】 3）面板曲線制作：以 CSKⅢ A為例： ①測出探頭 K值、入射點。 ? 則只要將衰減器讀數減少 9+5=14dB，如作曲線時讀數為 30dB，則此時只要將衰減讀數調為 3014=16dB，就調好了靈敏度。用衰減測出 H1H2=△ dB值 =（ NN′） dB。 ? 則衰減系數 ??C O SHH4021 ????? ? （ S1和 S2為橫波聲程；為斜探頭內等效聲程） 1112c o s40c o s80lg20lg20????????? SS? （如忽略，則此式約 ? 等于：） ????????tgtgtgtg*c o s40*c o s80lg2000???2lg20c o s40c o s80lg2062lg20 ??????dB? （這里 對 K2值探頭 ? β=176。 ? 4）環(huán)繞掃查：探頭對準焊縫中某一點，以此點為中心作環(huán)繞掃查。 ? 水平距離 Lf直接由水平掃描線上缺陷波位置根據水平掃描線比例得出。 ? 缺陷波多個高點： □ 用端點 6dB法測長。 焊縫超聲檢測質量評級一般遵循以下程序： 1）對所探焊縫按標準規(guī)定的方法和探傷工藝準確測出缺陷的波幅、區(qū)域、指示長度，及位置分布。 ? 1）曲面工件 直徑小于或等于 500mm的承壓設備。 環(huán)縫：定位定量與對接接頭基本相同。（當時，應采用與探傷面曲率半徑相同的對比試塊）。 oDSb ?2?? 直探頭試塊：表面粗糙度、試塊材質、檢測面曲率半徑與工件相同，反射體為平底孔，孔徑為：評定線 Φ2mm，定量線Φ3mm，判廢線 Φ6mm。 ? 也可用曲面試塊校靈敏度。 ? 6）質量驗收 ? 總原則： ? 不允許存在的缺陷：① 反射波幅位于 Ⅲ 區(qū)或判廢線。 ? 斜探頭位置 2：檢測焊縫中缺陷 [未焊透及其它（也可檢測橫向缺陷）缺陷 ]用一次波檢測，常用 45176。 腹板翼板231圖7 5圖 16 角接頭檢測探頭布置圖 ? 2） 檢測條件選擇 ? 頻率： ? 直探頭： Φ10和 Φ14晶片，盲區(qū)不大于5mm ? 斜探頭：探頭 K值或折射角與板厚關系：腹板厚 25mm，用 ，腹板厚 25～ 50mm，用 ~。 ? 反射體為 Φ2 30橫孔。 ? △檢測橫向缺陷、斜探頭位置 2平行焊縫掃查斜探頭位置 4斜平行焊縫掃查。 ②缺陷反射波幅位于評定線以上均應予以評定。 ? （ 4）檢測人員判定為裂紋、未焊透、未熔合等危害性缺陷。 ? 2） 檢測條件選擇 ? ① 探頭 ? 頻率： 5MHZ ? 晶體： 10 10， 8 12， 8 8 ? K值： （ ， ， 1）； β=45176。模擬試塊適用于 Y型管接點焊縫探傷。 ? 檢測靈敏度以作出 ——波幅曲線基礎理上提高 6dB，并再適當進行表面補償。 ? 3）輸送的連續(xù)性。采用的試塊型號為 GSGS GS GS4。評定線與定量線之間（包括評定線）為 I區(qū)，定量線與判 d） 線之間（包括定量線）為 Ⅱ 區(qū)，判廢線及其以上區(qū)域為 Ⅲ 區(qū) DAC曲線 2）靈敏度選擇 不同管壁厚度的距離 波幅曲線靈敏度應符合下表的規(guī)定。超聲波傳播困難，出現林狀反射晶間反射。換上縱波斜探頭，將 R50園弧波 B1對準 5格，即完成聲程 1:1。 ? 經評定，判斷為裂紋等危害性缺陷和超過合格級別允許長度缺陷不允許存在，反射波高位于 Ⅰ 區(qū)非裂紋類缺陷及反射波高位于 Ⅱ 區(qū)且指示長度 L≤T/3 ? （最大為 10mm），評為 Ⅰ 級允許存在。 ? ? 1）堆焊層內缺陷檢測 ? ① 探頭： 1）縱波雙晶直探頭及雙晶斜探頭， ,K＝ （ β＝ 75176。 ? （ 3）縱波斜探頭，在試塊基板一側移動探頭使 80%滿幅。 ? ③ 檢測靈敏度 ? （ 1）單晶直探頭：探頭在 T3試塊母材（基板）一側探傷使 Φ10mm平底孔回波幅度為80%滿幅。缺陷直徑在 25mm～ 40mm范圍內的未結合區(qū)評為 Ⅱ級，是否允許存在根據檢測委托確定。 ? ? 鋁中縱波聲速比鋼大， 衰減比鋼小 ? 鋁中橫波聲速比鋼小 ? 焊縫中缺陷與鋼焊縫相似。利用一次波，也可利用串列式探傷 ? 5） DAC幅曲線 ? 在 Φ5橫孔試塊上測試： 評定線 定量線 判廢線 Φ218dB Φ212dB Φ24dB ? 6）掃查 ? 掃查靈敏度不低于評定線 ? 檢測前清除探頭移動區(qū)飛濺，銹蝕油垢并打磨平滑，檢測時一般不加表面補償?！?。 ? 高分辨率。 ? 單晶、雙晶線聚焦探頭 —— 靈敏度高。 ? 2)缺陷判別與測定 ? 缺陷判定：當壁厚 δ≤15mm時，以缺陷水平距離位置判別缺陷。 ? 測長的指示長度為沿管子外徑園周長，其實際指示長度 LS為 LS=L （ RH） /R，這里 L—— 探頭沿管子外園移動距離， R——管子外半徑， H—— 缺陷離外表面深度。 ? ? 1)不允許存在缺陷為：反射波幅位于 III區(qū)的缺陷和判定為裂紋等危險性缺陷。 3）檢測目的。但對能判定為危害性的缺陷，即使位于定量線及定量線以下，也應對其進行上述參數的測定。如無法確定端點衍射回波和端部最大回波，可采用 6dB法進行測定，測定方法見附錄 K（規(guī)范性附錄）。 C)對在用承壓設備超聲檢測發(fā)現的缺陷，應與制造和安裝的原始資料或上一檢測周期的檢測報告核對，以進一步判定本次發(fā)現的缺陷是否是新產生的，以及是否有擴展。當發(fā)現超標缺陷后，應按第 條的有關規(guī)定進行處理。記錄應由操作人員和責任人員簽字。 3）缺陷類型的確定 A) 對超標缺陷應根據缺陷的波幅高度、位置、取向、指示長度、自身高度，再結合缺陷靜態(tài)波形、動態(tài)波形、回波包絡線和掃查方法，以及焊接接頭的焊接方法、焊接工藝、工件結構、坡口形式、材料特性熱處理狀態(tài)來判斷缺陷類型和性質。缺陷高度方向的尺寸，可采用 AVG法進行估計。要求測定缺陷高度、位置、密集程度，對缺陷定性。單個根部未焊透長度為（最小為 6mm）且累計長度≤15%園周長，且 40mm評為 II級，超過上述數據評為 III級。在靠近探頭一側坡口邊緣有未熔合。 ? ③僅一側檢測在焊縫中心線處為錯邊。 ? 2)靈敏度 壁厚 評定線 定量線 判廢線 ≤8mm Φ2 2016dB Φ2 2016dB Φ2 2010dB 8mm～15mm Φ2 2016dB Φ2 2013dB Φ2 207dB ＞ 15mm Φ2 20－16dB Φ2 20－10dB Φ2 20－4dB ? 3)檢測面打磨范圍： 79倍壁厚，實際50~70mm。 ? ④ K值：壁厚 4～ 8mm時，采用 K=～ ；壁厚 8～ 15mm時，采用 K=2～ ；壁厚＞ 15mm,采用 K＝ ～ 。曲率半徑小，管壁厚度小。 ? 指示長度小于 10mm按 5mm計。 ? ? 1）入射點：在鋼制 CSKⅠ A試塊上測，或在鋼制（或鋁制）半園試塊上測。 ? ③驗收： ? 按 JB/T47302021標準不允許存在超過 Ⅱ級及發(fā)現裂紋等危害性缺陷。 ? 縱波雙晶探頭在工件堆焊層側掃查。 ⑤缺陷測量 ? 發(fā)現缺陷后用試塊比較當量大小，用6dB法測指示長度。 ? 母材側檢測， T2試塊；反射體為 Φ Φ3和Φ4平底孔。此缺陷取向：基本平行于母材表面。 ? 4）缺陷指示長度測量 ? 反射波高位于定量線及以上缺陷只有一個高點時用 6dB法測指示長度，有多個高點時，用端點 6dB法測指示長度。 必要時用 60176。 缺陷指示長度修正： I＝ L （ R－ H） /R 式中： L—— 探頭左右移動距離， mm； R—— 管子外徑， mm； H—— 缺陷距外表面深度（指示深度）， mm。 探頭移動區(qū)應大于 。 ? 1）探頭：一般 5MHz，壁厚大于 15mm，用。 ? ④ 缺陷指示長度：用 6dB、 20dB或端點峰值法測。實際調節(jié)時板厚 CSKⅠ A上調（也可在其它半園試塊上調）。 ? 用 β=70176。 ? ②檢測面選擇，選擇支管外表面為檢測面。缺陷反射波高位于 I區(qū)，以評定線為基準絕對靈敏度測長。 ? 斜探頭位置 4：缺陷波可根據掃描線上位置，與探頭到焊縫中水平距離得出。 ? RBT：評定靈敏度 Φ218，定量 Φ212，判廢 Φ24。斜探頭比例調法與平板工件相同。 對角焊縫，直探頭位置 1和斜探頭在腹板上位置 2和 3檢測。 ? ② 位于 Ⅰ 區(qū)或評定線以下非危險性缺陷。 ? 斜探頭探傷與平板相同處理。 ? 斜探頭：用 CSKⅠ A，或 Ⅱ W2，或半園試塊按聲程法調整掃描比例，也可按深度或水平比例調整。耦合劑：機油、化學漿糊等。 ? 2）檢測條件 ? ①單晶縱波直探頭 ? 雙晶縱波直探頭 ? 單晶橫波斜探頭， K值可根據壁厚選擇，但需保證不漏檢危險性缺陷，在 K1～ 、 、 3之間。 （ 2）對比試塊 直接采用 CSK系列標準試塊時，缺陷定位定量時考慮修正?！? ?（ 3）位于 Ⅱ 區(qū)的缺陷指示長度超過各標準規(guī)定級別限值： ? 這里二層意思：一是，對未規(guī)定合格級別的檢驗。 ? 3）指示長度計量 ①指示長度小于 10mm以 5mm計。定出缺陷當量值，例 Φ1 6— dB。（缺陷聲程由缺陷在掃描線上位置求得）。 ? 則表面耦合與底面反射損失差△ 1為： ? 表面與底面反射損失：△ 1（ dB） =（ H1H2△ 2△ 3） dB ? 擴散（聲程差引起）： （ T1—— 試塊厚； T2—— 工件厚） ? 材質衰減引起：△ 3=α2X2α1X1 ? 當試塊 α1≤， ? △ 3=α2 X2=α2 ? （單探頭探傷時 α2為來回雙程，故 ， 不為 。 ? 下表面反射聲能損失差：用衰減測出 H1H2=△ 2dB值。 ? 衰減器讀數為 30dB時，缺陷回波低于Φ1 6參數線。找到最高回波，并在面板上標出相應波高位置。 ? 2） DAC曲線應用 ①調整探傷靈敏度。 掃描線按水平或深度 1:1。 ? X為正值：用微調向又將 Φ2孔波移至約Y+3X處。 ⑤用水平旋鈕將 B波調至 Y處。 2）水平法 使熒光屏水平刻度值直接與反射體的水平投影距離成比例。 斜平行掃查焊縫雙側。） ? 雙孔法：比較準確 dLK ?圖7 1圖 8 雙孔法測定 K值 ? ? 孔深 d1和 d2應和板厚相當。 時，往復透過率 14~17%。 ? 4） K值選擇： ? 選擇原則： 三條原則 ①使聲束掃查到整個焊縫截面。 水：流動性好、傳輸方便、價格便宜，但易流失、使焊縫生銹。 d)應進行橫向缺陷的檢測。兩種探頭的折射角相差應不小于 10176。 ? d) 應進行橫向缺陷的檢測?？捎靡环N K值探頭采用直射波法和一次反射波法在對接焊接接頭的單面單側進行檢測。屬低溫開裂，撕裂的溫度不超過 400℃ ，產生層狀撕裂的原因主要是由軋制鋼材內部存在分層狀夾雜物（特別是硫化物、夾雜物等）和在焊接時產生垂直于軋制方向的應力， ? 使焊接熱影響區(qū)產生“臺階”狀開裂，可穿晶發(fā)展。多邊化裂紋大多產生在純金屬或單相奧氏體合金焊縫或焊接熱影響區(qū)。熱裂紋是由于焊接工藝不當在施焊時產生的；冷裂紋是由于焊接應力過高、焊條焊劑中含氫量過高或焊件拘束應力過大造成的，常在焊縫冷卻到一定溫度后產生，因此又稱為延遲裂紋：再熱裂紋一般是焊件在焊后再次加熱（消除應力或改善組織的加熱過程）而產生的。未焊透：是指焊接