【正文】 cos20176。3）蝕變及礦化；描述蝕變巖石類型、圈定蝕變帶范圍和形態(tài)，觀察蝕變帶內(nèi)礦物變更情況及蝕變帶新礦物相的特征。四、實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面圖室內(nèi)繪制實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面圖常有展開法和投影法兩種方法繪制。第二步，自界線位置（A2A37米處），按查表得視傾角的度數(shù)（37176。坡角+8176。A－A′剖面圖，首先將平面圖上各導(dǎo)線端點(diǎn)（A0、A1．．．．．）向上方投影，在A0點(diǎn)投影線上任意選擇一點(diǎn)作為投影點(diǎn)（A0），然后分別在AA2．．．．．點(diǎn)的投影線上根據(jù)計(jì)算的高差，找到相應(yīng)的AA2．．．．．投影點(diǎn)位置，連接各投影點(diǎn)即為A－A1剖面的地形線。當(dāng)坡向與巖層傾向相同時(shí)，公式中用減號(hào)計(jì)算。Sin10176。如圖1－10圖中A2和A2′兩點(diǎn)實(shí)際高差確定。礦產(chǎn)及礦化線索作詳細(xì)敘述。如果有包括測(cè)區(qū)的小比例尺地質(zhì)圖（1：10萬(wàn) 或 1：20萬(wàn)等）也應(yīng)收集。三、地質(zhì)填圖程序和方法㈠ 填圖所需的工具、用品及人員組織工具、用品；填圖一般應(yīng)配備的工具及用品有：觀察點(diǎn)路線記錄表或野外記錄本、手圖（與填圖比例尺相同或更大的地形圖）、標(biāo)本簽、樣品簽、地質(zhì)包、文件夾、釘錘、羅盤、放大鏡、照相機(jī)、文具盒、鉛筆、三角板、量角器、鋼卷尺、木樁或竹樁、三角形小紅旗、紅油漆、白色膠布卷、棉紙、標(biāo)本袋等。2）地質(zhì)觀察點(diǎn)分類：根據(jù)觀察點(diǎn)所具有的地質(zhì)意義，分為三類。）和空心小園（○）分別表示實(shí)測(cè)和推測(cè)的地質(zhì)點(diǎn)。某基性超基性巖風(fēng)化土壤呈黃綠色或翠綠色等。但應(yīng)強(qiáng)調(diào)，第一，記錄的地質(zhì)現(xiàn)象要有準(zhǔn)確位置（與觀察點(diǎn)有對(duì)應(yīng)的方位和平距）。將相鄰兩點(diǎn)自然連接而成界線；進(jìn)行較小比例尺填圖時(shí)（如1：10000），相鄰兩點(diǎn)距離較遠(yuǎn)，兩點(diǎn)間又可能有沖溝或山脊出現(xiàn)，勾繪連接界線時(shí)，應(yīng)根據(jù)巖層（斷層）產(chǎn)狀、地形特征運(yùn)用“V”字型法則進(jìn)行。四、地質(zhì)填圖的室內(nèi)資料整理㈠ 地質(zhì)填圖野外工作期間資料整理主要包括有：觀察點(diǎn)路線記錄表的文字及素描圖整理、手圖整理、標(biāo)本樣品整理及音像資料整理。㈢ 實(shí)際材料圖要求實(shí)際材料圖必須在野外填圖期間逐步完成，以保證填圖中出現(xiàn)的遺漏、錯(cuò)誤、爭(zhēng)議等能在野外得到彌補(bǔ)，修正和統(tǒng)一。探槽原始地質(zhì)編錄的對(duì)象是經(jīng)地質(zhì)、施工管理及施工人員三方現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)收，施工質(zhì)量符合要求并已達(dá)到地質(zhì)目的的探槽，及樣溝（實(shí)景）、剝土（實(shí)景）、采場(chǎng)（實(shí)景）以及其它的天然露頭點(diǎn)（實(shí)景）。三、室內(nèi)準(zhǔn)備工作㈠ 組成編錄組槽探編錄組一般由3－4人組成：組長(zhǎng)、作圖員、測(cè)手（有時(shí)可由其他人員兼任）、采樣工。如圖3－1。樣樁布設(shè)方法：打樣樁時(shí)注意每一段樣可能是一件，也可以是幾件連續(xù)樣，起、止端都應(yīng)有樣樁，但幾件樣首尾相連時(shí)，其中間各樣起止編號(hào)可共用一個(gè)樣樁，兩面各編寫樣號(hào)（如圖3－3）。這時(shí)要注意各段之間的地質(zhì)要素應(yīng)嚴(yán)格扣合）（圖3－8）。淺井工程施工的主要目的與坑探工程一致。2）淺井壁展開方法淺井形態(tài)有正方形和長(zhǎng)方形兩種，～，四壁展開應(yīng)根據(jù)淺井長(zhǎng)，寬規(guī)格作展開輪廓圖。① 點(diǎn)投影方法與作圖：淺井底面任一投影點(diǎn)，可向井底任意一邊作垂直投影交于底邊上一點(diǎn)，則該交點(diǎn)到底邊端點(diǎn)距離和該交點(diǎn)到投影點(diǎn)距離即為投影點(diǎn)的兩個(gè)平面座標(biāo)數(shù)值。2）布設(shè)基點(diǎn)（木樁）、基線。例如描述礦層（體），要抓住礦石特征，重點(diǎn)記錄反映礦石成因的特征和現(xiàn)象。核對(duì)內(nèi)容應(yīng)從井口開始逐層進(jìn)行，有界線井深、礦層井深、斷層井深、巖性與花紋、樣品井深及編號(hào)，產(chǎn)狀位置及數(shù)據(jù)等是否吻合，如有差錯(cuò)，及時(shí)查找原因進(jìn)行修正。這時(shí)，小園井也要求取樣（刻槽樣）。有時(shí)在礦產(chǎn)普查階段也布置坑道，進(jìn)行邊探邊采。在驗(yàn)收中還應(yīng)檢查坑道規(guī)格是否與設(shè)計(jì)相符，檢查頂和壁是否平整，以便及時(shí)處理。坑口的基點(diǎn)，是坑道的起點(diǎn)，又是坑道的坐標(biāo)點(diǎn)。在具體編錄中無(wú)論是文字記錄或是作圖，都要求對(duì)單元地層中出現(xiàn)的不同巖性的巖層，厚度只要在圖上大于1mm，長(zhǎng)度大于3mm，都要進(jìn)行劃分?？紤]到樣品代表性及不同礦石的可采厚度，布樣時(shí)一般應(yīng)遵循以下原則：a. 同一件樣不得跨越不同礦種或不同礦層（圖4－12）b. 同一件樣不得跨越不同礦石自然類型及工業(yè)品級(jí)（圖4－13） c. 礦石中夾石剔除原則：礦石中夾石厚度≥剔除厚度時(shí)，單獨(dú)采樣（圖4－14a）。時(shí)，按鉛直面繪制，即頂寬為設(shè)計(jì)頂寬或平均值，高為設(shè)計(jì)高或平均值④ 坑道壁斜度＜75176。如1號(hào)穿脈坑道中第5號(hào)化學(xué)樣編號(hào)為CM1H5。每段基線編錄應(yīng)分段進(jìn)行，通常從坑口基點(diǎn)往坑內(nèi)第一個(gè)中線樁之間，作為第一段首先編錄，記錄成0－1站；從第一中線樁至第二中線樁之間，作為第二段（基線），記錄1－2站；第二中線樁至第三中線樁之間，作為第三段，記錄2－3站；依次類推。5) 坑道施工坡度改變時(shí)，也要分段編錄，如平坑改為斜坑或斜坑改為平坑，編錄只需在變化的位置注明坡度角即可。四 坑道地質(zhì)編錄方法和要求(一) 編錄程序坑道施工和地質(zhì)編錄一般可照以下順序反復(fù)進(jìn)行：坑道掘進(jìn)→地質(zhì)綜合觀察、分層、布樣、標(biāo)本采集→刻槽采樣→投影作圖、文字記錄→繼續(xù)掘進(jìn)。b1點(diǎn)為圓井壁上采的薄片樣。施工深度不得超過(guò)5m。配齊井下作業(yè)所需的安全裝備如安全帽等。第一壁刻槽樣H1（～）H2 （～）第二壁標(biāo)本b1（）b2（）產(chǎn)狀130176。㈡ 淺井原始地質(zhì)編錄分段編錄要求淺井在施工進(jìn)程中為防止松散層垮塌，往往需要架箱支護(hù)，因此地質(zhì)編錄應(yīng)隨著施工進(jìn)度分段進(jìn)行。淺井立體圖中，ABCD是巖層分界面，投影素描分層界線時(shí)，只需要投影A、B、C、D四個(gè)點(diǎn)垂直坐標(biāo)即可，因?yàn)锳、B、C、D四點(diǎn)分別位于淺井四壁的交線上，它們的水平坐標(biāo)均可視為零值（圖3－16a）用點(diǎn)的投影方法，A、B、C、D四點(diǎn)的坐標(biāo)為：；；；。各礦區(qū)應(yīng)作統(tǒng)一規(guī)定。：測(cè)手將槽底上的各編錄要素點(diǎn)先按地質(zhì)走向投到槽底與槽壁交界處，然后再垂直投到基線上報(bào)出該點(diǎn)在基線上的一個(gè)讀數(shù)點(diǎn)（X坐標(biāo)），作圖員即可將該點(diǎn)自基線上投影到槽底圖上將地質(zhì)體、樣品等繪出(因槽底為平面圖，故無(wú)Y坐標(biāo)點(diǎn))（示意圖3－11）。②探槽方向變化的方位差大于等于15176。當(dāng)?shù)V體與圍巖有明顯區(qū)別，礦體厚度較大，礦石類型較簡(jiǎn)單，礦化均勻，則樣長(zhǎng)可放大。座標(biāo)紙長(zhǎng)度（m）例：擬編錄探槽長(zhǎng)120m，作圖比例尺1：100，則張數(shù)＝120m1／100247。記錄時(shí)用防水墨水或2H繪圖鉛筆。巖礦石標(biāo)本（實(shí)物）。2）用DZ／T0078－93“地表及坑探工程標(biāo)本樣品采樣登記表”分別進(jìn)行標(biāo)本、樣品登記。采樣方法用刻槽法，刻槽規(guī)格按礦區(qū)規(guī)定或根據(jù)礦種確定。地質(zhì)界線勾繪要求地質(zhì)界線（斷層線）在野外實(shí)際勾繪，不允許在室內(nèi)回憶勾繪。如有4個(gè)組，則一組用1－99號(hào)的單號(hào)，二組用2－100號(hào)的雙號(hào)，三組用101－199內(nèi)的單號(hào)，四組用102－200內(nèi)的雙號(hào)。推測(cè)地質(zhì)點(diǎn)是因第四系或植被掩蓋無(wú)基巖出露推測(cè)布置的觀察點(diǎn)。切忌機(jī)械地等距離布置觀察點(diǎn)。見下圖（2－1）：3）追索法選擇標(biāo)志層、含礦層或礦體、蝕變帶，主要斷裂帶等采用沿走向追索填圖。㈢ 實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面正式填圖前必須實(shí)測(cè)礦區(qū)完整地質(zhì)剖面1－3條，目的是查明礦區(qū)內(nèi)地層層序、接觸關(guān)系、巖石類型、厚度、巖性、化石、礦產(chǎn)、標(biāo)志層、變質(zhì)作用、侵入體等。為探礦工程布置、儲(chǔ)量計(jì)算，為礦山設(shè)計(jì)和建設(shè)提供地表地質(zhì)資料。依地層時(shí)代由新至老對(duì)剖面進(jìn)行分層敘述。㈤ 剖面平移及表示剖面測(cè)制過(guò)程中，如遇大片浮土掩蓋、天然障礙或構(gòu)造等造成測(cè)制意義不大的地段、則需平移。 圖中投影基線通過(guò)或基本通過(guò)A1－A2－A3－A4－A5－導(dǎo)線。＝ ，高差21sin10176。一次投影法當(dāng)導(dǎo)線轉(zhuǎn)折不大，每條導(dǎo)線方向和剖面總方向基本一致時(shí)，可將平面圖（路線地質(zhì)圖）上地質(zhì)界線與導(dǎo)線交匯點(diǎn)直接投影在剖面圖上進(jìn)行剖面繪制。坡角+10176。整理內(nèi)容：1）文字記錄：格式層次清晰、數(shù)據(jù)無(wú)誤、語(yǔ)句通順、文圖實(shí)物三者核對(duì)吻合，數(shù)據(jù)上墨。② 巖石特征：顏色（指巖石總體顏色）；結(jié)構(gòu)（指礦物粒度、磨圓度、結(jié)晶程度、嵌布特征等）；構(gòu)造（原生構(gòu)造，塊狀、層狀、板狀、流面狀、流線狀等）；礦物成分（指肉眼或放大鏡能觀察到的礦物，包括主要礦物、次要礦物、付礦物、特征礦物、次生礦物等）；如淺黃灰色中粒塊狀黑云母二長(zhǎng)片巖。坡度20176。對(duì)于一些重要的或具特 殊意義的地質(zhì)體，如標(biāo)志層、化石層、礦化層、火山巖中的沉積巖夾層等，如果其厚度達(dá)不到圖上1mm的也應(yīng)放大為1mm表示，并在文字記錄中說(shuō)明。踏勘應(yīng)了解以下內(nèi)容：露頭出露情況。地質(zhì)剖面一般是具綜合性，表示各方面的地質(zhì)內(nèi)容,，有時(shí)由于需要，也只表示某一方面地質(zhì)內(nèi)容。地質(zhì)剖面圖按表示的內(nèi)容分為地層剖面圖、侵入巖剖面圖、火山巖剖面圖、第四紀(jì)地質(zhì)剖面圖、構(gòu)造剖面圖等。3）選擇構(gòu)造（褶皺、斷裂等）較清楚或較簡(jiǎn)單的地段。第五，確定剖面總體方位、確定需要平移地段，確定工程揭露地段等。坡度角記錄時(shí)，上坡為正號(hào)、下坡為負(fù)號(hào)。一般情況是剖面地形線和分層界線位置常用鉛直投影或者直接讀數(shù)法。一般應(yīng)有陳列標(biāo)本、鑒定標(biāo)本（薄片、光片、古生物、單礦物等），根據(jù)剖面設(shè)計(jì)，按劃分的巖層位置、標(biāo)本數(shù)量、規(guī)格采集，并編號(hào)包裝、記錄、登記。圖中：實(shí)測(cè)各導(dǎo)線A01，斜距20m，方向25176。巖層傾角50176。總剖面方向?yàn)?0176。將平面圖上每條導(dǎo)線端點(diǎn)正投影到投影基線上（交點(diǎn)），再?gòu)幕€上交點(diǎn)處向上方投影，根據(jù)計(jì)算的每條導(dǎo)線點(diǎn)高差，在各條投影線上分別標(biāo)出各點(diǎn)投影位置，連接各投影點(diǎn)而成剖面地形線。（20米處）23－25米：泥巖計(jì)算白云質(zhì)灰?guī)r層厚度：L＝23－5＝18米σ＝60176。同一向斜或背斜，地層厚度用地層較發(fā)育的一翼進(jìn)行計(jì)算；對(duì)斷層重復(fù)的部份，不予計(jì)算厚度。在右邊相對(duì)應(yīng)的位置寫上巖層厚度和簡(jiǎn)單文字描述，并注明有代表性的化石和礦產(chǎn)；在左邊表示地層系統(tǒng)、地層名稱和時(shí)代符號(hào)。㈡ 地質(zhì)填圖礦產(chǎn)勘查全過(guò)程中，常采用的比例尺有1：25000、1：10000、1：5000、1：2000、1：1000五種。資料收集后，礦區(qū)技術(shù)負(fù)責(zé)應(yīng)組織有關(guān)人員對(duì)資料進(jìn)行認(rèn)真研究，分析，擬定工作重點(diǎn)和需要解決的問(wèn)題。填圖所用的地形底圖（手圖）的精度應(yīng)符合礦區(qū)設(shè)計(jì)要求，比例尺應(yīng)大于或等于填圖比例尺，還要防止野外手圖和清圖的圖紙?jiān)诠ぷ鬟^(guò)程中伸縮變形而影響精度。該類觀察點(diǎn)要求只作簡(jiǎn)要的文字記錄。精度一般。2）點(diǎn)號(hào)：指地質(zhì)點(diǎn)編號(hào)。5）觀察地質(zhì)描述：由于觀察點(diǎn)所具有的地質(zhì)意義不完全相同，在描述時(shí)必須有擇重，切忌千篇一律或平淡敘述。標(biāo)本規(guī)格以能反映實(shí)際情況和滿足切制光、薄片及標(biāo)本觀察的需要為原則，一般陳列標(biāo)本為369cm或3612cm。對(duì)文字記錄中的各類數(shù)據(jù)和素描圖用防水墨汁上墨。在展繪過(guò)程中，第一按坐標(biāo)方格網(wǎng)依一定順序逐個(gè)進(jìn)行。二、現(xiàn)場(chǎng)編錄必須真實(shí)客觀編錄人員要認(rèn)真、細(xì)致、全面地研究地質(zhì)現(xiàn)象，聯(lián)系認(rèn)識(shí)，準(zhǔn)確地判斷和記錄。職責(zé)：協(xié)助組長(zhǎng)工作，主要分工素描圖及其它適合兼任的工作。確定編錄壁：有兩壁一底探槽，一般情況下，只作一壁一底展開圖。測(cè)量方位角及坡度角：組長(zhǎng)及測(cè)手分別作為前、后測(cè)手，用羅盤測(cè)定皮尺的方位角和坡度角，二者的讀數(shù)誤差在3176。② 標(biāo)注基點(diǎn)，畫出基線圖上確定的第一條基線起點(diǎn)，編號(hào)為0（基點(diǎn)位置畫2mm直徑的圓圈、圓心加點(diǎn)，下同）開始，用測(cè)出的坡度角在座標(biāo)紙上畫出基線并按比例尺確定基線在圖上的長(zhǎng)度、該基線的終點(diǎn)為基點(diǎn)1。組長(zhǎng)一人全面負(fù)責(zé)編錄工作，安排并協(xié)調(diào)其他組員工作。如圖3－14投影方法1）編錄壁投影方法采用垂直投影方法，基線作鉛垂坐標(biāo)，鋼卷尺作水平坐標(biāo)進(jìn)行投影作圖。② 界線投影與作圖：由淺井立體圖可見， A1B1C1D1與巖層分界面ABCD交于淺井2壁和4壁底線上F、E兩點(diǎn)，EF為井底分界線，如圖317b。5）文字記錄采用坑探工程原始地質(zhì)記錄表（DZ／T0078－93）表5的格式進(jìn)行記錄。但根據(jù)實(shí)際情況，樣槽也可布置在反映礦層傾斜的編錄壁上。送樣在樣品清理、登記并檢查無(wú)誤后，分類填寫送樣單，待一段時(shí)間樣品有一定數(shù)量，派專人分送化驗(yàn)、鑒定等實(shí)驗(yàn)室。2）基點(diǎn)、基線布設(shè)小圓井基點(diǎn)設(shè)在勘查線與圓井輪廓交線的正北、北西、北東、正東端。見插圖4－4－4－4－4二 坑道斷面規(guī)格～2m，～，由于掘進(jìn)方式和用途不同可以增大或縮小。如示意圖壓平法兩壁展開示意圖（4－5） 3）素描精度要求：按素描圖選用的比例尺，在素描圖上厚度大于1mm、長(zhǎng)度大于3mm的地質(zhì)體或地質(zhì)現(xiàn)象，均應(yīng)劃分并在圖上表示，如比例尺用1：200，地質(zhì)體厚度20cm、長(zhǎng)60cm則素描圖上該地質(zhì)體厚1mm、長(zhǎng)3mm?？涌诨c(diǎn)應(yīng)用羅盤進(jìn)行三方交匯，交匯點(diǎn)在地形圖上位置還需與坑口實(shí)際地形（含微地貌特征）特征相符，才能保證坑口在地形圖上的正確性。它們對(duì)采樣工作有側(cè)重，各有規(guī)定。樣槽坡度由編錄人員用羅盤測(cè)定，樣槽水平布置時(shí)，坡度角為0176。5 投影與作圖1) 坑道輪廓圖坑道素描圖一般用壓平法繪制，頂和壁多采用規(guī)則形態(tài)（除有特殊要求外）表示。一般是以化學(xué)分析樣為主，其次為物理取樣，加工技術(shù)取樣，礦物取樣等。 2) 基線布置基線是用皮尺系在兩個(gè)相鄰中線樁（基點(diǎn)）上構(gòu)成。4）坑道轉(zhuǎn)彎時(shí)，素描圖制作要求① 坑道方向轉(zhuǎn)變?cè)?5176。2 技術(shù)準(zhǔn)備 坑道編錄人員應(yīng)熟悉、掌握坑道原始地質(zhì)編錄的有關(guān)規(guī)定、編錄程序、方法、質(zhì)量要求等?？辈榫€與圓井輪廓線相交A點(diǎn)，即基點(diǎn)?？犹焦こ虡?biāo)本樣品采樣記錄表（裝訂成冊(cè)）實(shí)物標(biāo)本（存列標(biāo)本、鑒定副樣）。當(dāng)?shù)V層薄，樣品數(shù)量少時(shí)，樣槽也可呈斜向（垂直礦層）布置。對(duì)不同的巖性層、含礦層（體）、蝕變帶、斷層及破碎帶等界線的井深以界線與基線交點(diǎn)的讀數(shù)為準(zhǔn)，井壁地質(zhì)現(xiàn)象以及樣品、標(biāo)本、產(chǎn)狀等位置，則以水平投影在基線上讀數(shù)為準(zhǔn)。A1E、作圖方法：在淺井展開圖的井底圖中，連接EF即為井底面上分層界線。① 點(diǎn)的投影方法點(diǎn)的投影方法如圖3－15所示上圖示在淺井第一壁和第二壁上分別采了薄片標(biāo)本bb2兩塊。因此在施工過(guò)程中，編錄人員經(jīng)常與施工人員取得聯(lián)系，掌握工程進(jìn)度，及時(shí)進(jìn)行編錄和采樣。③測(cè)手測(cè)量并報(bào)出各地質(zhì)要素特征點(diǎn)的座標(biāo)位