中文--在沖壓過程中pareto同時控制細(xì)化和回彈的優(yōu)化設(shè)計方法(編輯修改稿)
2025-06-26 17:37 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 疊表面 之間的最大 正常的距離）。 3 最優(yōu)化問題 該考慮的優(yōu)化問題 是 在最后部分 盡量減少 （為了防止 開裂 ）變薄，同時也盡量減少回彈的發(fā)生。因此， 在模型階段的研究問題上兩個目標(biāo)函數(shù)被定義為： t％最后部分 測量的最大變薄量 和 d [mm]這是最后的形狀與參考 目標(biāo)形狀的最大偏差。該問題建模還包括設(shè)計變量的定義：在被調(diào)查的過程中選擇兩個設(shè)計變量，即摩擦系數(shù)（μ）和壓邊力值（ BHF[KN]） 其實， 與 所分析的目標(biāo)函數(shù)變量 有關(guān)的 設(shè)計變量 的選擇 ， 因為這些變量在表中強烈影響制約力量，在這影響變薄、回彈實體的過程中 。 一旦進行了 優(yōu)化問題的 建模， 在摘要中提出的工作流程 按照下列步驟 進行 ： 步驟 運行的規(guī)劃是通過適當(dāng)?shù)膶嶒炘O(shè)計（ DOE）定義來實現(xiàn)的； 步驟 ，根據(jù)所設(shè)計的 DOE； 步驟 3 運用 DOE 的 .數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)收集獲得薄度（ t%）和回彈量（ d），為確定每個條件 ； 步驟 ： 作為設(shè)計變量的一種功能來描述目標(biāo)函數(shù)，響應(yīng)面的分析制定 ； 步驟 ， 運用實際數(shù)值通過響應(yīng)表面的 誤差預(yù)測 （像關(guān)于適當(dāng)選擇設(shè)計領(lǐng)域的點的評估的發(fā)展） ； 步驟 6. ε 約束法的應(yīng)用，以執(zhí)行一個多目標(biāo)優(yōu)化，即以確定最佳 Pareto 解 決方案。 步驟 1 被認(rèn)為是，中央綜合設(shè)計（ CCD）的建筑被選定 來設(shè)計一系列的實驗 /模擬 ，實際上， 為適合 二階響應(yīng)面 ，這是最 有利 的做法之一 。特別是，表 1 所示的實驗設(shè)計是為 兩個設(shè)計變量 制定的 。 表 1：設(shè)計變量的 使用水平 設(shè)計變量 DOE 水平 ａ 1 0 1 ａ 181。 0..092 壓力邊 [kN] 64 80 120 160 176 在不同的設(shè)計變量中， 進行模擬設(shè)計 ，獲得最大薄 度 （ t％）和回彈量（ d）。圖 2顯示了回彈的數(shù)值分布，圖 3 顯示了 DOE 的一個模擬細(xì)化分配 ，特別是μ = 和BHF=120 [KN]。 圖 2：回彈分布（ d[mm]） 圖 3： 細(xì)化 分布（ t[％ ]） 4 討論的結(jié)果和結(jié)論 一 旦 設(shè)計 的 數(shù)據(jù) 模擬 被開發(fā)出來 ，步驟 4 和 5 的程序 也被開發(fā)出來 和有兩個目標(biāo)函數(shù) 決定 兩個反應(yīng)表面 （參 考 圖 4 和 圖 5 分別為響應(yīng)面 的細(xì)化 和回彈， 所有值正?；?）。通過 一個 “啟發(fā)式 ”回歸法（在 Minitab 的環(huán)境下開發(fā)的） 獲得最佳的反應(yīng)函數(shù)， 隨后排除在統(tǒng)計上較少的顯著的因素 [
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