【正文】 方向35176。當(dāng)坡向與巖層傾向相同時(shí)，公式中用減號(hào)計(jì)算。第三步：整飾成圖。A－A′剖面圖，首先將平面圖上各導(dǎo)線端點(diǎn)（A0、A1．．．．．）向上方投影，在A0點(diǎn)投影線上任意選擇一點(diǎn)作為投影點(diǎn)（A0），然后分別在AA2．．．．．點(diǎn)的投影線上根據(jù)計(jì)算的高差，找到相應(yīng)的AA2．．．．．投影點(diǎn)位置，連接各投影點(diǎn)即為A－A1剖面的地形線。＝ ，高差20sin5176。坡角+8176。第三步：按斜距畫出標(biāo)本、樣品等位置，完善剖面圖其它整飾內(nèi)容后即為成圖。第二步，自界線位置（A2A37米處），按查表得視傾角的度數(shù)（37176。坡角+10176。四、實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面圖室內(nèi)繪制實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面圖常有展開法和投影法兩種方法繪制。樣品的鑒定、測(cè)試成果在整理時(shí)，要補(bǔ)充到記錄中，必要時(shí)還應(yīng)對(duì)原始記錄進(jìn)行修改。3）蝕變及礦化；描述蝕變巖石類型、圈定蝕變帶范圍和形態(tài)，觀察蝕變帶內(nèi)礦物變更情況及蝕變帶新礦物相的特征。J31與J41投影點(diǎn)為界線JJ4投影點(diǎn)，D1D2D31點(diǎn)為地形變化點(diǎn)DDD3的投影點(diǎn)，上述投影點(diǎn)在導(dǎo)線上讀數(shù)與相應(yīng)的鉛直距離為點(diǎn)的實(shí)際位置。＝A1－2 平距＝30米cos20176。并在每個(gè)導(dǎo)線端點(diǎn)上方標(biāo)注導(dǎo)線方位角，如下圖（自然剖面圖一地形線部份）導(dǎo)線平面圖是根據(jù)導(dǎo)線斜長(zhǎng)、方向、坡度，在確定了正北方向的圖紙上，按方位角及計(jì)算出的導(dǎo)線平距圖（圖1－2）。表格：1）剖面及坑探工程基點(diǎn)基線記錄表（DZ／T0078－93表A4）2）剖面及坑探工程原始地質(zhì)記錄表（DZ／T0078－93表A5）3）剖面及坑探工程地質(zhì)綜合表（DZ／T0078－93 表A7）4）照相記錄表（DZ／T0078－93表A2）5）地表及坑探工程標(biāo)本樣品采樣記錄表（DZ／T0078－93表A6）6）礦區(qū)地表及坑探工程樣品登記表（DZ／T0078－93表A19）7）礦區(qū)標(biāo)本登記表（DZ／T0078－93表A18）8）樣品簽、標(biāo)本簽9）傾角換算表（自備）三、實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面的測(cè)制㈠ 地形剖面測(cè)量實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面的地形線測(cè)量用半儀器法，由地質(zhì)人員測(cè)制。1）實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面的比例尺是根據(jù)礦區(qū)地質(zhì)填圖比例尺確定的。通過(guò)踏勘應(yīng)解決和統(tǒng)一以下認(rèn)識(shí)。剖面布置1）剖面線方向原則上應(yīng)垂直礦區(qū)地層走向?？辈榫€的端點(diǎn)要埋設(shè)水泥樁，水泥樁要編號(hào)，要測(cè)量座標(biāo)（X、Y、Z）。下面著重介紹實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面，簡(jiǎn)述勘查線剖面。第一章 實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面的原始地質(zhì)編錄一、目的地質(zhì)剖面又稱地質(zhì)斷面，它是指沿某一個(gè)方向，顯示在一定深度內(nèi)地質(zhì)構(gòu)造情況的實(shí)際或推斷的切（斷）面。㈠ 實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面地質(zhì)剖面圖是研究地層、巖體、構(gòu)造及礦產(chǎn)的基礎(chǔ)資料，根據(jù)地質(zhì)剖面的資料劃分填圖單元，是地質(zhì)填圖工作的前提。㈡ 實(shí)測(cè)勘查線剖面勘查線剖面主要反映礦區(qū)礦體與圍巖之間的界線、礦體中各種自然類型礦石和各種工藝品級(jí)礦石之間的界線，各種構(gòu)造界線；礦體的數(shù)量、規(guī)模、形態(tài)、分布、產(chǎn)狀、厚度，構(gòu)造對(duì)礦體的破壞和控制等。2）地質(zhì)構(gòu)造復(fù)雜區(qū)，剖面線方向可以與地層走向有一定夾角，但夾角一般不得小于60度。第一，地層單位的出露位置、填圖單元?jiǎng)澐旨拔恢?、化石層位等。見下表一般情況實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面比例尺為礦區(qū)填圖比例尺的10－20倍；實(shí)測(cè)勘查線剖面比例尺是礦區(qū)填圖比例尺的1－2倍。具體操作：以剖面的一個(gè)端點(diǎn)為起點(diǎn)，在起點(diǎn)處打入寫有編號(hào)的木樁（如A0表示A剖面的0號(hào)點(diǎn)），后側(cè)手站于0點(diǎn)處，前測(cè)手向剖面前進(jìn)方向推進(jìn)，在地形明顯變化處或與0點(diǎn)有一定距離處設(shè)置導(dǎo)線點(diǎn)（A1點(diǎn)）并打入編號(hào)的木樁或用油漆編號(hào)。如：某剖面導(dǎo)線已知：A0－1斜長(zhǎng)22米，方位角20176。＝A2－3 平距＝26米cos30176。在導(dǎo)線兩側(cè)測(cè)量的產(chǎn)狀和采集的標(biāo)本、樣品等，應(yīng)按巖層走向或傾向方向投影到導(dǎo)線上，并在導(dǎo)線相應(yīng)的地形線上標(biāo)注。蝕變帶往往具礦化，不類型的蝕變帶具有不同的礦化特征，觀察蝕變帶與礦化帶或礦體的相互位置、空間關(guān)系及厚度等。㈢ 物化探工作：視需要開展物化探工作，物化探工作應(yīng)與剖面測(cè)制同時(shí)進(jìn)行，如巖石化學(xué)剖面測(cè)量。當(dāng)導(dǎo)線方向變化不大時(shí)，用展開法；當(dāng)導(dǎo)線方位多變，轉(zhuǎn)折較多時(shí)宜用投影法。A23，斜距25m，方向28176。27′），畫出界線（視傾角線），在界線兩側(cè)按巖性（圖例）畫巖性花紋。展開法優(yōu)點(diǎn)是比較簡(jiǎn)單，便于野外繪制，缺點(diǎn)是轉(zhuǎn)折的展開，在剖面圖上夸大了地質(zhì)體寬度，歪曲了地形構(gòu)造形態(tài)。A12，斜長(zhǎng)21m，方向30176。＝ A1－2 平距＝30米cos8176。第二步，將平面圖各導(dǎo)線上的分層界線和其它地質(zhì)內(nèi)容，仍用向上方投影的方法與剖面地形線相交一點(diǎn)，該點(diǎn)亦是界線點(diǎn)或者其它內(nèi)容的點(diǎn)，用視傾角線作界線、用相應(yīng)的圖示圖例表示其它地質(zhì)內(nèi)容。一次或二次投影法繪制剖面圖較復(fù)雜，優(yōu)點(diǎn)是成圖后剖面圖上地層厚度基本反映了地層的真厚度，地質(zhì)體和構(gòu)造形態(tài)基本符合實(shí)際，缺點(diǎn)是剖面地形輪廓線有所歪曲。例如：某實(shí)測(cè)剖面中某段導(dǎo)線記錄如下：A2－3，斜距25米，方向35176。代入公式D＝18﹙Sin60176。﹚＝㈡ 厚度計(jì)算應(yīng)注意的問(wèn)題地層厚度數(shù)值取舍，按比例尺大小確定，當(dāng)剖面比例尺小于1：1000時(shí)，取整數(shù)；當(dāng)比例尺大于或等于1：1000時(shí)，厚度值取小數(shù)點(diǎn)后一位。巖性（花紋表示）、產(chǎn)狀（數(shù)字表示傾向、傾角），如有放大素描圖應(yīng)在剖面上方繪制并用箭頭指示位置等。七、綜合地層柱狀圖㈠ 要求在實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面工作（野外測(cè)繪、作圖、地層厚度計(jì)算、測(cè)試成果、文字整理及修正等）全部完成后，經(jīng)剖面相互對(duì)比、綜合分析的基礎(chǔ)上繪制測(cè)區(qū)綜合地層柱狀圖。工作起止時(shí)間、工作單位、主要工作人員。新發(fā)現(xiàn)、新進(jìn)展及新認(rèn)識(shí)。㈢ 布置1：25000、1：10000比例尺地質(zhì)填圖的目的，在于闡明測(cè)區(qū)地質(zhì)構(gòu)造和成礦地質(zhì)條件，用以找礦和擴(kuò)大礦床（區(qū)）遠(yuǎn)景。測(cè)區(qū)內(nèi)發(fā)現(xiàn)的礦產(chǎn)種類、賦存層位、礦體規(guī)模、礦物成分、礦石類型、品位等。踏勘過(guò)程中要勤敲打、勤觀察，并作好記錄和路線地質(zhì)剖面圖。填圖人員一般根據(jù)填圖面積、精度要求、時(shí)間、定額等因素，確定填圖小組個(gè)數(shù)。然后將剖面上確定的填圖單元界線，斷層線、侵入體界線、礦層頂?shù)装褰缇€、產(chǎn)狀等的位置，繪到手圖上。① 一類：基本觀察點(diǎn)：是控制測(cè)區(qū)地質(zhì)界線和基本構(gòu)造形態(tài)而布置的觀察點(diǎn)。觀察點(diǎn)密度及數(shù)量一般要求見下表。2）觀察點(diǎn)定位：① 定位方法：a. 儀器法：觀察點(diǎn)定位用經(jīng)緯儀視距法測(cè)量，提交觀察點(diǎn)的X、Y座標(biāo)數(shù)據(jù)的精度最高，一般適用于重要或勘查程度高的礦區(qū)；用GPS全球衛(wèi)星定位儀測(cè)量精度也較高，適用于預(yù)查－普查礦區(qū)?？傊?，填圖觀察點(diǎn)定位精度應(yīng)按照填圖設(shè)計(jì)執(zhí)行。地質(zhì)觀察點(diǎn)記錄一般野外要求用2H鉛筆作文字記錄和手圖勾繪，也可用防水墨汁記錄。地質(zhì)點(diǎn)順序號(hào)可以不連續(xù)、允許缺號(hào)，但不允許有重號(hào)。第二，應(yīng)記錄地質(zhì)現(xiàn)象性質(zhì)和特征并說(shuō)明與已知觀察點(diǎn)有無(wú)差異或變化。標(biāo)本（樣品）順序號(hào)按填圖工作統(tǒng)一的順次排列。同一界線（斷層線）勾繪連接后，應(yīng)為一條較圓滑的自然曲線而不應(yīng)勾繪成一條折線。對(duì)有特殊地質(zhì)意義的標(biāo)本，要作素描圖（包括采集點(diǎn)地質(zhì)素描圖和標(biāo)本素描圖），表示標(biāo)本所在地的地質(zhì)位置和具有的地質(zhì)意義。資料整理要求是完成當(dāng)天填圖取得的文字、圖、實(shí)物等資料，不允許累計(jì)幾天資料作一次性整理。 標(biāo)本、樣品整理：1）清理當(dāng)天采集的標(biāo)本、樣品數(shù)量。實(shí)際材料圖內(nèi)容：1）用與填圖手圖同版的、未折疊、無(wú)皺紋、無(wú)缺損的地形圖作為底圖，將填圖手圖中填繪的全部?jī)?nèi)容（觀察點(diǎn)、路線、標(biāo)本、樣品、產(chǎn)狀、已施工工程、各種地質(zhì)界線、斷層線等等的位置、編號(hào)、代號(hào)）展繪到新的地形圖上。地質(zhì)觀察線記錄表；標(biāo)本、樣品采樣登記表。井探原始地質(zhì)編錄的對(duì)象是經(jīng)地質(zhì)、施工管理及施工人員三方現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)收，施工質(zhì)量符合要求并已達(dá)到地質(zhì)目的的淺井及小園井等。測(cè)量、繪圖工具和量具的精度、質(zhì)量必須符合要求，計(jì)量單位名稱和符號(hào)須符合規(guī)定，數(shù)值要反映其精確程度，寫出全部有效數(shù)位。組長(zhǎng)：一般由工程師或熟悉探槽工作的技術(shù)人員擔(dān)任。職責(zé)：主要分工刻槽取樣，人工重砂，大體重采樣工作?？滩蹣訕叮耗举|(zhì)或竹質(zhì)，一般規(guī)格長(zhǎng)1520cm，寬34cm，數(shù)量約為估計(jì)刻槽取樣數(shù)的2倍，因?yàn)槊考拥钠?、止位置都?yīng)打樁。分層：分層單元視礦體復(fù)雜程度而定，復(fù)雜的礦體分層單元應(yīng)小于礦區(qū)填圖單元，一般礦體同礦區(qū)填圖單元一致，分層厚度及夾石剔除厚度按工業(yè)指標(biāo)或設(shè)計(jì)要求，不同礦（化）體層，不同礦石類型和工業(yè)品級(jí)、不同巖石類型和較大構(gòu)造應(yīng)分開。㈡ 設(shè)置基線基線布置在編錄壁上。注意素描圖的真實(shí)性：作圖時(shí)須根據(jù)有限的特征點(diǎn)，參看地質(zhì)體實(shí)際形態(tài)勾繪成圖（如透鏡狀、波狀、分枝狀等）。采用自動(dòng)化系統(tǒng)繪圖的素描圖：不作手工素描圖，這時(shí)，槽壁繪成以基線為頂?shù)牡雀唛L(zhǎng)條形，各地質(zhì)編錄要素均沿地質(zhì)走向投影到基線上、槽底為以基線為圖上方邊線的等寬正投影。Y坐標(biāo)＝，據(jù)此即可在圖上確定a點(diǎn)位置，再依次確定出地表b點(diǎn)的位置。揭露礦化、蝕變帶，礦層（體）和物化探、重砂異常。淺井壁展開要求及方法按地質(zhì)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，淺井素描圖繪兩壁及底（等距離或不等距離的井底掌子面）。四壁展開作法，當(dāng)?shù)谝槐诖_定后，鄰壁（第一壁的左側(cè)壁）按反時(shí)針?lè)较蛐D(zhuǎn)展開。b2位置投影，用鋼卷尺自b2點(diǎn)水平狀交于第一壁與第二壁交線上B1點(diǎn)，即b2坐標(biāo)（第二壁上）。如圖317a：淺井立體圖中：ABCD分層界面，界面之上為石灰?guī)r，界面之下為砂巖。素描圖內(nèi)容及要求1）野外繪制素描圖要求真實(shí)、準(zhǔn)確，內(nèi)容包括有巖性分層界線、礦層（體）界線、蝕變帶，斷層及破碎帶、樣品位置及編號(hào)、產(chǎn)狀等。在第一壁和第四壁交線井口處，打入編有淺井編號(hào)的木樁即為基點(diǎn)，基點(diǎn)亦是淺井的坐標(biāo)點(diǎn)。～：鐵礦層。描述斷層，應(yīng)記錄斷層特征（含斷層面、破碎帶、兩盤相對(duì)移動(dòng)方向等），達(dá)到反映斷層性質(zhì)和破壞程度等。有關(guān)要求參照坑道編錄細(xì)則執(zhí)行。檢查記錄中是否有漏、錯(cuò)字現(xiàn)象，地質(zhì)用語(yǔ)是否恰當(dāng)、語(yǔ)言是否通順等?？犹焦こ谈艣r表A3。㈡ 小圓井地質(zhì)編錄 小圓井素描圖 按地質(zhì)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求繪制兩壁及底。3）投影作圖采用垂直投影方法以基線作鉛直坐標(biāo)、鋼卷尺作水平坐標(biāo)?？拥涝嫉刭|(zhì)編錄是對(duì)坑道的兩壁一頂或一壁一頂進(jìn)行綜合的（地層的、巖石的、礦產(chǎn)的、構(gòu)造的等）觀察研究，對(duì)研究過(guò)程和所提示的地質(zhì)現(xiàn)象進(jìn)行真實(shí)、準(zhǔn)確、完善的素描和記錄。2 各種表格坑道施工通知書，坑道竣工通知書、坑道基點(diǎn)、基線記錄表、坑道工程地質(zhì)記錄表、坑道工程標(biāo)本記錄表、坑道工程樣品記錄表、標(biāo)本簽、樣簽、照相記錄表、坑道工程概況表（D2／0078－93表3）(三) 人員 坑道地質(zhì)編錄人員一般2－3人?？拥谰蜻M(jìn)質(zhì)量基本達(dá)到設(shè)計(jì)要求，方能驗(yàn)收。如示意圖（4－6）② 坑道方向轉(zhuǎn)變?cè)?5176。基點(diǎn)定位一般要求測(cè)量?jī)x器測(cè)定，在普查階段施工的坑道，基點(diǎn)也可由地質(zhì)人員用半儀器法測(cè)定?；€數(shù)據(jù)則用測(cè)量提供的數(shù)據(jù)。② 含礦層中分層要求要求對(duì)含礦巖層中劃分不同的礦體、不同的礦化類型、不同的含礦巖石、不同的工業(yè)品級(jí)。特殊情況下可將樣品布置在坑道頂板，這樣將帶來(lái)采樣操作上的麻煩和困難。 礦石中夾石厚度小于剔除厚度時(shí)，應(yīng)合并到相鄰低品級(jí)樣中自然貧化（圖414b）⑤ 樣槽數(shù)據(jù)樣槽數(shù)據(jù)包括樣品號(hào)、樣槽長(zhǎng)度、方向坡度。② 頂寬高規(guī)格與設(shè)計(jì)相差過(guò)大，則需按平均值繪制。③ 坑道壁斜度≥75176。編錄人員在編錄投影樣槽時(shí)進(jìn)行檢查，不符者進(jìn)行修正。③ 樣品編號(hào)：采用樣號(hào)全稱，即坑道號(hào)＋化學(xué)樣代號(hào)＋化學(xué)樣順序號(hào)。如某礦區(qū)含銅層中上部Ⅰ號(hào)礦體內(nèi)分別有1品級(jí)和2品級(jí)礦石段，可選擇在礦體出露的適當(dāng)位置用（Ⅰ）表示礦體號(hào)，在1品級(jí)和2品級(jí)礦石范圍內(nèi)寫上Cu1和Cu2表示。基線應(yīng)測(cè)量距離（米）、方向（度）、坡度（正或負(fù)）。坑道中有測(cè)量測(cè)定的中線樁時(shí)，地質(zhì)編錄即可用作基點(diǎn)，編號(hào)應(yīng)一致。在沉積巖中編錄時(shí)，巖石成層性明顯，坑道方向改變后，坑道壁上的傾角線、頂板上的走向線在投影時(shí)，方向和角度都有變化，出現(xiàn)巖石花紋不連續(xù)，用直線在轉(zhuǎn)向處分開（圖4－8）。2) 坑道素描圖：一般要求坑道素描圖用壓平法展開，繪制兩壁一頂。其余工作由組長(zhǎng)協(xié)調(diào)，小組人員必須密切協(xié)作，方能完成整個(gè)編錄工作。的為斜坑），若按坑道與礦層（脈）的關(guān)系，又可分為穿脈坑道、沿脈坑道。在展開圖井壁上則呈水平直線定點(diǎn)。定值直徑或平均直徑是指，小圓井設(shè)計(jì)直徑與施工后的實(shí)際直徑相差不大時(shí)，可以采用設(shè)計(jì)直徑作為編錄用直徑，也可采用設(shè)計(jì)直徑和實(shí)際直徑的平均數(shù)作為編錄用直徑。小圓井掘進(jìn)與要求1）橫截面為圓形。㈢ 樣品清理、登記、送樣樣品清理：按樣品種類（化學(xué)樣、物理樣等）分類進(jìn)行，核對(duì)樣品數(shù)量、重量、檢查樣簽，樣品包裝、編號(hào)等。另外在編錄、采樣過(guò)程中，應(yīng)安排專人留守井口，防止掉塊、掉物傷人。淺井樣槽一般布置在反映礦層走向的編錄壁上。～，．．．．．。3）繪制淺井空白圖作圖人員在進(jìn)入井下之前，在方格米厘紙上照4壁的實(shí)際規(guī)格或平均規(guī)格，按比例尺依次展開，同時(shí)繪上基點(diǎn)，基線和第一壁方向，即為淺井空白圖，作井下編錄使用。如素描圖是1：50，實(shí)際地質(zhì)體寬（厚）度≥5cm，長(zhǎng)度≥15cm都要求反映到圖上。自b1點(diǎn)向一壁底邊A1B1垂直投影交點(diǎn)O1， 。② 界線投影方法上圖的淺井立體圖中選擇第一壁是北西壁，它垂直勘查線方向，因此第一壁和第三壁上反映了地質(zhì)體的走向方向，第二壁和第四壁平行勘查線方向，壁上表現(xiàn)是地質(zhì)體傾斜方向。上圖選北壁作第一壁后，北壁不動(dòng)，從北壁與西壁交線處斷開，西、南、東三個(gè)壁同時(shí)作逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)，直至與第一壁構(gòu)成一個(gè)平面，則為四壁展開圖（圖3－13）基點(diǎn)、基線布設(shè)基點(diǎn)要求布設(shè)在第一壁的左上角處，基點(diǎn)又是淺井定位的坐標(biāo)點(diǎn)。1）確定首選壁（第一壁）：地質(zhì)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，淺井素描的第一壁應(yīng)首選正北壁、北西壁、北東壁、正東壁。二、淺井地質(zhì)編錄前的準(zhǔn)備㈠ 物資：地質(zhì)錘、羅盤、放大鏡、圖夾、坐標(biāo)紙、圖包、照相機(jī)、膠卷、鐵夾、鉛筆、膠擦、三角板、量角器、皮尺、鋼卷尺、紅油漆、木樁、白色膠布卷、照明用燈具、刻槽采樣用各類