【正文】 ?T 與 ?T + 2?T 為警戒限，它表示過程失控即將發(fā)生。 ——采取局部措施 SPC SS 原材料不均勻 設備性能不穩(wěn)定 工具破損 操作不當 量具性能不穩(wěn)定 SPC 受 控 （特殊波動消失） 失 控 （特殊波動源出現(xiàn)） ?任一過程中特殊波動源總是有限個 ?發(fā)現(xiàn)一個，排除一個， ?要注意：有的特殊波動源要在一段時間后才會出現(xiàn) ?一個成熟的過程是工廠的財富 SS —— 只存在偶 然波動 通常一個產品的特性值總有一個目標值和一定的公差范圍，過程不一定滿足要求。這個分布不隨時間而變，因而可以預測結果。 ?分層法 —— 分析問題的藝術 。 —— 數(shù)據(jù)：誤差與容差 SS ?誤差組成：總誤差 =制造誤差 +測量誤差。 關鍵特性 —— 一般特性。 ?特 性：可區(qū)分的特征。 ?目的性明確 —— 評價，預防，控制，改進。 SS 統(tǒng)計方法應用范圍 ： ? 四類通用產品 —— 整個壽命周期。 —— 統(tǒng)計方法：分類 SS 統(tǒng)計方法：屬性 ?描述性：通過統(tǒng)計數(shù)據(jù)的歸納整理 ， 來描述事物的特征 。 —— 統(tǒng)計方法：概念 SS 統(tǒng)計方法： ? 收集，整理、分析和解釋統(tǒng)計數(shù)據(jù) ， 并對 其反映的問題，作出一定結論的方法。 ：從總體中抽取的每個樣品，對其它樣 本的抽取無任何影響。 ?按一定的方式 ， 從研究對象的總體中隨機抽取部分樣本進行研究 ， 并以此推斷總體的特征和規(guī)律 。 ?收集數(shù)據(jù)要有明確的目的，盡可能掌握它的歷史。 ?經過整理在大量試驗條件下，統(tǒng)計數(shù)據(jù)顯現(xiàn)出一定的規(guī)律性。 ?尋找、預測、確定隨機現(xiàn)象中所呈現(xiàn)的統(tǒng)計規(guī)律。 薄弱環(huán)節(jié) 補課 SPC SS 中國加入 WTO 影響 ? 關稅壁壘 ↓ 技術壁壘 ↑↑ —— 技術標準、法規(guī)、認證制度。 SPC 在正態(tài)分布中心與規(guī)范中心重合時 X超出規(guī)范限 181。SS 統(tǒng)計過程控制 Statistical Process Control —— 6SIGMA Training Material SS 第一講： 引言 —— SPC背景 SPC SS 美國質量管理專家朱蘭博士著名論斷： 20世紀“生產力的世紀” 21世紀“質量的世紀” —— 引言： SPC背景 SS 質量世紀提出超嚴格質量要求： 產品的合格率 1 % → ppm → ppb 10 2 → 10 6 → 10 9 —— 引言： SPC背景 SS 正態(tài)分布中心 規(guī)范限 合格品率 % 不合格品率 ppm ? ?1? 68。=k ?（ k=1,2,?,6) 的不合格率 SS 生產控制方式： 3 ? →6 ?改進 3 ?控制方式不合格率 無偏移 :2700ppm 偏移 ?: 66807ppm 6 ?控制方式不合格率 無偏移 : 偏移 ?: SPC SS TU TU TL TL 3? 3? 6? 6? 181。 ? 中國企業(yè)：競爭力？ —— 科學管理水平 ↑ 形成生產力 ↑ ? 經濟全球化、市場一體化 SPC SS 世界制造業(yè)趨勢 : ? 技術 —— 指標 —— 絕對值要求 ↑↑ ? 管理 —— 質量特性值 —— 波動 ↓↓ —— 趨于最?。ǚ€(wěn)定） ? 科學方法技術支持 —— 否則不可想象。 ?被稱為數(shù)字的科學。 —— 統(tǒng)計學基礎思想：二個觀點 SS ： ?統(tǒng)計是從數(shù)量方面入手，認識事物的工具。 ?應注意數(shù)據(jù)所代表的社會經濟的實際意義。 —— 統(tǒng)計學基礎方法：隨機抽樣 SS ? 總體 —— 研究對象的全體 。 ?今后研究的樣本，均為簡單隨機樣本。 ? 質量統(tǒng)計方法，專指用在質量管理中的統(tǒng) 計方法。 ?推斷性：通過研究事物的一部分 ， 來推斷事物總體的狀況 。 ? 任何過程、階段 —— 包括需求調研、產品設計，制 造控制、顧客滿意度評價等。 —— 統(tǒng)計方法應用條件 SS 結論： ? 統(tǒng)計方法所表達的觀點 ， 以及統(tǒng)計方法的應用 ，深刻影響了對全面質量管理的整個領域 。 ?質量特性：產品、過程或體系與要求有關的固有特性。 —— 數(shù)據(jù)：產品特性值分類 SS 按定量、定性分類： ?定量數(shù)據(jù)：定量可測 —— 計量型數(shù)據(jù)。 ?容 差：允許偏離的范圍。 ?排列圖 —— 把握關鍵的少數(shù)。 SPC 過程控制 （ in contral） —— 概述 SS 過程不處于統(tǒng)計控制狀態(tài)，也稱為失控狀態(tài)。 波動在公差范圍內是允許的，不需減小波動 波動超過公差允許的范圍，要設法減小波動 【有時需要對整個生產系統(tǒng)作改造】 ——采取系統(tǒng)措施 SPC SS SPC 受 控 （正常波動源減弱 ） 上規(guī)格限 下規(guī)格限 受 控 （正常波動源過大 ） x SS 第二節(jié) 常規(guī)控制圖分析 控制圖是一個簡單的過程控制系統(tǒng)。 UCL CL LCL A上 B上 C B下 A下 —— 控制圖的原理 SS SPC UCL CL LCL 序號 1 2 6 3 4 5 X 圖 控制圖的示意圖 X —— 控制圖的原理 SS SPC 實際中 ?T 與 ?T 常是未知的，需收集一定數(shù)量的樣本作出估計。 SPC SS SPC 控制線如下： CL X S UCL X + A3S B4S LCL X A3S B3S R圖 X 圖 適用樣本容量 n 10 = = = SS 單值 移動極差控制圖 (xRs圖 ) 在一些場合取一個子組不可能或不實際 : ? 測單個值需要很長時間 ? 用破壞性試驗方法獲得測量值 ? 任一時刻質量相對是均勻的 ? 有時一次僅能獲得一個