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spc制程管制基礎(chǔ)教育(留存版)

2025-03-20 14:21上一頁面

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【正文】 由于過程波動(dòng)具有統(tǒng)計(jì)規(guī)律性,當(dāng)過程受控時(shí),過程特性一般服從穩(wěn)定的隨機(jī)分布;而失控時(shí),過程分布將發(fā)生改變。如 +LSL (Low Specification Limit): 即規(guī)格下限 。異常 圖例說明圖例二: 有下列現(xiàn)象之一即表明過程已改變 如: 連續(xù) 7點(diǎn)位于 中心線 的一側(cè) 連續(xù) 7點(diǎn)上升 (后點(diǎn)等于或大于前點(diǎn) )或下降 。組內(nèi)變差可以接受時(shí),有明分組是合理的;組間變差沒有特殊原因時(shí),表明我們在一段時(shí)間內(nèi),對過程的管理是有效的、可接受的。每一位員工都要了解變差、普通原因、特殊原因的觀念,與變差有關(guān)的人員,都要能看懂管制圖。如果是作業(yè)員,只在了解判定準(zhǔn)則就好了;但作為管理人員,如果不理解其中的原委,就沒有辦法對這些情況作出應(yīng)變處理。那么,管制時(shí)管制圖的管制線是怎么來的呢?管制圖中的管制線是解析得來的,也就是說,過程解析成功后,管制線要延用下去,用于管制。 7點(diǎn)中有 3點(diǎn)以上 。2. 某些 “偶然因素下的一致現(xiàn)象 ”,是任何制造和檢驗(yàn)的架構(gòu)下所固有的。3. 在這固有之 “一致現(xiàn)象 ”的狀態(tài)下的變動(dòng)將無法找到原因。 10點(diǎn)中有 4點(diǎn)以上 。很多工廠沒能延用解析得來的管制線,管制圖不能表明過程是穩(wěn)定與受控的。判定法則都是從概率原理作出推論的。實(shí)施 SPC的過程中常見的十大誤區(qū)9 未將管制圖用于改善 10 忽略全員參與管制圖是品管的事情 .SPC 成功的必要條件,是全員培訓(xùn)。實(shí)施 SPC的過程中常見的十大誤區(qū)5 管制圖未記錄重大事項(xiàng) 6 不理解 XBAR圖與 R圖的含義當(dāng)我們把 XBARR管制圖畫出來之后,我們到底從圖上得哪些有用的資訊呢?首先,這兩個(gè)圖到底先看哪個(gè)圖? R反應(yīng)的是每個(gè)子組組內(nèi)的變差,它反映了在收集數(shù)據(jù)的這個(gè)時(shí)間段,制程所發(fā)生的變差,所以他代表了組內(nèi)固有的變差;XBAR圖反映的是每個(gè)子組的平均值的變化趨勢,所以其反映的是組間的變差。 測量系統(tǒng)已改變 (如:不同的檢驗(yàn)員、量具、分辨力不適用 )。USL (Upper Specification Limit):即規(guī)格上限 。SPC: 全稱 Statistical Process Control,稱為 “制程過程統(tǒng)計(jì) ”SPC:是一種借助 數(shù)理統(tǒng)計(jì)方法 的過程控制工具。(如上例中心值為 )X=(X1+X2+… …+Xn)/n 平均值;(n為樣本數(shù) )T=USLLSL: 即 規(guī)格公差;(如上例,公差為 )δ ( sigma):數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)差 (Excel中的 “ STDEV” 函數(shù)自動(dòng)計(jì)算所取樣數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)差 (σ) )與 Cpk相關(guān)的幾個(gè)重要概念制程準(zhǔn)確度 Ca? 一、 工程能力分析 :? 制程準(zhǔn)確度 Ca(capability of accuracy): 指來自生產(chǎn)中產(chǎn)品數(shù)據(jù)的實(shí)績平均值 (X)與規(guī)格中心值 (μ ) 其間偏差的程度 . 實(shí)績平均值 規(guī)格中心值 Xμ T=USLLSL=規(guī)格上限 規(guī)格下限 =規(guī)格公差 /Ca/值越小越好 ,分 4個(gè)等級評價(jià) ,若為單邊規(guī)格 ,無法計(jì)算 Ca值 .規(guī)格公差 /2 T/2等級 Ca值A(chǔ)級 /Ca/≦ %B級 %/Ca/≦ 25%C級 25%/Ca/≦ 50%D級 50%/Ca/Ca= 100%= 100%? 制程精密度 Cp(Capability of precision) 指以規(guī)格公差 (T)與自生產(chǎn)中所獲得產(chǎn)品數(shù)據(jù)的 6δ(估計(jì)實(shí)績標(biāo)準(zhǔn)偏差 δ)其間相差的程度 . 規(guī)格公差 T 規(guī)格上限 規(guī)格下限 USLX 實(shí)際平均值 規(guī)格下限 XLSL CP值愈大 ,品質(zhì)愈好 . 制程精密度 CpCp= 6δ = 6δ 雙邊規(guī)格Cp= 3δ = 6δ
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