【正文】 制限ＵＣＬ＝ＣＬ＋３＊均值的標(biāo)準(zhǔn)差 下控制限ＬＣＬ＝ＣＬ－３＊均值的標(biāo)準(zhǔn)差 中心線 下控制限線 上控制限線 15 計(jì)量型數(shù)據(jù) XR 均值和極差圖 計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù) p chart 不合格品率控制圖 XS均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖 np chart不合格品數(shù)控制圖 XR 中位值極差圖 c chart 不合格數(shù)控制圖 XMR單值移動極差圖 u chart單位產(chǎn)品不合格數(shù)控制圖 ~ 控制 圖 的 類型 16 確定要使用控制圖的特性 否 否 是 是 使用 np或 p圖 否 使用 p圖 否 使用 u圖 是 是 使用 c或 u圖 是 是 使用單值圖 XMR 是計(jì)量型 數(shù)據(jù)嗎？ 關(guān)心的是 不合格產(chǎn)品的 百分比嗎？ 關(guān)心的是 不合格數(shù)嗎？ 樣本容量 是否恒定？ 樣本容量 是否恒定？ 性質(zhì)上是否均勻 或不能按子組取樣 —例如：化學(xué)槽液、 批量油漆等？ 接下頁 控制 圖 的 選用程序 17 是 否 使用 X— R圖 是 否 使用 X— R圖 使用 X— s圖 注：本圖假設(shè)測量系統(tǒng)已經(jīng)過評價 ,并且是適用的。如原材料不合格、設(shè)備出現(xiàn)故障、工夾具不良、操作者不熟練等。 鏈（ Run） 控制圖上一系列連續(xù)上升或下降，或在中心線之上或之下的 點(diǎn) 。 過程均值（ Process Average） 一個特定過程特性的測量值分布的位置即為過程均值，通常用 X 來表示。 ? 異常波動 ：是由 特殊原因 造成的。 kσ 控制 圖 的 設(shè)計(jì) 14 逆時針 旋轉(zhuǎn) 90176。 過程性能： 過程總變差的 6 范圍。 2? dR=?2? dR=?2? dR=?41 10 14 18 12 16 2 13 CPK CPU CPL Cp μ 10 14 18 12 16 10 14 18 12 16 2 14 CPK CPU CPL Cp μ 2 15 CPK CPU CPL Cp μ 指 數(shù) 差 異說明 42 請 依 照 上 個課堂練習(xí) 的 數(shù)據(jù) ， 計(jì) 算下列 指數(shù)： ? Cp 、 Cpk、 K。 使用 XbarR控制 圖 的步 驟 D 34 有關(guān)“控制”的最終概念 在生產(chǎn)過程中，控制的完美狀態(tài)是從來達(dá)不到的，過程 控制的目標(biāo)不是完美狀態(tài)，而是使控制達(dá)到合理和經(jīng)濟(jì)的 狀態(tài)，因此為了使用的目的，受控的過程并不是在圖上 永遠(yuǎn)不失控。 2σ % % μ 177。 波動（變差）的概念 6 波 動 原因 人員 機(jī)器 材料 測量 環(huán)境 方法 ? 正常波動 ：是由 普通 原因 造成的。 分布寬度（ Spread） 一個分布中從 最小值到最大值之間的間距 中位數(shù) x 將一組測量值從小到大排列后， 中間的值 即為中位數(shù)。有時被稱為可查明原因，它存在的信號是：存在超過控制限的