累積和控制圖在企業(yè)質(zhì)量控制中的應(yīng)用(完整版)
【正文】 波動(dòng),可認(rèn)為過程受控。設(shè)樣本不合格品率為p，則從數(shù)理統(tǒng)計(jì)知 μ＝p σ＝ 中心線CL 上控制界限 UCL +3下控制界限LCL －3三、累積和控制圖（一）累積和控制圖的發(fā)展及使用條件累積和控制圖（簡(jiǎn)稱CUSUM控制圖）理論基礎(chǔ)是序貫分析原理中的序貫概率比檢(Sequential Probability Ratio Test)，是一種基本的序貫檢驗(yàn)法。 Q amp。遠(yuǎn)小于1，H成立可能性大。上式可以用于建立一個(gè)單側(cè)控制圖來檢測(cè)均值的向上移動(dòng)。雙側(cè)檢驗(yàn)的累積和控制圖的不同序貫概率比的可接受區(qū)間一般的連續(xù)抽樣的累積和控制圖模型如圖二所示，圖中有三個(gè)判斷區(qū)域來接受相應(yīng)的假設(shè):H:，H:(＞)，H:(＜)，如陰影部分表示。根據(jù)所要求檢測(cè)的目的不同，參數(shù)選取的方法也不僅僅是一種。當(dāng)過程處于極限質(zhì)量水平p時(shí)表示過程已到失控狀態(tài)，應(yīng)該發(fā)出警報(bào)，用L表示失控過程的平均鏈長(zhǎng)，即平均抽取L個(gè)樣本就發(fā)一次警報(bào)，而不發(fā)警報(bào)相當(dāng)于犯第二類錯(cuò)誤。在給出這兩個(gè)參數(shù)時(shí)要注意p∕p的值不能太大。 檢驗(yàn) 3 連續(xù) 6 個(gè)點(diǎn)，全部遞增或全部遞減。(2)根據(jù)以上數(shù)據(jù)得到累積和控制圖，如下： 圖四 累積和控制圖(3) 利用累積和控制圖判斷生產(chǎn)過程是否處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)在上圖中可以看到，累積和控制圖第25個(gè)樣本發(fā)出“報(bào)警信號(hào)”，表明過程均值增大，從第20個(gè)樣本到第25個(gè)樣本的局部累積和超過了判斷定距h，故判斷生產(chǎn)過程異常。參考文獻(xiàn)周紀(jì)薌. 茆詩松. 質(zhì)量管理統(tǒng)計(jì)方法[M] . 北京:中國(guó)統(tǒng)計(jì)出版社,1999. ，1998，17孫靜、1998，孟祥新、2000，2001，17(Cusum)，2003，26，2004王前洪、2006，(2)薛麗. 累積和控制圖參數(shù)選取方法. 碩士學(xué)位論文. [M] .經(jīng)濟(jì)管理出版社,1999.張維銘 ．統(tǒng)計(jì)質(zhì)量控制理論與應(yīng)用[M] ．浙江大學(xué)出版社,1992. 王毓芳, 郝鳳,張世榮,等．過程控制與統(tǒng)計(jì)技術(shù)[M] ．中國(guó)計(jì)量出版社,2001. 孫 靜 ．GBT40912001常規(guī)控制圖理解與實(shí)施[M] ．中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社,2002 .[J] .電子標(biāo)準(zhǔn)化與質(zhì)量,2000(4).王前洪，Page E S. Continuous inspection schemes[J](4)Lucus J R initial response for CUSUM quality control shemes:give your CUSUM a head start[J]Techonometrics 16 / 16。判斷過程異常后，應(yīng)找出過程異常的原因，采取校正，校正后累積和從零開始。此檢驗(yàn)查找一長(zhǎng)串連續(xù)的點(diǎn)，這些點(diǎn)方向不變。（3）當(dāng)用C方案時(shí)，根據(jù)p∕p的值，從λ10╱λ1000中找出最接近的比值，從該行對(duì)應(yīng)的T值可確定樣本容量n,即n＝T╱p，從而該行對(duì)應(yīng)的h與k即為所求的參數(shù)。GB488785中有兩種常用的L與L的值，一是L≈1000，L≈10，二是L≈200，L≈5。下面主要論述一下當(dāng)隨機(jī)變量服從二項(xiàng)分布時(shí)參數(shù)h和k的選取方法。在控制圖中，僅僅向外擴(kuò)張的上下控制線可以用于檢測(cè)對(duì)均值的偏離.圖一 雙側(cè)檢驗(yàn)的累積和控制圖 圖二 連續(xù)取樣區(qū)間:（1）累積和控制圖充分利用所有樣本信息，對(duì)過程平均水平變化反映靈敏。如需要檢測(cè)過程均值在上下兩個(gè)方向上偏離目標(biāo)值的情況，則需要用一對(duì)單側(cè)累積和控制圖來分別檢測(cè)過程向上和向下的偏離情況。A. wald曾證明，令 A= B= ≥A，接受H。Jaime Puigpey用高斯方程法算出了運(yùn)行長(zhǎng)度的概率分布和平均運(yùn)行長(zhǎng)度。自從1954年P(guān)age提出應(yīng)用累積和控制圖監(jiān)控工業(yè)過程以后,累積和控制圖在國(guó)際上出現(xiàn)了一股研究熱潮。休哈特控制圖主要是利用了最后一個(gè)點(diǎn)所包含的過程信息而忽略了整個(gè)點(diǎn)子序列的信息,也就是說控制圖沒有記憶力。但是在實(shí)際應(yīng)用中前者比后者要普及得多。關(guān)鍵詞：休哈特控制圖，累積和控制圖 ，序貫概率比檢驗(yàn)，平均鏈長(zhǎng)Abstra
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