外文翻譯--復合材料水滑石殼聚糖對氟的選擇性吸附中文(編輯修改稿)
2025-06-26 07:17 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 TACHIS3400 型號的掃描電子顯微鏡（ SEM）進行了檢測。吸附劑的紅外線光譜圖通過 JASCO460 以及 KBr 壓片法 模式獲取，利用型號為 Philips X39。Pert ProMPD 的 X射線粉末衍射儀對材料進行了 X 射線衍射分析研究。該復合材料的比表面積利用 Micromeritics 生產(chǎn)的 Tristar3000 型號的全自動比表面積和孔隙度分析 儀獲得。 、 統(tǒng)計工具 計算使用了軟件 Microcal Origin（版本 ） .利用誤差曲線圖，回歸相關系數(shù)（ R），卡方分析和標準差（ SD）對數(shù)據(jù)趨勢的意義和擬合優(yōu)度進行了討論。 、 復合材料的特征 復合材料（ HTCs）的特點見表 1，紅外光譜圖和沒有水滑石的殼聚糖凝膠紅外光譜譜（未在圖中顯示。）圖中沒有顯示差異。圖 a 和 b 代表復合材料水滑石 /殼聚糖（ HTCs）吸附氟前后的紅外光譜圖寬帶范圍為 34653535 1cm? 是由于水滑石中羥基的伸縮的結(jié)構(gòu)模式。在 2900— 3000 1cm? 肩高處顯示了第二類的羥基伸縮振動的存在，這可能是由于層間氫與碳酸離子的粘結(jié)。金屬氧伸縮振動的觀察在 625 1cm? 。在 1630 1cm? 處譜圖通常對應水的羥基彎曲模式。 表一 復合材料特征 圖 1 復合材料的紅外光譜圖（ a）及 氟吸附后復合材料的紅外光譜圖（ b） 吸附 氟后于 1370 1cm? 觀察帶變得非常明顯，細窄，轉(zhuǎn)移到較高波數(shù) 1384 1cm? 處（圖 1 b），也是在低波數(shù)條帶被激化及對稱。能譜分析進一步證實了氟吸附的表面形貌變化（圖 2）。復合材料的 XRD 圖譜（未在圖中顯示。）顯示水滑石（層狀化合物）的鮮明特征，低于 2? 值處得對稱反射特點，并指出其高度結(jié)晶性。沒有氟吸附后觀察到 003 和 006 反射的顯著變化。這證明，沒用除了 氫氧 根離子對氟離子發(fā)生置換的其他結(jié)構(gòu)性變化。該復合材料表面形態(tài)的變化是伴隨著水滑石（ HT）零點電荷（ PHzpc）值 向 （復合材料）轉(zhuǎn)變同時進行的。 圖 2 （ a），（ b）復合材料的 SEM 顯微照
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