x射線光電子能譜儀介紹(編輯修改稿)
2025-06-15 16:46 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 ； (直徑小于 8mm)，如無法成形，粉末要研細(xì)，且不少于 。 ? 注意事項(xiàng) ，可使用分析純的異丙醇，丙酮，正己烷，或三氯甲烷溶液清洗以達(dá)到清潔要求； ，以免硅樹脂或纖維污染樣品表面； 3. 制備或處理樣品時(shí)使用聚乙烯手套，以免硅樹脂污染樣品表面。 樣品制備 制備過程 液體 氣體 固體 冷凍 氣化 塊狀：直接夾或粘在樣品托上 粉末：可以粘在雙面膠帶上或 壓入銦箔（或金屬網(wǎng)）內(nèi)，也 可以壓成片再固定在樣品托上 采用差分抽氣的方法把氣體 引進(jìn)樣品室直接進(jìn)行測(cè)定 校正或消除樣品的荷電效應(yīng) 鍍金法，電中和法，內(nèi)標(biāo)法，外標(biāo)法等 真空加熱， Ar離子刻蝕 除去表面污染物 主要特點(diǎn) ? 適用于固、液、氣體樣品 ? 可以測(cè)定除 H、 He以外的全部元素 ? 相鄰元素的同種能級(jí)的譜線相隔較遠(yuǎn)，相互干擾少，元素定性的標(biāo)示性強(qiáng) ? 能夠觀測(cè)化學(xué)位移，進(jìn)行原子結(jié)構(gòu)分析和化學(xué)鍵研究 ? 超微表面分析（深度約 20197。 ） ? 樣品用量少（約 108g） ? 靈敏度高（可達(dá) 1018g） 主要功能 ? 利用結(jié)合能進(jìn)行定性分析 ? 利用化學(xué)位移進(jìn)行價(jià)態(tài)分析 ? 利用強(qiáng)度信息進(jìn)行定量分析 ? 利用表面敏感性進(jìn)行深度分布分析 ? 結(jié)合離子槍進(jìn)行深度分布分析 ? 利用小面積或成像 XPS可進(jìn)行元素成像分析 數(shù)據(jù)分析 ? 定性分析 首先掃描全譜，由于荷電存在使結(jié)合能升高，因此要通過 C結(jié)合能 ，然后對(duì)感興趣的
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