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對(duì)擊錘打擊能量測(cè)量與分析系統(tǒng)研究畢業(yè)論文(留存版)

2025-08-07 16:58上一頁面

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【正文】 139。同時(shí)FLAGD=0,即FIFO讀空標(biāo)志位為假,將雙向FD數(shù)據(jù)總線掛載在輸出狀態(tài),同時(shí)SLOE=1,SLRD=1。 硬件實(shí)物圖在硬件檢查完畢后,安裝各插件,將硬件系統(tǒng)搭建完成。(2)由于對(duì)擊錘打擊瞬間會(huì)產(chǎn)生巨大的能量,需要提取這一瞬間對(duì)擊錘工作系統(tǒng)的兩個(gè)重要關(guān)鍵參數(shù)加速度和位移量,因此,設(shè)計(jì)了一款基于FPGA參數(shù)數(shù)據(jù)采集存儲(chǔ)硬件系統(tǒng),采集提取打擊過程中五百毫秒內(nèi)的系統(tǒng)的關(guān)鍵參數(shù),以便后續(xù)進(jìn)行對(duì)擊錘打擊力能進(jìn)行分析。7 總結(jié)與展望隨著現(xiàn)代社會(huì)的高速發(fā)展,對(duì)工業(yè)管理技術(shù)提出了越來越高的要求。,本系統(tǒng)使用的FPGA芯片共有240個(gè)引腳,非常密集,往往會(huì)出現(xiàn)黏連現(xiàn)象。 usbctrl控制狀態(tài)機(jī)采用 Slave FIFO從機(jī)方式實(shí)現(xiàn) FPGA對(duì) FX2的控制,通過 Verilog HDL編程實(shí)現(xiàn)。同時(shí)對(duì)脈沖進(jìn)行計(jì)數(shù),其代碼如下:always (posedge cp_ab or negedge reset ) ///// 計(jì)數(shù)器定義 if(!reset) count = 139。 位移編碼器模塊在本設(shè)計(jì)中,設(shè)計(jì)四倍頻邏輯進(jìn)行相位鑒別,四倍頻電路中a和b相異或后,結(jié)果相與,在,如果反轉(zhuǎn),out_dr輸出高電平,如果正轉(zhuǎn)out_dr輸出低電平,其代碼如下:assign cp_a = (~reg_a)^in_a。 串口RXD其中圖5,串口RXD,負(fù)責(zé)下發(fā)指令,讀取sram中的數(shù)據(jù),分別收指令3,控制三路sram中數(shù)據(jù)的讀出,同時(shí),收到5,則對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)位;表1為指令表1 串口下發(fā)指令表串口收指令1串口收指令2串口收指令3串口收指令5加速度a1數(shù)據(jù)讀取加速度a2數(shù)據(jù)讀取位移量S數(shù)據(jù)復(fù)位串口發(fā)送模塊主要完成前期測(cè)試階段的工作和握手命令,本課題設(shè)計(jì)的串口發(fā)送模塊為8位數(shù)據(jù)位,串口波特率為115200,stb為每一幀的使能信號(hào),在高電平將數(shù)據(jù)打包發(fā)送??梢苑殖刹煌?jí)別的抽象,大致分為門級(jí)、算法級(jí)、RTL級(jí)、系統(tǒng)級(jí)等等。 加速度波形圖其中時(shí)間t1是為對(duì)擊錘加速運(yùn)動(dòng)打擊坯料前時(shí)間;t2為對(duì)擊錘打擊坯料變形時(shí)間。其旨在采集存儲(chǔ)上下錘頭加速度,位移量這兩個(gè)對(duì)擊模鍛錘打擊瞬間的兩個(gè)關(guān)鍵物理量,利用Altium ,包括以下六大部分。(3)PCB布線原則?一般在PCB布線時(shí)首先要布置的線是電源線和地線,只有電源線和線布通才能保證電路板的電氣性能達(dá)到要求,本電源線設(shè)置線寬為40mil,地線寬度設(shè)置為50mil,信號(hào)線為10mil,由于FPGA芯片管腳封裝為7mil,因此與FPGA相連的信號(hào)線要設(shè)置為7mil。 FPGA配置電路從原廠生產(chǎn)的FPGA芯片內(nèi)部是半成型的邏輯電路,我們需要利用下載電路,將編程好的程序?qū)懭胄酒衃15], 由于FPGA可編程邏輯具有可易失性,掉電后,內(nèi)部邏輯即刷成空白,在每次上電后,需要對(duì)內(nèi)部邏輯進(jìn)行重新下載,鑒于這個(gè)缺陷,設(shè)計(jì)有主動(dòng)串行配置模式AS模式,可以將程序下載到外部EEPROM中。由于測(cè)量系統(tǒng)供電采用12V直流供電,采用LM2596開關(guān)電壓調(diào)節(jié)器,可以輸出3A的驅(qū)動(dòng)電流[30],同時(shí)提供固定5V電壓輸出,封裝選取TO263標(biāo)貼式封裝,可以輸出5V直流電壓,四腳FEEDBACK提供反饋,可以得到5V直流輸出電壓,為了減少輸出紋波電壓,降低到輸出電壓的1%以下,必須選用一個(gè)耐壓值更高的電容,因此采用25V耐壓值的輸出電容可以將輸出紋波降低一半。在宏觀上對(duì)力能參數(shù)采集系統(tǒng)作了概要性的描述[27]。由于本系統(tǒng)對(duì)于存儲(chǔ)時(shí)間和存儲(chǔ)容量的要求,因此設(shè)計(jì)選用高速異步靜態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器SRAM作為數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器,而FPGA的片上RAM最大只有64K字節(jié), 在片內(nèi)資源緊缺的情況下,本設(shè)計(jì)需要存放大量的原始數(shù)據(jù),僅僅依靠片內(nèi)RAM的存儲(chǔ)空間遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能達(dá)到設(shè)計(jì)要求,因此需要外部擴(kuò)展存儲(chǔ)空間來實(shí)現(xiàn)對(duì)擊錘參數(shù)物理量的采集,因此,選用一個(gè)容量合適,高速的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器成為本設(shè)計(jì)的關(guān)鍵部分,外擴(kuò)存儲(chǔ)器的選擇主要考慮的因素如下:存儲(chǔ)容量、存儲(chǔ)速度、價(jià)格和功耗等存儲(chǔ)容量的大小決定了本系統(tǒng)所能容納的數(shù)據(jù)信息量的多少[19];存儲(chǔ)器的寫入速度需要與FPGA內(nèi)部邏輯的時(shí)鐘同步進(jìn)行;其寫入時(shí)間指的是數(shù)據(jù)從接受到穩(wěn)定的地址信號(hào)線到整個(gè)時(shí)序完成的時(shí)間段[19],存儲(chǔ)器的價(jià)格取決于本身和其內(nèi)嵌入的單獨(dú)電路,這兩個(gè)方面影響存儲(chǔ)器的價(jià)格,SRAM選用IS61LV51216,它是ISSI公司的SRAM芯片,該芯片是512K16bit的高速CMOS靜態(tài)存儲(chǔ)器,其寫速度為8ns~12ns之間,支持8位或者16位的數(shù)據(jù)讀寫,方便切換, 。邏輯級(jí)FPGA器件是一個(gè)用于存放編程數(shù)據(jù)的靜態(tài)存儲(chǔ)器SRAM組成,其中包括三種可編程單元[16],這三種可編程邏輯單元是可編程邏輯單元LE(logic element)、可編程輸入/輸出單元IOE(I/O element)和可編程互聯(lián)資源。第三章主要介紹了基于FPGA的對(duì)擊錘打擊力能測(cè)量?jī)x的硬件外圍設(shè)計(jì),并對(duì)硬件設(shè)備各個(gè)部分作了詳細(xì)介紹,根據(jù)設(shè)計(jì)要求,對(duì)各部分硬件進(jìn)行選型,應(yīng)用電路設(shè)計(jì),完成工作有采集模塊接口、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)接口、數(shù)據(jù)通信接口、命令通信接口等,最終搭建實(shí)現(xiàn)完整的采集存儲(chǔ)系統(tǒng)外圍硬件電路。針對(duì)傳統(tǒng)的測(cè)量測(cè)試方法中需要在現(xiàn)場(chǎng)布置大量的儀器設(shè)備、無法滿足連續(xù)生產(chǎn)過程的測(cè)試要求[4]。核心部件頻繁被破壞,高昂的代價(jià),漫長(zhǎng)的加工周期已經(jīng)已經(jīng)成為困擾生產(chǎn)部門的一大難題[3]。本論文的內(nèi)容和章節(jié)安排如下:第一章為緒論部分,詳細(xì)介紹了對(duì)擊模鍛錘的發(fā)展以及國(guó)內(nèi)外液壓鍛錘以及對(duì)擊錘發(fā)展的水平以及其自動(dòng)化水平[9],通過對(duì)比國(guó)內(nèi)大噸位鍛錘的發(fā)展以及國(guó)外各鍛造行業(yè)的生產(chǎn)水平,分析世界各國(guó)鍛造工業(yè)所遇到的瓶頸[10],提出本課題的研究規(guī)劃方案以及實(shí)驗(yàn)研究的基礎(chǔ),對(duì)630KJ對(duì)擊錘進(jìn)行系統(tǒng)結(jié)構(gòu)評(píng)估,最后列舉本研究課題開展的核心意義以及實(shí)驗(yàn)研究的方向,并加以實(shí)施,通過以微處理器為控制核心, 采用AD采集、編碼器計(jì)數(shù)原理和SRAM存儲(chǔ)及USB通信技術(shù),利用EDA軟件QuartusII為編譯環(huán)境進(jìn)行邏輯電路設(shè)計(jì)、綜合編譯,對(duì)整體對(duì)擊錘力能參數(shù)測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行準(zhǔn)確控制,使得整體系統(tǒng)達(dá)到理想的測(cè)量效果,最終實(shí)現(xiàn)高速、準(zhǔn)確的實(shí)驗(yàn)效果。 模擬信號(hào)進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)化,成為數(shù)字信號(hào),數(shù)字信號(hào)僅有0和1的區(qū)分,與模擬信號(hào)相比其高電平對(duì)應(yīng)為0,低電平對(duì)應(yīng)為1,因此容易辨別,所以,在對(duì)信號(hào)進(jìn)行分析之前,首先將其轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào)。它利用晶體管來存儲(chǔ)數(shù)據(jù)。 位移傳感器的工作原理通過對(duì)對(duì)擊錘工作原理的學(xué)習(xí)與對(duì)擊錘測(cè)量環(huán)境的研究,決定將系統(tǒng)分成三部分來研究實(shí)現(xiàn)測(cè)量目的。SRAM數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能:采集完畢后,進(jìn)入到系統(tǒng)的存儲(chǔ)階段,將AD轉(zhuǎn)換的參數(shù)數(shù)據(jù)存入SRAM中,完成存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的作用。 USB接口的固件燒寫由于需要配置芯片工作方式,因此需要安裝相關(guān)固件燒寫軟件, USB驅(qū)動(dòng)安裝安裝驅(qū)動(dòng)之后,選擇68013A固件進(jìn)行配置。由于是高速采集版圖設(shè)計(jì),因此各個(gè)信號(hào)線之間不能過長(zhǎng),否則可能導(dǎo)致信號(hào)完整性的缺失或其中夾雜著很多噪聲干擾,也可能影響系統(tǒng)的采集時(shí)間,增加系統(tǒng)的延時(shí),如果PCB布局過于狹窄,可能導(dǎo)致在焊接時(shí)難以下手,同時(shí)導(dǎo)致整體的散熱性能減小,降低硬件電路的使用壽命,增加布線難度,走線與走線的距離太近造成相互之間的串?dāng)_,嚴(yán)重情況下致使硬件電路板設(shè)計(jì)失敗,因此,在PCB設(shè)計(jì)時(shí)需要對(duì)電路板的大小,功能,進(jìn)行合理的分配。由動(dòng)量守恒有 ()其中VC為打擊過程中上下錘頭系統(tǒng)的重心速度。由于本系統(tǒng)需要的IO資源較多,并且邏輯資源并不多因此選用EP1C12Q240C8N芯片作為主板的控制核心,其內(nèi)部還有2910到20060個(gè)邏輯單元,支持串行配置,IO端口電平支持LVTTL、LVCOMS等電平標(biāo)準(zhǔn),最高IO口電平速度可以達(dá)到640Mbps。在FPGA中,可以任意設(shè)置IO端口作為串口使用,本模塊功能是將并行輸入的 8位數(shù)據(jù)在數(shù)據(jù)已好信號(hào)有效時(shí),通過串口串行發(fā)送。結(jié)合仿真結(jié)果,驗(yàn)證了該邏輯可以完成相應(yīng)的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能。 end本模塊仿真選用自帶仿真軟件vector waveform file進(jìn)行功能仿真,(a)所示為反轉(zhuǎn)仿真圖。b0。電路板上電后,檢查各個(gè)電源電壓是否正常,然后編寫各個(gè)模塊的測(cè)試程序,驗(yàn)證各個(gè)器件工作是否正常,本設(shè)計(jì)調(diào)試中,編寫流水燈程序時(shí),下載程序后,無法實(shí)現(xiàn)流水燈,檢查發(fā)現(xiàn)是貼片晶振外殼與電源斷路,使晶振無法起振,加入電壓信號(hào),采集存儲(chǔ)測(cè)試信號(hào)輸出端時(shí)候符合對(duì)擊錘參數(shù)的設(shè)計(jì)指標(biāo),由于加速度信號(hào)時(shí)交流信號(hào),需要對(duì)AD采集模塊進(jìn)行外圍電路調(diào)整,調(diào)整參考電壓,測(cè)量加速度傳感器在AD采集后的變化量是否正常,分析信號(hào)的幅度、頻率參數(shù)是否達(dá)標(biāo),由于FPGA并行執(zhí)行的特點(diǎn),無法進(jìn)行斷電調(diào)試,因此,本課題采用分級(jí),組合的調(diào)試方式,編寫測(cè)試代碼,完成系統(tǒng)各個(gè)部分的硬件調(diào)試,在反復(fù)多次調(diào)試后,確認(rèn)系統(tǒng)工作正常,準(zhǔn)備對(duì)完整系統(tǒng)進(jìn)行下一步調(diào)試分析。本章中介紹了參數(shù)采集設(shè)備的調(diào)試和現(xiàn)場(chǎng)采集過程,并根據(jù)物理學(xué)推算的力能數(shù)學(xué)模型與采集參數(shù)之間的關(guān)系,計(jì)算出實(shí)測(cè)的最大打擊力,打擊能量與公稱標(biāo)準(zhǔn)之間的誤差,確認(rèn)此方案的可行性,并加以實(shí)施。以及FPGA外圍核心電路,包括復(fù)位、配置、時(shí)鐘模塊,使整個(gè)系統(tǒng)能夠正常運(yùn)行。 邏輯分析儀信號(hào)檢測(cè)圖將完成系統(tǒng)邏輯設(shè)計(jì)編譯后,配置STP文件,在軟件中顯示被測(cè)信號(hào)的波形,將其余上一章時(shí)序仿真與實(shí)際波形作對(duì)比,比較是否符合對(duì)擊錘打擊過程的技術(shù)要求,在對(duì)各信號(hào)進(jìn)行檢測(cè)后,將下載配置設(shè)置為AS模式,將程序固化到片外配置芯片EPCS4中,[59]。 usbctr測(cè)試數(shù)據(jù)圖可以觀察到數(shù)據(jù)有效的從SRAM寫入U(xiǎn)SB芯片的FIFO,再從USB總線上傳到上位機(jī)軟件。amp。amp。三路使能信號(hào)在觸發(fā)后,按照狀態(tài)機(jī)循環(huán)使能,執(zhí)行狀態(tài)機(jī),使數(shù)據(jù)分時(shí)寫入SRAM中,低電平持續(xù)一個(gè)端的低電平,目的是為了增加數(shù)據(jù)的可靠性。 觸發(fā)模塊頂層模塊圖其工作流程仿真過程如圖所示: 觸發(fā)模塊頂層模塊圖,霍爾傳感器觸發(fā)信號(hào)Pulse_IN與繼電器Check_Relay檢測(cè)信號(hào)保持高電平1,繼電器控制信號(hào)RLY_CTL=1與觸發(fā)信號(hào)Pulse_OUT=0;, 握手信號(hào)RS485_rec回復(fù) ASCII碼A作為回復(fù)命令,此時(shí)繼電器控制信號(hào)RLY_CTL=0與觸發(fā)信號(hào)依然為Pulse_OUT=0; 觸發(fā)模塊頂層模塊圖,Pulse_IN=1與繼電器Check_Relay=0,觸發(fā)信號(hào)Pulse_OUT由低電平變?yōu)楦唠娖接|發(fā)后啟動(dòng)采集。在開發(fā)之前,首先需要了解開發(fā)環(huán)境的六大設(shè)計(jì)流程,首先建立文件夾創(chuàng)建工程,其次設(shè)計(jì)輸入,編寫代碼,單線程編譯,綜合編譯,第三,仿真驗(yàn)證,第四,下載調(diào)試, QuartusⅡ一般設(shè)計(jì)流程 Modelsim仿真介紹對(duì)擊錘打擊過程極短,如何在短時(shí)間內(nèi)采集到準(zhǔn)確的數(shù)據(jù),對(duì)時(shí)序的分析是第一步,由于quartusII軟件中自帶仿真器編譯復(fù)雜,設(shè)置相對(duì)繁瑣,modelsim是目前最好的一款硬件描述語言仿真軟件,可以在quartusII中直接生成仿真激勵(lì)模板,調(diào)用modelsim進(jìn)行仿真,它采用TCL/TK技術(shù)和單一內(nèi)核仿真技術(shù),能夠直接優(yōu)化和編譯,仿真速度快,編譯的代碼與平臺(tái)無關(guān),仿真界面直觀易懂,易于上手,是FPGA設(shè)計(jì)仿真階段的第一選擇。對(duì)擊錘在打擊瞬間具有的能量為 () 其中打擊瞬間打擊能量; 、上、下錘頭質(zhì)量; 、上、下錘頭打擊瞬間速度。 在布局FPGA中,由于系統(tǒng)對(duì)信號(hào)的穩(wěn)定性及精度要求高,因此,為了得到穩(wěn)定的直流電源,在FPGA芯片周圍需要用大量電容進(jìn)行去耦,并且將兩種配置接口排布在其周圍,如果距離過遠(yuǎn),阻抗增大,有可能導(dǎo)致驅(qū)動(dòng)力不夠,使程序無法載入。 IMP811T系統(tǒng)復(fù)位電路圖 FPGA時(shí)鐘電路FPGA最小系統(tǒng)電路的時(shí)鐘采用48Mhz,為整個(gè)硬件電路提供驅(qū)動(dòng)時(shí)鐘,一個(gè)可靠的時(shí)鐘是非常重要的,在晶振的第3引腳上拉一個(gè)33歐的電阻,其目的是為了避免反射波疊加引發(fā)的干擾現(xiàn)象,由于電阻與輸入電容的共同作用,晶振產(chǎn)生的方波轉(zhuǎn)換為近似正弦波,形成RC積分平滑電路,如果缺少這個(gè)電阻,晶振將可能引起諧波干擾,加上電阻,即使信號(hào)的完整性受到一定的干擾,但是晶振信號(hào)時(shí)需要后期放大整形才作為時(shí)鐘信號(hào),所以,其影響不大,其電阻的阻值取決于輸入等效電容,有源晶振的輸出阻抗和輸入阻抗等因素,有源晶振將供采集模塊的分頻時(shí)鐘和USB芯片的外部時(shí)鐘。在AD采集硬件電路設(shè)計(jì)完成后,需要對(duì)存儲(chǔ)電路進(jìn)行分析與設(shè)計(jì),首先FPGA內(nèi)部具有存儲(chǔ)器資源,但受到課題存儲(chǔ)程度的要求,需要外擴(kuò)大容量高速異步存儲(chǔ)器才足以完成課題要求[31],課題選用IS61LV51216高速異步存儲(chǔ)器SRAM作為對(duì)擊錘力能參數(shù)采集的存儲(chǔ)芯片,其存儲(chǔ)容量為512Kbyte,16位數(shù)據(jù)總線,18位地址總線,由于AD采樣時(shí)間為1us,鑒于FPGA片內(nèi)邏輯電路并行執(zhí)行的特點(diǎn),兩路AD并行進(jìn)行數(shù)據(jù)采集,將上下錘頭的運(yùn)動(dòng)物理量加速度分別存儲(chǔ)到相應(yīng)的SRAM中,同時(shí)將數(shù)據(jù)寫滿,由于FPGA引腳資源有限,將三片SRAM芯片的數(shù)據(jù)總線與地址總線進(jìn)行服用,通過片選信號(hào)將其分開,通過這種硬件處理,大大節(jié)省了硬件資源,同時(shí)減少了PCB布線的難度,同時(shí)提高了系統(tǒng)的穩(wěn)定性,實(shí)現(xiàn)多片級(jí)聯(lián),從而實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)功能,達(dá)到高速存儲(chǔ),同步的技術(shù)指標(biāo)。硬件電路的控總控制器選用FPGA芯片EP1C12Q240C8,它是Altera公司生產(chǎn)的Cyclone系列[28],引腳資源豐富,非常適用于本課題中,在QuartusII的編譯環(huán)境下,編譯AD數(shù)據(jù)采集邏輯,數(shù)據(jù)SRAM數(shù)據(jù)讀寫邏輯與USB控制FIFO緩沖邏輯[39],在內(nèi)嵌邏輯分析儀SignalTap下進(jìn)行邏輯驗(yàn)證,最終在硬件電路板上實(shí)現(xiàn)全部功能[40]。 位移采集原理位移采集實(shí)際上利用編碼器
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