【正文】 2? dR=?2?=?39 USL USL LSL LSL 雙邊公差的過程測(cè)量指數(shù) 6sigma 6sigma X X M 40 雙邊公差的過程測(cè)量指數(shù) Cpk：能力指數(shù)。 R 圖和 X 圖應(yīng)分別分析，但可進(jìn)行比較，了解影響過程的特殊原因。由正態(tài)分布的性質(zhì)可知：產(chǎn)品質(zhì)量特性數(shù)據(jù)出現(xiàn)在平均值的正負(fù)三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)偏差 (μ ?3?)之外的概率僅為 %。 SPC常用術(shù)語解釋 4 名稱 解 釋 普通原因 （ Common Cause） 造成變差的一個(gè)原因，它影響被研究過程輸出的所有單值；在控制圖分析中，它表現(xiàn)為隨機(jī)過程變差的一部分。 SPC的目的 2 名稱 解 釋 平均值（ Xbar） 一組測(cè)量值的 均值 極 差 （ Range） 一個(gè)子組、樣本或總體中 最大與最小值之差 σ（ Sigma） 用于代表標(biāo)準(zhǔn)差的希臘字母 標(biāo)準(zhǔn)差 (Standard Deviation) 過程輸出的 分布寬度 或從過程中統(tǒng)計(jì)抽樣值（例如：子組均值）的分布寬度的 量度 ，用希臘字母 σ或字母 s（用于樣本標(biāo)準(zhǔn)差）表示。 消除波動(dòng)不是統(tǒng)計(jì)過程控制的目的，但通過統(tǒng)計(jì)過程控制可以對(duì)過程的波動(dòng)進(jìn)行 預(yù)測(cè)和控制 。 % % μ 177。 UCL CL LCL 如何定義“不受控”信號(hào) 30 UCL LCL R UCL R LCL 不受控制的過程的極差 （存在高于和低于極差均值的兩種鏈） 不受控制的過程的極差（存在長(zhǎng)的上升鏈） 31 不受控制的過程的均值（長(zhǎng)的上升鏈） 不受控制的過程的均值 （出現(xiàn)兩條高于和低于均值的長(zhǎng)鏈） UCL X LCL UCL X LCL 32 典型特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則 典型特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則的匯總 1 一個(gè)點(diǎn)遠(yuǎn)離中心線超過 3個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差 2 連續(xù) 7點(diǎn)位于中心線一側(cè) 3 連續(xù) 6點(diǎn)上升或下降 4 連續(xù) 14點(diǎn)交替上下變化 5 2/3的點(diǎn)距中心線的距離超過 2個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差（同一側(cè)） 6 4/5的點(diǎn)距中心線的距離超過 1個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差（同一側(cè)） 7 連續(xù) 15個(gè)點(diǎn)排列在中心線 1個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差范圍內(nèi)（任一側(cè)） 8 連續(xù) 8個(gè)點(diǎn)距中心線的距離大于 1個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差（任一側(cè)） 33 “ 三立即 ”原則： 操作者或現(xiàn)場(chǎng)管理者根據(jù)規(guī)定的取樣頻率和樣本容量抽取樣本組、 立即 計(jì)算 Xbar和 R并將其畫在控制圖中并與前點(diǎn)用短直線連接； 立即 應(yīng)用特殊原因識(shí)別準(zhǔn)則判定制造過程是否存在特殊原因； 如制造過程存在特殊的原因，操作著或現(xiàn)場(chǎng)管理者應(yīng) 立即 分析不受控特殊原因并采取措施確保制造過程恢復(fù)到受控狀態(tài)。 Cpk是 CPU或者 CPL的最小值，公式如下： 2 3 3 d R LSL x CPL x USL CPU = = = Cp和 Cpk 僅僅當(dāng)過程處于 穩(wěn)定狀態(tài)時(shí) 才有效。 2? dR=?2? dR=?如果過程處于統(tǒng)計(jì)受控狀態(tài)，過程能力將非常接近過程性能，當(dāng)過程的能力和性能 6 之間存在較大差別時(shí)表示有特殊原因存在。 控制 圖 的 設(shè)計(jì) 中心線ＣＬ＝分析的統(tǒng)計(jì)量的均值 上控