【正文】 工具（采樣工準(zhǔn)備、同坑道采樣）、標(biāo)本紙、樣品袋等。將c、d、e點(diǎn)相聯(lián)為基巖線；將f、g、j點(diǎn)相聯(lián)為槽底線；將k、I點(diǎn)相聯(lián)為鐵礦（Fe）頂界；將n、m點(diǎn)相聯(lián)為鐵礦底界。① 首先根據(jù)探槽的長度，高差等計(jì)劃好圖名、比例尺、基線起點(diǎn)、槽壁、槽底、責(zé)任表及樣品分析結(jié)果表在座標(biāo)紙上的相應(yīng)位置，要求布局合理，整齊美觀。時，在拐點(diǎn)處設(shè)基點(diǎn)，但槽壁及槽底均可連續(xù)素描。當(dāng)探槽過長或有拐彎時，應(yīng)分段設(shè)置基點(diǎn)及基線（如圖3－4）。當(dāng)?shù)V體厚度不大或礦石類型復(fù)雜或礦化不均勻時，樣長不宜過長，一般不應(yīng)大于可采厚度或夾石剔除厚度。采樣工準(zhǔn)備：樣品袋（一般用白布縫制，可裝5－10公斤礦樣）、圓釬頭（常備5支）、扁釬頭（常備3支）、手錘、刷子、采樣布（一般準(zhǔn)備22m的兩塊、11m的兩塊；油布或編織布）、稱、鋼卷尺、羅盤、樣簽、采樣登記表、鋼筆、毛筆、紅油漆。作圖員準(zhǔn)備：小圖版（一般規(guī)格6045cm）、座標(biāo)紙（一般規(guī)格5035cm）用量按下列辦法計(jì)劃：繪圖坐標(biāo)紙張數(shù)＝擬編錄探槽長度（m）作圖比例尺247。要求掌握有關(guān)規(guī)范，設(shè)計(jì)及工作細(xì)則，熟悉探槽周圍地質(zhì)情況。載質(zhì)材料優(yōu)良，圖表用80克以上的紙張，幅面尺寸185260mm或2n倍（n＝0、2．．．．．．）。第一節(jié) 槽探編錄一、現(xiàn)場編錄的基本內(nèi)容觀察研究并記錄探槽所揭示的地質(zhì)現(xiàn)象。照相記錄表、照片集。3）圖面整飾：圖框、圖名、比例尺、圖簽（責(zé)任簽）。對潮濕的樣品及時安排烘烤或曬樣，以免樣袋發(fā)霉損壞，同時稱重，填寫樣簽。地質(zhì)觀察點(diǎn)路線記錄表或野外記錄本整理；表格中內(nèi)容是否填寫齊全，文字是否通順、錯漏字、專業(yè)術(shù)語準(zhǔn)確與否。填圖中采樣的數(shù)量很有限，要求在觀察點(diǎn)或路線上出現(xiàn)的零星小礦體露頭或其它礦種的礦化點(diǎn)進(jìn)行采樣。標(biāo)本、樣品采集1）標(biāo)本采集：要求在觀察點(diǎn)或觀察線上采集，目的是彌補(bǔ)實(shí)測地質(zhì)剖面的系統(tǒng)標(biāo)本或者是為了解決新出現(xiàn)的特殊巖（礦）石、化石的命名，因此，采集數(shù)量不應(yīng)太多，也不要求系統(tǒng)。如D1H1為1號地質(zhì)點(diǎn)1號揀塊分析樣。第四，要求每條路線的觀察記錄具有連續(xù)性。如果多個填圖組，則可分號段使用。記錄內(nèi)容作以下說明：1）礦區(qū)名稱：用礦區(qū)代號表示。實(shí)測地質(zhì)點(diǎn)就是在露頭上布置控制地質(zhì)界線、斷層線、巖性的觀察點(diǎn)。精度一般。在具體工作過程中，觀察點(diǎn)布置應(yīng)在含礦巖層或礦層頂板和構(gòu)造（褶皺、斷層等）附近密集些，反之在非礦層附近和構(gòu)造簡單地段可放稀的原則。該類觀察點(diǎn)要求作詳細(xì)的文字記錄，必要時加作放大素描（剖面或平面圖等）。在布置觀察線時應(yīng)著重強(qiáng)調(diào)的是，不僅僅是考慮觀察線之間的距離，還要考慮基巖出露的良好地段，若出現(xiàn)布置的兩條觀察線距大于規(guī)定的線距，則可在其間布置短觀察線彌補(bǔ)。㈡ 填圖方法根據(jù)礦區(qū)確定的填圖單元，采用穿越法、追索法或者二者相結(jié)合的方法填圖。應(yīng)強(qiáng)調(diào)要做到四個統(tǒng)一，即統(tǒng)一地層劃分和巖性分層、統(tǒng)一野外巖石命名、統(tǒng)一填圖方法和要求、統(tǒng)一圖式圖例。收集測區(qū)地形圖（應(yīng)與填圖比例尺相同或更大的比例尺），收集測區(qū)內(nèi)測量控制點(diǎn)等資料。㈣ 1：5000－1：1000地質(zhì)填圖是在礦床（區(qū)）普詳查或勘探階段進(jìn)行，主要任務(wù)是：全面而詳細(xì)研究礦床（區(qū)）地層、巖石、構(gòu)造、礦體形態(tài)、規(guī)模、產(chǎn)狀、礦石質(zhì)量、礦石類型及其空間分布；研究礦體與圍巖的關(guān)系及圍巖蝕變等。第二章 地質(zhì)填圖一、地質(zhì)填圖的目的任務(wù)㈠ 地質(zhì)填圖又稱地質(zhì)測量。㈡ 地質(zhì)成果簡述剖面測區(qū)的區(qū)域構(gòu)造部位、地層、構(gòu)造特征。各時代地層和各填圖單位。㈣ 如果實(shí)測地質(zhì)剖面同時進(jìn)行了物化探工作，物化探曲線圖視具體情況，可以放在在剖面圖上方，也可另外單獨(dú)作圖。巖脈：巖脈在圖上顯示的寬度小于1mm者，可不必剔除，大于或等于1mm者則應(yīng)剔除。Cos10176。0－5米：砂巖5－23米：白云質(zhì)灰?guī)r 產(chǎn)狀200176。1）投影基線通過主要導(dǎo)線，如圖1－6。第三步，完善剖面圖和整飾二次投影法：在繪制路線地質(zhì)圖的基礎(chǔ)上，選擇投影基線方向，要求投影基線方向與剖面圖方向一致。＝ A2－3 平距＝26米cos10176。A34，斜長16m，方向31176。在此基礎(chǔ)上確定投影方法。導(dǎo)線方向28176。A34，斜距20m，方向26176。在每一導(dǎo)線的起點(diǎn)均應(yīng)標(biāo)注導(dǎo)線方位角，分層等位置就是野外投影在導(dǎo)線上的斜距讀數(shù)，導(dǎo)線上巖層傾角應(yīng)換算成視傾角畫分層界線和巖石花紋。㈤ 野外資料整理整理要求：在剖面測制過程中，要求資料當(dāng)天整理，避免人為造成資料混亂甚至錯誤。5）地質(zhì)構(gòu)造：主要指次生構(gòu)造、包括褶皺、斷層、節(jié)理、劈理以及沉積巖中后沉積作用構(gòu)造如化學(xué)作用的結(jié)核、瘤塊和裂隙充填形成的巖墻等特征、類型、規(guī)模、形態(tài)、產(chǎn)狀等。描述內(nèi)容一般有以下項(xiàng)目：① 巖石名稱：采用復(fù)合定名，如灰色中厚層狀鈣質(zhì)細(xì)砂巖。分層就是根據(jù)剖面比例尺要求、礦區(qū)的實(shí)際，按野外標(biāo)志將地層、巖體等劃分為詳略不同的巖性層、巖相帶等，作為地質(zhì)觀察描述和剖面圖反映地層特征的基本組成部分。A1－2 斜長30米，方位角30176。然后，前后兩側(cè)手用羅盤互相照準(zhǔn)對方，分別測量導(dǎo)線方位和坡度，兩人測量數(shù)據(jù)相差不大時（一般＜5176。礦區(qū)地質(zhì)圖實(shí)測地質(zhì)剖面圖勘查線剖面圖1：250001：2000－1：10001：5000－1：100001：100001：1000－1：5001：2000－1：50001：50001：500－1：2001：2000－1：50001：20001：200－1：1001：1000－1：20001：10001：1001：500－1：10002）精度要求剖面圖分層精度是根據(jù)剖面比例尺大小確定，凡在剖面圖上寬度達(dá)1mm的地質(zhì)體均應(yīng)劃分和表示。第三，礦化（體）層或蝕變特征及位置。㈡ 剖面踏勘：剖面線的位置基本選定后，礦區(qū)技術(shù)負(fù)責(zé)人組織有關(guān)人員沿線進(jìn)行踏勘。二、實(shí)測地質(zhì)剖面的準(zhǔn)備工作㈠ 實(shí)測地質(zhì)剖面位置的選擇及布置剖面位置選擇1）選擇地層相對較發(fā)育出露較齊全的地段。實(shí)測地質(zhì)剖面一般是在地質(zhì)填圖的初始階段進(jìn)行。表示地質(zhì)剖面的圖件，稱為地質(zhì)剖面圖。地質(zhì)剖面圖按精確程度分為實(shí)測剖面圖，圖切剖面圖、隨手剖面圖等。礦區(qū)勘查線剖面一般是一系列等間距、互相平行的直線，根據(jù)實(shí)際也可布置為放射狀。4）選擇巖石變質(zhì)或蝕變較淺的地段。地層組合及巖性特征。㈢ 編制實(shí)測地質(zhì)剖面設(shè)計(jì)書目的：剖面線位置、總體方向、比例尺、工作量（含地質(zhì)工作量、工程工作量）、完成期限。㈣ 工具、材料、表格工具：釘錘、羅盤、放大鏡、測繩或皮尺、鋼卷尺、測斜儀、氣壓計(jì)、計(jì)算器、照相機(jī)、三角板、量角器、圖板、講義夾、圖包等。隨地形剖面測量進(jìn)展，在導(dǎo)線布置同時要求作自然剖面圖和導(dǎo)線平面圖。坡度30176。如圖1－3： 圖中：A2－3導(dǎo)線坡度與地形坡度一致，地形線不需投影，J1與J2界線直接與導(dǎo)線相交，交點(diǎn)在導(dǎo)線上讀數(shù)（5m、）即為界線位置。④ 其他特理特征：斷面、光澤、硬度、比重等，例：貝殼狀斷口，珍珠光澤，中等硬度等。2）樣品采集：按剖面設(shè)計(jì)需要，還可采集化學(xué)分析樣，光譜分析樣、巖石全分析樣、古地磁測定樣、同位素年齡測定樣等。3）標(biāo)本、樣品整理：清理標(biāo)本、樣品，檢查編號、登記無丟失、無遺漏。坡角+5176。/50176。查表得視傾角37176。坡度+5176。根據(jù)各導(dǎo)線斜長和坡度，計(jì)算得出各導(dǎo)線平距和導(dǎo)線兩端點(diǎn)高差。＝ ，高差16sin6176。第二步：界線及各地質(zhì)要素投影。五、地層厚度計(jì)算㈠ 按各導(dǎo)線分層進(jìn)行計(jì)算厚度計(jì)算公式：D=L（sinσ．sinβ．sinγ177。β＝10176。Cos60176。六、實(shí)測地質(zhì)剖面圖中表示的主要內(nèi)容及要求實(shí)測地質(zhì)剖面圖主要內(nèi)容如圖1－8所示： ㈠ 導(dǎo)線平面圖上表示的主要內(nèi)容：正北方位線，導(dǎo)線（長度以平距計(jì)）、地層界線、地質(zhì)點(diǎn)、地層代號、巖漿巖代號、礦層（體）、蝕變帶、斷層、采樣點(diǎn)、探礦工程、地質(zhì)產(chǎn)狀（選擇表示），主要地物等。導(dǎo)線平面圖上按平移方向、平移實(shí)際距離（平距）另作起點(diǎn)。有物化探工作的，可在柱狀圖右側(cè)表示物化探曲線。巖漿巖及巖脈。從使用的范圍和目的出發(fā)，一般在普查找礦階段。二、地質(zhì)填圖準(zhǔn)備工作㈠ 資料收集：收集工作區(qū)內(nèi)或大一些范圍內(nèi)有關(guān)前人工作成果資料。㈡ 地質(zhì)踏勘針對擬定的工作重點(diǎn)和需要解決的問題，選擇路線對 測區(qū)進(jìn)行踏勘調(diào)查。實(shí)測地質(zhì)剖面比例尺的選定，應(yīng)根據(jù)礦區(qū)地質(zhì)、構(gòu)造等因素的復(fù)雜程度來確定，一般有1：2000－1：100幾種。觀察路線布置填圖工作應(yīng)貫徹從已知到未知的原則。如圖2－2。③ 三類：巖性或產(chǎn)狀觀察點(diǎn)：為控制和了解地質(zhì)界線之間巖層產(chǎn)狀變化及巖性特征、滿足觀察密度和數(shù)量而布置的觀察點(diǎn)。若需要儀器測定點(diǎn)位時，還應(yīng)在觀察點(diǎn)附近掛上小紅旗以便找點(diǎn)方便。定位要求：觀察點(diǎn)定位的精度要求，是根據(jù)填圖比例尺大小、填圖精度（精測、簡測、草測等）、觀察點(diǎn)類別（基本觀察點(diǎn)、加密觀察點(diǎn)、巖性產(chǎn)狀觀察點(diǎn)）等因素確定的。如某一巖性碎塊在山坡出現(xiàn)的最高位置，該位置可示為該巖性層的上接觸面。地質(zhì)點(diǎn)代號為D，地質(zhì)點(diǎn)順序號全礦區(qū)用阿拉伯?dāng)?shù)字順序編號如4．．．．．．。4）路線：指相鄰兩個觀察點(diǎn)之間的觀察路線，如D1－D2 表示1號地質(zhì)點(diǎn)到2號地質(zhì)點(diǎn)之間的路線。觀察描述內(nèi)容主要有：巖石名稱、巖石特征（顏色、風(fēng)化特征、礦物成分、結(jié)構(gòu)、構(gòu)造等）等；古生物及遺跡化石；蝕變及礦化現(xiàn)象；礦脈（層）、巖脈的巖礦石名稱、巖礦石特征、產(chǎn)狀、厚度、穿插關(guān)系；地質(zhì)體及地質(zhì)構(gòu)造（褶皺、斷裂、破碎帶等）的產(chǎn)狀、性質(zhì)、接觸關(guān)系、垂直及水平方向上的變化等。但在勾繪連接界線（斷層線）時充分考慮兩點(diǎn)間距離的遠(yuǎn)近、產(chǎn)狀及變化、有無斷層切割等因素。鑒定標(biāo)本規(guī)格可適當(dāng)減小。樣品采集后，編號（編號原則同標(biāo)本）填樣品簽、在記錄表中記錄、裝袋等。手圖整理：檢查圖中的觀察點(diǎn)、觀察路線、產(chǎn)狀、填圖單元代號、標(biāo)本、樣品、照像等位置、數(shù)據(jù)以及界線勾繪是否無錯漏，然后上墨。3）待一定階段或一定數(shù)量的標(biāo)本、樣品后，按登記表中標(biāo)本、樣品填寫送樣單，并填寫鑒定要求和分析項(xiàng)目。第二先用鉛筆展繪，待自檢和組內(nèi)檢查無誤后，再用防水墨汁上墨，對地質(zhì)界線或斷層線的推測地段不要急于上墨，要待圖切剖面合理解釋或經(jīng)野外檢查、室內(nèi)審查后再上墨。地質(zhì)圖。明確區(qū)別開實(shí)際觀測資料與推斷解釋資料。使用的術(shù)語、代號、編碼應(yīng)符合GB9649的規(guī)定。測手：一般由技術(shù)人員或熟練的地質(zhì)工擔(dān)任。測手準(zhǔn)備：基線樁：木質(zhì)，一般規(guī)格長3040cm，粗44cm斷面為方形（其中一面，比較平整、利于編號、一端呈錐狀）、數(shù)量根據(jù)擬編探槽長度每25m左右一根計(jì)劃。當(dāng)兩壁上基巖露頭的地質(zhì)現(xiàn)象可對應(yīng)吻合時：東西向或大致東西向的探槽選北壁，南北向或大致南北向探槽選東壁。樣品編號原則：化學(xué)樣編號為工程編號＋化學(xué)分析樣代號(H)＋該工程中本類樣品順序號組成（其它手標(biāo)本、薄片、光片、大小體重等樣品編號原則類似）。之內(nèi)時，取平均值作為基線的方位角和坡角。b. 當(dāng)拐彎方向向編錄壁彎轉(zhuǎn)時，槽底與槽壁都要裂開，槽底裂開的夾角等于拐彎方位差，槽壁底部裂開寬度與槽底一致。文字記錄：在地質(zhì)記錄表上依次記錄。c. 測量產(chǎn)狀、采集標(biāo)本、揀塊樣的位置應(yīng)用符號標(biāo)注在圖上，方法同前。三、淺井地質(zhì)編錄㈠ 地質(zhì)編錄要求編錄及時性：由于淺井施工中常常需要進(jìn)行井壁支護(hù)，從而遮蓋了所揭露的地質(zhì)現(xiàn)象?？辈榫€方向呈南北向時，可選擇正北壁為第一壁，也可選擇正東壁為第一壁；勘查線方向呈東西向時，可選擇正北壁為第一壁，也可選擇正東壁為第一壁。井底素描按正投影繪制。2）淺井底的投影作圖方法：淺井底按正投影繪制。從立體圖可見，求E、F兩點(diǎn)位置無須投影，直接丈量A1－E和B1－F距離即可。野外編錄步驟。文字記錄的內(nèi)容應(yīng)與素描圖上的內(nèi)容完全一致，因此在編錄 過程中記錄人員和作圖者應(yīng)經(jīng)常聯(lián)系、核對，如發(fā)現(xiàn)問題便于現(xiàn)場修正。（礦層底板）～5m：淺灰色中厚層狀石灰?guī)r。樣槽在編錄壁上一般呈鉛直狀連續(xù)布置。素描圖上墨對完善后的淺井素描圖，編錄人員首先自檢，再交編錄小組互檢，用防水墨汁全部上墨。五、提交資料淺井素描圖淺井文字記錄冊（坑探工程原始地質(zhì)記錄表裝訂成冊）。2）要求：?；€自基點(diǎn)鉛直布設(shè)。小圓井編錄的其他內(nèi)容、方法、要求均與淺井地質(zhì)編錄一致，參照“淺井原始地質(zhì)編錄”細(xì)則執(zhí)行。三 坑道地質(zhì)編錄的準(zhǔn)備(一) 資料及技術(shù)準(zhǔn)備1 資料準(zhǔn)備坑道地質(zhì)編錄人員應(yīng)了解和熟悉礦區(qū)，特別是坑道附近的地層、巖石、礦產(chǎn)、構(gòu)造以及巖性分層、礦層、巖礦石特征等。一般視掘進(jìn)進(jìn)度、頂、壁穩(wěn)固程度、地質(zhì)構(gòu)造復(fù)雜程度及礦區(qū)設(shè)計(jì)要求可以分段進(jìn)行編錄，也可以施工結(jié)束后一次性編錄。如遇特殊地質(zhì)現(xiàn)象，應(yīng)放大比例尺作素描。2) 清洗坑壁（由施工人員承擔(dān)）施工中坑壁往往被巖石粉塵掩蓋，一般需用水沖洗，露出完整的基巖，必要時還用鋼刷進(jìn)行刷洗，以確保觀察的清晰和準(zhǔn)確?；c(diǎn)編號，一般是從坑口向坑內(nèi)按順序依次編號，即坑口基點(diǎn)編號0點(diǎn)（站）、（前面應(yīng)代上坑道編號）、坑內(nèi)第一個中線樁編1點(diǎn)（站）、第二個中線樁編2點(diǎn)（站）、依次類推。3 綜合觀察和分層1) 綜合地質(zhì)觀察要求對坑道兩壁基巖進(jìn)行系統(tǒng)地敲打和觀察，運(yùn)用沉積巖、巖漿巖理論，觀察巖石中礦物組分、結(jié)構(gòu)、構(gòu)造及其變化，確定巖石名稱；觀察巖石的蝕變情況、蝕變礦物、蝕變程度、蝕變帶范圍等以及礦化種類、強(qiáng)弱、與蝕變的關(guān)系、礦體厚度、礦石自然類型及工業(yè)品級（目測含量）等；觀察斷裂、裂隙分布位置、斷層破碎帶特征及寬度、斷層性質(zhì)、切割礦體程度等，目的就是詳細(xì)劃分不同的巖性層、掌握蝕變或礦化（體）賦存位置、成礦有利因素、礦體破壞情況等等。主要介紹追索控制礦體施工的坑道中的采樣工作?？滩蹣釉诳颖谏喜贾靡笥糜推嵩跇悠穼?shí)際位置上劃線分樣、編號，便于采樣時依照樣品界線逐個采取。樣槽傾斜時，向上為正坡度角、向下為負(fù)坡度角。2) 投影作圖① 投影方法：以基線作水平標(biāo)尺，鋼卷