統(tǒng)計(jì)過程控制spc(更新版)
【正文】 .... 2 1 3 2 1 極差平均值： 過程平均值： 中心線的計(jì)算公式 23 R D LCL R D UCL R CL R A X LCL R A X UCL X CL R R R X X X 3 4 2 2 = = = = + = = 極差控制圖： 均值控制圖： 控制限的計(jì)算公式 24 注： D D A2為常數(shù)，隨每個(gè)子組內(nèi)樣本容量 n的不同而不同，查ＳＰＣ手冊(cè)中附錄Ｅ：《控制圖的常數(shù)和公式表》（ 181頁）。 % % μ 177。 波 動(dòng) 的原因 7 存在性 方向 影響大小 消除的 難易程度 普通原因 （例：設(shè)備震動(dòng)） 始終 或大或小 小 難 特殊原因 （例：車刀磨斷） 有時(shí) 偏向 大 易 普通原因和特殊原因的區(qū)別 8 概念形成和批準(zhǔn) 設(shè)計(jì)確認(rèn) 樣件 量產(chǎn) 策劃 產(chǎn)品開發(fā)和設(shè)計(jì) 過程開發(fā)和設(shè)計(jì) 產(chǎn)品和過程確認(rèn) 策劃 生產(chǎn) Production 評(píng)估反饋和改善 統(tǒng)計(jì)過程控制策劃 試產(chǎn) 項(xiàng)目批準(zhǔn) 初始統(tǒng)計(jì)過程研究 如何進(jìn)行統(tǒng)計(jì)過程控制策劃 量產(chǎn)過程中，實(shí)施統(tǒng)計(jì)過程控制 9 如何進(jìn)行統(tǒng)計(jì)過程控制策劃 在新產(chǎn)品策劃過程中， APQP小組根據(jù) 試生產(chǎn)控制計(jì)劃制定《初始過程能力研究 計(jì)劃》。 消除波動(dòng)不是統(tǒng)計(jì)過程控制的目的，但通過統(tǒng)計(jì)過程控制可以對(duì)過程的波動(dòng)進(jìn)行 預(yù)測和控制 。 變差（ Variation） 過程的單個(gè)輸出之間 不可避免的差別 ；變差的原因可分為兩類：普通原因和特殊原因。 SPC的目的 2 名稱 解 釋 平均值（ Xbar） 一組測量值的 均值 極 差 （ Range） 一個(gè)子組、樣本或總體中 最大與最小值之差 σ（ Sigma） 用于代表標(biāo)準(zhǔn)差的希臘字母 標(biāo)準(zhǔn)差 (Standard Deviation) 過程輸出的 分布寬度 或從過程中統(tǒng)計(jì)抽樣值（例如：子組均值）的分布寬度的 量度 ，用希臘字母 σ或字母 s（用于樣本標(biāo)準(zhǔn)差）表示。 單值（ Individual） 一個(gè)單個(gè)的單位產(chǎn)品或一個(gè)特性的 一次測量 ，通常用符號(hào) X 表示。 SPC常用術(shù)語解釋 4 名稱 解 釋 普通原因 （ Common Cause） 造成變差的一個(gè)原因，它影響被研究過程輸出的所有單值；在控制圖分析中，它表現(xiàn)為隨機(jī)過程變差的一部分。正常波動(dòng)引起工序質(zhì)量微小變化，難以查明或難以消除。由正態(tài)分布的性質(zhì)可知：產(chǎn)品質(zhì)量特性數(shù)據(jù)出現(xiàn)在平均值的正負(fù)三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)偏差 (μ ?3?)之外的概率僅為 %。 1σ % % μ 177。 R 圖和 X 圖應(yīng)分別分析，但可進(jìn)行比較，了解影響過程的特殊原因。 在車間里，一個(gè)受控的過程應(yīng)該是只有小比例的點(diǎn)失控， 并針對(duì)失控的點(diǎn)采取適當(dāng)?shù)拇胧? 2? dR=?2?=?39 USL USL LSL LSL 雙邊公差的過程測量指數(shù) 6sigma 6sigma X X M 40 雙邊公差的過程測量指數(shù) Cpk：
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