【正文】 樣槽傾斜時，向上為正坡度角、向下為負(fù)坡度角。主要介紹追索控制礦體施工的坑道中的采樣工作?；c(diǎn)編號，一般是從坑口向坑內(nèi)按順序依次編號，即坑口基點(diǎn)編號0點(diǎn)（站）、（前面應(yīng)代上坑道編號）、坑內(nèi)第一個中線樁編1點(diǎn)（站）、第二個中線樁編2點(diǎn)（站）、依次類推。如遇特殊地質(zhì)現(xiàn)象，應(yīng)放大比例尺作素描。三 坑道地質(zhì)編錄的準(zhǔn)備(一) 資料及技術(shù)準(zhǔn)備1 資料準(zhǔn)備坑道地質(zhì)編錄人員應(yīng)了解和熟悉礦區(qū)，特別是坑道附近的地層、巖石、礦產(chǎn)、構(gòu)造以及巖性分層、礦層、巖礦石特征等?；€自基點(diǎn)鉛直布設(shè)。五、提交資料淺井素描圖淺井文字記錄冊（坑探工程原始地質(zhì)記錄表裝訂成冊）。樣槽在編錄壁上一般呈鉛直狀連續(xù)布置。文字記錄的內(nèi)容應(yīng)與素描圖上的內(nèi)容完全一致，因此在編錄 過程中記錄人員和作圖者應(yīng)經(jīng)常聯(lián)系、核對，如發(fā)現(xiàn)問題便于現(xiàn)場修正。從立體圖可見，求E、F兩點(diǎn)位置無須投影，直接丈量A1－E和B1－F距離即可。井底素描按正投影繪制。三、淺井地質(zhì)編錄㈠ 地質(zhì)編錄要求編錄及時性：由于淺井施工中常常需要進(jìn)行井壁支護(hù)，從而遮蓋了所揭露的地質(zhì)現(xiàn)象。文字記錄：在地質(zhì)記錄表上依次記錄。之內(nèi)時，取平均值作為基線的方位角和坡角。當(dāng)兩壁上基巖露頭的地質(zhì)現(xiàn)象可對應(yīng)吻合時：東西向或大致東西向的探槽選北壁，南北向或大致南北向探槽選東壁。測手：一般由技術(shù)人員或熟練的地質(zhì)工擔(dān)任。明確區(qū)別開實(shí)際觀測資料與推斷解釋資料。第二先用鉛筆展繪，待自檢和組內(nèi)檢查無誤后，再用防水墨汁上墨，對地質(zhì)界線或斷層線的推測地段不要急于上墨，要待圖切剖面合理解釋或經(jīng)野外檢查、室內(nèi)審查后再上墨。手圖整理：檢查圖中的觀察點(diǎn)、觀察路線、產(chǎn)狀、填圖單元代號、標(biāo)本、樣品、照像等位置、數(shù)據(jù)以及界線勾繪是否無錯漏，然后上墨。鑒定標(biāo)本規(guī)格可適當(dāng)減小。觀察描述內(nèi)容主要有：巖石名稱、巖石特征（顏色、風(fēng)化特征、礦物成分、結(jié)構(gòu)、構(gòu)造等）等；古生物及遺跡化石；蝕變及礦化現(xiàn)象；礦脈（層）、巖脈的巖礦石名稱、巖礦石特征、產(chǎn)狀、厚度、穿插關(guān)系；地質(zhì)體及地質(zhì)構(gòu)造（褶皺、斷裂、破碎帶等）的產(chǎn)狀、性質(zhì)、接觸關(guān)系、垂直及水平方向上的變化等。地質(zhì)點(diǎn)代號為D，地質(zhì)點(diǎn)順序號全礦區(qū)用阿拉伯?dāng)?shù)字順序編號如4．．．．．．。定位要求：觀察點(diǎn)定位的精度要求，是根據(jù)填圖比例尺大小、填圖精度（精測、簡測、草測等）、觀察點(diǎn)類別（基本觀察點(diǎn)、加密觀察點(diǎn)、巖性產(chǎn)狀觀察點(diǎn)）等因素確定的。③ 三類：巖性或產(chǎn)狀觀察點(diǎn)：為控制和了解地質(zhì)界線之間巖層產(chǎn)狀變化及巖性特征、滿足觀察密度和數(shù)量而布置的觀察點(diǎn)。觀察路線布置填圖工作應(yīng)貫徹從已知到未知的原則。㈡ 地質(zhì)踏勘針對擬定的工作重點(diǎn)和需要解決的問題，選擇路線對 測區(qū)進(jìn)行踏勘調(diào)查。從使用的范圍和目的出發(fā)，一般在普查找礦階段。有物化探工作的，可在柱狀圖右側(cè)表示物化探曲線。六、實(shí)測地質(zhì)剖面圖中表示的主要內(nèi)容及要求實(shí)測地質(zhì)剖面圖主要內(nèi)容如圖1－8所示： ㈠ 導(dǎo)線平面圖上表示的主要內(nèi)容：正北方位線，導(dǎo)線（長度以平距計(jì)）、地層界線、地質(zhì)點(diǎn)、地層代號、巖漿巖代號、礦層（體）、蝕變帶、斷層、采樣點(diǎn)、探礦工程、地質(zhì)產(chǎn)狀（選擇表示），主要地物等。β＝10176。第二步：界線及各地質(zhì)要素投影。根據(jù)各導(dǎo)線斜長和坡度，計(jì)算得出各導(dǎo)線平距和導(dǎo)線兩端點(diǎn)高差。查表得視傾角37176。坡角+5176。2）樣品采集：按剖面設(shè)計(jì)需要，還可采集化學(xué)分析樣，光譜分析樣、巖石全分析樣、古地磁測定樣、同位素年齡測定樣等。如圖1－3： 圖中：A2－3導(dǎo)線坡度與地形坡度一致，地形線不需投影，J1與J2界線直接與導(dǎo)線相交，交點(diǎn)在導(dǎo)線上讀數(shù)（5m、）即為界線位置。隨地形剖面測量進(jìn)展，在導(dǎo)線布置同時要求作自然剖面圖和導(dǎo)線平面圖。㈢ 編制實(shí)測地質(zhì)剖面設(shè)計(jì)書目的：剖面線位置、總體方向、比例尺、工作量（含地質(zhì)工作量、工程工作量）、完成期限。4）選擇巖石變質(zhì)或蝕變較淺的地段。地質(zhì)剖面圖按精確程度分為實(shí)測剖面圖，圖切剖面圖、隨手剖面圖等。實(shí)測地質(zhì)剖面一般是在地質(zhì)填圖的初始階段進(jìn)行。㈡ 剖面踏勘：剖面線的位置基本選定后，礦區(qū)技術(shù)負(fù)責(zé)人組織有關(guān)人員沿線進(jìn)行踏勘。礦區(qū)地質(zhì)圖實(shí)測地質(zhì)剖面圖勘查線剖面圖1：250001：2000－1：10001：5000－1：100001：100001：1000－1：5001：2000－1：50001：50001：500－1：2001：2000－1：50001：20001：200－1：1001：1000－1：20001：10001：1001：500－1：10002）精度要求剖面圖分層精度是根據(jù)剖面比例尺大小確定，凡在剖面圖上寬度達(dá)1mm的地質(zhì)體均應(yīng)劃分和表示。A1－2 斜長30米，方位角30176。描述內(nèi)容一般有以下項(xiàng)目：① 巖石名稱：采用復(fù)合定名，如灰色中厚層狀鈣質(zhì)細(xì)砂巖。㈤ 野外資料整理整理要求：在剖面測制過程中，要求資料當(dāng)天整理，避免人為造成資料混亂甚至錯誤。A34，斜距20m，方向26176。在此基礎(chǔ)上確定投影方法。＝ A2－3 平距＝26米cos10176。1）投影基線通過主要導(dǎo)線，如圖1－6。Cos10176。㈣ 如果實(shí)測地質(zhì)剖面同時進(jìn)行了物化探工作，物化探曲線圖視具體情況，可以放在在剖面圖上方，也可另外單獨(dú)作圖。㈡ 地質(zhì)成果簡述剖面測區(qū)的區(qū)域構(gòu)造部位、地層、構(gòu)造特征。㈣ 1：5000－1：1000地質(zhì)填圖是在礦床（區(qū)）普詳查或勘探階段進(jìn)行，主要任務(wù)是：全面而詳細(xì)研究礦床（區(qū)）地層、巖石、構(gòu)造、礦體形態(tài)、規(guī)模、產(chǎn)狀、礦石質(zhì)量、礦石類型及其空間分布；研究礦體與圍巖的關(guān)系及圍巖蝕變等。應(yīng)強(qiáng)調(diào)要做到四個統(tǒng)一，即統(tǒng)一地層劃分和巖性分層、統(tǒng)一野外巖石命名、統(tǒng)一填圖方法和要求、統(tǒng)一圖式圖例。在布置觀察線時應(yīng)著重強(qiáng)調(diào)的是，不僅僅是考慮觀察線之間的距離，還要考慮基巖出露的良好地段，若出現(xiàn)布置的兩條觀察線距大于規(guī)定的線距，則可在其間布置短觀察線彌補(bǔ)。在具體工作過程中，觀察點(diǎn)布置應(yīng)在含礦巖層或礦層頂板和構(gòu)造（褶皺、斷層等）附近密集些，反之在非礦層附近和構(gòu)造簡單地段可放稀的原則。實(shí)測地質(zhì)點(diǎn)就是在露頭上布置控制地質(zhì)界線、斷層線、巖性的觀察點(diǎn)。如果多個填圖組，則可分號段使用。如D1H1為1號地質(zhì)點(diǎn)1號揀塊分析樣。填圖中采樣的數(shù)量很有限，要求在觀察點(diǎn)或路線上出現(xiàn)的零星小礦體露頭或其它礦種的礦化點(diǎn)進(jìn)行采樣。對潮濕的樣品及時安排烘烤或曬樣，以免樣袋發(fā)霉損壞，同時稱重，填寫樣簽。照相記錄表、照片集。載質(zhì)材料優(yōu)良，圖表用80克以上的紙張，幅面尺寸185260mm或2n倍（n＝0、2．．．．．．）。作圖員準(zhǔn)備：小圖版（一般規(guī)格6045cm）、座標(biāo)紙（一般規(guī)格5035cm）用量按下列辦法計(jì)劃：繪圖坐標(biāo)紙張數(shù)＝擬編錄探槽長度（m）作圖比例尺247。當(dāng)?shù)V體厚度不大或礦石類型復(fù)雜或礦化不均勻時，樣長不宜過長，一般不應(yīng)大于可采厚度或夾石剔除厚度。時，在拐點(diǎn)處設(shè)基點(diǎn)，但槽壁及槽底均可連續(xù)素描。將c、d、e點(diǎn)相聯(lián)為基巖線；將f、g、j點(diǎn)相聯(lián)為槽底線；將k、I點(diǎn)相聯(lián)為鐵礦（Fe）頂界；將n、m點(diǎn)相聯(lián)為鐵礦底界。1）確定首選壁（第一壁）：地質(zhì)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，淺井素描的第一壁應(yīng)首選正北壁、北西壁、北東壁、正東壁。② 界線投影方法上圖的淺井立體圖中選擇第一壁是北西壁，它垂直勘查線方向，因此第一壁和第三壁上反映了地質(zhì)體的走向方向，第二壁和第四壁平行勘查線方向，壁上表現(xiàn)是地質(zhì)體傾斜方向。如素描圖是1：50，實(shí)際地質(zhì)體寬（厚）度≥5cm，長度≥15cm都要求反映到圖上?！?，．．．．．。另外在編錄、采樣過程中，應(yīng)安排專人留守井口，防止掉塊、掉物傷人。小圓井掘進(jìn)與要求1）橫截面為圓形。在展開圖井壁上則呈水平直線定點(diǎn)。其余工作由組長協(xié)調(diào)，小組人員必須密切協(xié)作，方能完成整個編錄工作。在沉積巖中編錄時，巖石成層性明顯，坑道方向改變后，坑道壁上的傾角線、頂板上的走向線在投影時，方向和角度都有變化，出現(xiàn)巖石花紋不連續(xù)，用直線在轉(zhuǎn)向處分開（圖4－8）?；€應(yīng)測量距離（米）、方向（度）、坡度（正或負(fù)）。③ 樣品編號：采用樣號全稱，即坑道號＋化學(xué)樣代號＋化學(xué)樣順序號。③ 坑道壁斜度≥75176。 礦石中夾石厚度小于剔除厚度時，應(yīng)合并到相鄰低品級樣中自然貧化（圖414b）⑤ 樣槽數(shù)據(jù)樣槽數(shù)據(jù)包括樣品號、樣槽長度、方向坡度。② 含礦層中分層要求要求對含礦巖層中劃分不同的礦體、不同的礦化類型、不同的含礦巖石、不同的工業(yè)品級?；c(diǎn)定位一般要求測量儀器測定，在普查階段施工的坑道，基點(diǎn)也可由地質(zhì)人員用半儀器法測定?？拥谰蜻M(jìn)質(zhì)量基本達(dá)到設(shè)計(jì)要求，方能驗(yàn)收?？拥涝嫉刭|(zhì)編錄是對坑道的兩壁一頂或一壁一頂進(jìn)行綜合的（地層的、巖石的、礦產(chǎn)的、構(gòu)造的等）觀察研究，對研究過程和所提示的地質(zhì)現(xiàn)象進(jìn)行真實(shí)、準(zhǔn)確、完善的素描和記錄。㈡ 小圓井地質(zhì)編錄 小圓井素描圖 按地質(zhì)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求繪制兩壁及底。檢查記錄中是否有漏、錯字現(xiàn)象，地質(zhì)用語是否恰當(dāng)、語言是否通順等。描述斷層，應(yīng)記錄斷層特征（含斷層面、破碎帶、兩盤相對移動方向等），達(dá)到反映斷層性質(zhì)和破壞程度等。在第一壁和第四壁交線井口處，打入編有淺井編號的木樁即為基點(diǎn)，基點(diǎn)亦是淺井的坐標(biāo)點(diǎn)。如圖317a：淺井立體圖中：ABCD分層界面，界面之上為石灰?guī)r，界面之下為砂巖。四壁展開作法，當(dāng)?shù)谝槐诖_定后，鄰壁（第一壁的左側(cè)壁）按反時針方向旋轉(zhuǎn)展開。揭露礦化、蝕變帶，礦層（體）和物化探、重砂異常。采用自動化系統(tǒng)繪圖的素描圖：不作手工素描圖，這時，槽壁繪成以基線為頂?shù)牡雀唛L條形，各地質(zhì)編錄要素均沿地質(zhì)走向投影到基線上、槽底為以基線為圖上方邊線的等寬正投影。㈡ 設(shè)置基線基線布置在編錄壁上?？滩蹣訕叮耗举|(zhì)或竹質(zhì)，一般規(guī)格長1520cm，寬34cm，數(shù)量約為估計(jì)刻槽取樣數(shù)的2倍，因?yàn)槊考拥钠稹⒅刮恢枚紤?yīng)打樁。組長：一般由工程師或熟悉探槽工作的技術(shù)人員擔(dān)任。井探原始地質(zhì)編錄的對象是經(jīng)地質(zhì)、施工管理及施工人員三方現(xiàn)場驗(yàn)收，施工質(zhì)量符合要求并已達(dá)到地質(zhì)目的的淺井及小園井等。實(shí)際材料圖內(nèi)容：1）用與填圖手圖同版的、未折疊、無皺紋、無缺損的地形圖作為底圖，將填圖手圖中填繪的全部內(nèi)容（觀察點(diǎn)、路線、標(biāo)本、樣品、產(chǎn)狀、已施工工程、各種地質(zhì)界線、斷層線等等的位置、編號、代號）展繪到新的地形圖上。資料整理要求是完成當(dāng)天填圖取得的文字、圖、實(shí)物等資料，不允許累計(jì)幾天資料作一次性整理。同一界線（斷層線）勾繪連接后，應(yīng)為一條較圓滑的自然曲線而不應(yīng)勾繪成一條折線。第二，應(yīng)記錄地質(zhì)現(xiàn)象性質(zhì)和特征并說明與已知觀察點(diǎn)有無差異或變化。地質(zhì)觀察點(diǎn)記錄一般野外要求用2H鉛筆作文字記錄和手圖勾繪，也可用防水墨汁記錄。2）觀察點(diǎn)定位：① 定位方法：a. 儀器法：觀察點(diǎn)定位用經(jīng)緯儀視距法測量，提交觀察點(diǎn)的X、Y座標(biāo)數(shù)據(jù)的精度最高，一般適用于重要或勘查程度高的礦區(qū)；用GPS全球衛(wèi)星定位儀測量精度也較高，適用于預(yù)查－普查礦區(qū)。① 一類：基本觀察點(diǎn)：是控制測區(qū)地質(zhì)界線和基本構(gòu)造形態(tài)而布置的觀察點(diǎn)。填圖人員一般根據(jù)填圖面積、精度要求、時間、定額等因素，確定填圖小組個數(shù)。測區(qū)內(nèi)發(fā)現(xiàn)的礦產(chǎn)種類、賦存層位、礦體規(guī)模、礦物成分、礦石類型、品位等。新發(fā)現(xiàn)、新進(jìn)展及新認(rèn)識。七、綜合地層柱狀圖㈠ 要求在實(shí)測地質(zhì)剖面工作（野外測繪、作圖、地層厚度計(jì)算、測試成果、文字整理及修正等）全部完成后，經(jīng)剖面相互對比、綜合分析的基礎(chǔ)上繪制測區(qū)綜合地層柱狀圖。﹚＝㈡ 厚度計(jì)算應(yīng)注意的問題地層厚度數(shù)值取舍，按比例尺大小確定，當(dāng)剖面比例尺小于1：1000時，取整數(shù)；當(dāng)比例尺大于或等于1：1000時，厚度值取小數(shù)點(diǎn)后一位。例如：某實(shí)測剖面中某段導(dǎo)線記錄如下：A2－3，斜距25米，方向35176。第二步，將平面圖各導(dǎo)線上的分層界線和其它地質(zhì)內(nèi)容，仍用向上方投影的方法與剖面地形線相交一點(diǎn)，該點(diǎn)亦是界線點(diǎn)或者其它內(nèi)容的點(diǎn)，用視傾角線作界線、用相應(yīng)的圖示圖例表示其它地質(zhì)內(nèi)容。A12，斜長21m，方向30176。27′），畫出界線（視傾角線），在界線兩側(cè)按巖性（圖例）畫巖性花紋。當(dāng)導(dǎo)線方向變化不大時，用展開法；當(dāng)導(dǎo)線方位多變，轉(zhuǎn)折較多時宜用投影法。蝕變帶往往具礦化，不類型的蝕變帶具有不同的礦化特征，觀察蝕變帶與礦化帶或礦體的相互位置、空間關(guān)系及厚度等。＝A2－3 平距＝26米cos30176。具體操作：以剖面的一個端點(diǎn)為起點(diǎn)，在起點(diǎn)處打入寫有編號的木樁（如A0表示A剖面的0號點(diǎn)），后側(cè)手站于0點(diǎn)處，前測手向剖面前進(jìn)方向推進(jìn)，在地形明顯變化處或與0點(diǎn)有一定距離處設(shè)置導(dǎo)線點(diǎn)（A1點(diǎn)）并打入編號的木樁或用油漆編號。第一，地層單位的出露位置、填圖單元劃分及位置、化石層位等。㈡ 實(shí)測勘查線剖面勘查線剖面主要反映礦區(qū)礦體與圍巖之間的界線、礦體中各種自然類型礦石和各種工藝品級礦石之間的界線，各種構(gòu)造界線；礦體的數(shù)量、規(guī)模、形態(tài)、分布、產(chǎn)狀、厚度，構(gòu)造對礦體的破壞和控制等。第一章 實(shí)測地質(zhì)剖面的原始地質(zhì)編錄一、目的地質(zhì)剖面又稱地質(zhì)斷面，它是指沿某一個方向，顯示在一定深度內(nèi)地質(zhì)構(gòu)造情況的實(shí)際或推斷的切（斷）面?？辈榫€的端點(diǎn)要埋設(shè)水泥樁，水泥樁要編號，要測量座標(biāo)（X、Y、Z）。通過踏勘應(yīng)解決和統(tǒng)一以下認(rèn)識。表格：1）剖面及坑探工程基點(diǎn)基線記錄表（DZ／T0078－93表A4）2）剖面及坑探工程原始地質(zhì)記錄表（DZ／T0078－93表A5）3）剖面及坑探工程地質(zhì)綜合表（DZ／T0078－93 表A7）4）照相記錄表（DZ／T0078－93表A2）5）地表及坑探工程標(biāo)本樣品采樣記錄表（DZ／T0078－93表A6）6）礦區(qū)地表及坑探工程樣品登記表（DZ／T0078－93表A19）7）礦區(qū)標(biāo)本登記表（DZ／T0078－93表A18）8）樣品簽、標(biāo)本簽9）傾角換算表（自備）三、實(shí)測地質(zhì)剖面的測制㈠ 地形剖面測量實(shí)測地質(zhì)剖面的地形線測量用半儀器法，由地質(zhì)人員測制。＝A1－2 平距＝30米