外文翻譯--自適應測試處理過程可變性中文(編輯修改稿)
2025-06-26 05:59 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 試長度 (或停滯 ,故障覆蓋率 )可以調(diào)節(jié)，以獲得期望的缺陷程度 ,從而提高測試時間 或改進質(zhì)量相同的測試時間。 其他早期的自適應方法是關于 IDDQ 測試時 ,很明顯一個固定的閾值方法是無效的 ,因為大的變化看到在泄漏電流從模到模，而不是有一個固定的限制 ,一個程序或算法將定義 ,設定測試極限。參數(shù)算法會在期間獲取表征然后固定所有模具。在測試執(zhí)行時 ,實時響應數(shù)據(jù)收集的 DUT 測試儀將被用作輸 入限制設置算法 ,計算了適當?shù)南拗圃趥€人?；A上。例子對于當前的比率 (IDDQ 測試的比例最大到最小電流 ),當前簽名 (重要步驟排序的電流 )和 DeltaIDDQ(變化在電流從一個向量到下一個 )，相似的概念被應用于最小工作 電壓 (minVDD) 測試 ,得到的 minVDD 預測值從測量相鄰模 。這個值成為限制模在測試。 這些發(fā)展催生的概念離群值篩選和數(shù)據(jù)驅(qū)動測試。除了允許變化 ,異常篩選改變了基礎的測試 ,從是否部分良好，是否這個部分是不同的 ,導致部分通過所有測試規(guī)范 ,但拒絕如果他們之外預期的分配一個或多個參數(shù)測量。 上述例子說明在測試中使用連續(xù)變量 (參數(shù) ),比簡單的通過 /失敗結果好。模擬電路是特別適合這種方法 ,因為他們通常有大量的參數(shù)測試 ,這些參數(shù)進行連續(xù)值。大量測量代表豐富的環(huán)境自適應測試 ,因為很有可能 ,并不是所有的需要測量的時間benner和描述了一個方法的 Boroffice改編 ,在這數(shù)據(jù)收集到一個固定的樣本和過程能力指數(shù) (肌酸磷酸激酶嗎 )，再根據(jù)方程確定每個量。 自適應處理面臨的挑戰(zhàn)之一是模擬電路涉及到的大量測量在晶圓測試應選用，以達到對于異常值篩選的目的。因為使用可能數(shù)以百計的外置屏幕是不可行 ,一個初始設置必須選擇 ,但這可能不是最優(yōu)的，需要調(diào)整。 Naha 等人所描述的使用輸入的字段操作 (參見圖 1 主要的文本 ),在客戶返回相關所有的測量值。這些測量有很好地與返回的部分相關，然后為未來的測試使用。 對于 限制設置 ,一旦組件的測量值確定 ,我們可以評估方程來生成結果 ,代表了預期值的測量。這成為通過 /失敗限制為特定的測量問題最后的元素在自適應測試過程這個決定?？紤]測量進行比較計算極限確定 (決定 )是否通過測試。 自適應測試階段 不采用自適應適與傳統(tǒng)的靜態(tài)測試方法 ,我們只使用測試執(zhí)行數(shù)據(jù)做出的通過 /失敗的決定。測試極限是獨立設置 ,使用特征數(shù)據(jù)模型的形式和參數(shù)是固定的。傳統(tǒng)的固定閾值落入這分類
畢業(yè)設計相關推薦
鄂ICP備17016276號-1