統(tǒng)計過程控制spc-文庫吧
2025-01-10 17:30 本頁面
【正文】 變動、機床的微小振動、刀具的正常磨損、夾具的微小松動、材質(zhì)上的微量差異等。正常波動引起工序質(zhì)量微小變化，難以查明或難以消除。它不能被操作工人控制，只能由技術(shù)、管理人員控制在公差范圍內(nèi)。 ? 異常波動 ：是由 特殊原因 造成的。如原材料不合格、設(shè)備出現(xiàn)故障、工夾具不良、操作者不熟練等。異常波動造成的波動較大，容易發(fā)現(xiàn)，應該由操作人員發(fā)現(xiàn)并糾正。 波 動 的原因 7 存在性 方向 影響大小 消除的 難易程度 普通原因 （例：設(shè)備震動） 始終 或大或小 小 難 特殊原因 （例：車刀磨斷） 有時 偏向 大 易 普通原因和特殊原因的區(qū)別 8 概念形成和批準 設(shè)計確認 樣件 量產(chǎn) 策劃 產(chǎn)品開發(fā)和設(shè)計 過程開發(fā)和設(shè)計 產(chǎn)品和過程確認 策劃 生產(chǎn) Production 評估反饋和改善 統(tǒng)計過程控制策劃 試產(chǎn) 項目批準 初始統(tǒng)計過程研究 如何進行統(tǒng)計過程控制策劃 量產(chǎn)過程中，實施統(tǒng)計過程控制 9 如何進行統(tǒng)計過程控制策劃 在新產(chǎn)品策劃過程中， APQP小組根據(jù) 試生產(chǎn)控制計劃制定《初始過程能力研究 計劃》。 批量生產(chǎn)過程中，責任部門根據(jù)批量 生產(chǎn)控制計劃實施統(tǒng)計過程控制。 10 上 控 制限 (UCL) 中心 線 (CL) 下控制限 (LCL) 控制 圖 的 定義 收集 收集數(shù)據(jù)并描點在圖上 控制 從過程數(shù)據(jù)計算試運行控制限 識別變差的特殊原因并采取措施 分析及改進 量化普通原因變差，采取措施將它減小 重復這三個階段從而持續(xù)地改進過程 11 工序處于穩(wěn)定狀態(tài)下，其分布通常符合正態(tài)分布。由正態(tài)分布的性質(zhì)可知：產(chǎn)品質(zhì)量特性數(shù)據(jù)出現(xiàn)在平均值的正負三個標準偏差 (μ ?3?)之外的概率僅為 %。這是一個很小的概率，根據(jù)概率論 “視小概率事件為實際上不可能事件”的原理，可以判定：出現(xiàn)在 μ ?3?區(qū)間外的事件是異常波動，它的發(fā)生是由于特殊原因使總體的分布偏離了正常位置。 根據(jù)這一原理，將控制限的寬度設(shè)定為 ?3?。 控制 圖 的 設(shè)計 12 % % % μ +1σ +2σ +3σ 1σ 2σ 3σ 控制 圖 的 設(shè)計 13 % % μ 177。 3σ % % μ 177。 % % μ 177。 2σ % % μ 177。 % % μ 177。 1σ % % μ 177。 在外的概率 在內(nèi)的概率 μ 177。 kσ 控制 圖 的 設(shè)計 14 逆時針 旋轉(zhuǎn) 90176。 控制 圖 的 設(shè)計 中心線ＣＬ＝分析的統(tǒng)計量的均值 上控制限ＵＣＬ＝ＣＬ＋３＊均值的標準差 下控制限ＬＣＬ＝ＣＬ－３＊均值的標準差 中心線 下控制限線 上控制限線 15 計量型數(shù)據(jù) XR 均值和極差圖 計數(shù)型數(shù)據(jù) p chart 不合格品率控制圖 XS均值和標準差圖 np chart不合格品數(shù)控制圖 XR 中位值極差圖 c chart 不合格數(shù)控制圖 XMR單值移動極
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