【正文】 性質； ②內標元素若是外加的，必須是試樣中不含或含量極少可以忽略的。然后根據(jù)分析線對的相對強度與被分析元素含量的關系式進行定量分析。當溫度一定時譜線強度 I與被測元素濃度 c成正比，即 I = ac 當考慮到譜線自吸時，有如下關系式 I = a cb 此式為光譜定量分析的基本關系式。若分析任務對準確度要求不高，多采用光譜半定量分析。 在進行分析工作時將試樣與純鐵在完全相同條件下 并列并且緊挨著攝譜 ，攝得的譜片置于映譜儀（放大儀）上；譜片也放大 20倍，再與標準光譜圖進行比較。它也是該元素的最靈敏線。 它是目前進行元素定性檢出的最好方法 。光譜定量分析常選用 反襯度較高 的紫外 Ⅰ 型感光板，定性分析則選用 靈敏度較高 的紫外 Ⅱ 型感光板。 稱為感光板乳劑的 惰延量 。測量光源的光投射在經(jīng)過攝譜、曝光、顯影及定影形成譜線的感光板上， 未曝光部分透過光的強度為 I0，曝光變黑部分透過光的強度為 I 感光板上譜線黑度，一般用測微光度計測量。 2. 攝譜法 攝譜法是用感光板記錄光譜。 ? 物質蒸發(fā)到等離子區(qū)，發(fā)生原子化和電離。石墨具有導電性能良好，沸點高（可達 4000K）， 有利于試樣蒸發(fā)，譜線簡單，容易制純及容易加工成型等優(yōu)點。 （ 1）固體試樣 金屬與合金本身能導電，可 直接做成電極 ，稱為自電極。測光時在感應線圈上的高度稱為觀測高度。 用 Ar做工作氣體的 優(yōu)點 ： Ar為單原子惰性氣體，不與試樣組份形成難離解的穩(wěn)定化合物，也不象分子那樣因離解而消耗能量，有良好的激發(fā)性能，本身光譜簡 單。一旦管內氣體開始電離（如用點火器），電子和離子則受到高頻磁場所加速，產生碰撞電離，電子和離子急劇增加，此時在氣體中感應產生渦流。 最常用的等離子體光源是直流等離子焰（ DCP）、 電感耦合等離子炬（ ICP） 、容耦微波等離子炬（ CMP）和微波誘導等離子體（ MIP） 等。這種電源 常用于金屬、合金中低含量元素的定量分析。 低壓交流電弧的工作電壓為 110－ 220V， 設備簡單，操作安全，應用較多。這個斑點稱為 陽極斑 。 如果電極間采用低壓（ 220V） 供電，為了使電極間持續(xù)地放電，必須采用其它方法使電極間的氣體電離。由于在常壓下，空氣幾乎沒有電子或離子，不能導電，所以要借助于外界的力量，才能使氣體產生離子變成導體。 ，不能進行結構、形態(tài)的測定。g－ 1， 絕對值可達 10－ 8～ 10－ 9g。 ?原子發(fā)射光譜分析過程 原子發(fā)射光譜分析的過程，一般有 光譜的獲得 和 光譜的分析 兩大過程。 （ 3）激發(fā)電位 譜線強度與激發(fā)電位成負指數(shù)關系。 二次電離的離子發(fā)出的譜線，稱為 二級離子線，用羅馬字 “ Ⅲ ”表示 。原子發(fā)射光譜是線狀光譜。這種方法常用于定性、半定量和定量分析。 ? 其實在更早時候， 1826年泰爾博 （ Talbot） 就說明某些波長的光線是表征某些元素的特征。這種方法可有效地用于測量高、中、低含量的元素 。原子電離失去一個電子稱為一次電離，一次電離的離子再失去一個電子稱為二次電離，依此類推。 影響譜線強度的因素為： （ 1）統(tǒng)計權重 譜線強度與激發(fā)態(tài)和基態(tài)的統(tǒng)計權重之比成正比。在一定的條件下，基態(tài)原子數(shù)與試樣中該元素濃度成正比。如鈮和鉭、銑和鉿、十幾種稀土元素的分析用其他方法都很困難，而對 AES來說是毫無困難之舉。 ，適于整批樣品的多組分測定，尤其是定性分析更顯示出獨特的優(yōu)勢。目前常用的光源有 直流電弧、交流電弧、電火花及電感耦合高頻等離子體（ ICP）。光譜分析用的電光源（電弧和點火花），都屬于自持放電類型。 1. 直流電弧 電源一般為可控硅整流器。 直流電弧的最大 優(yōu)點 是 : 電極頭溫度高（與其它光源比較），蒸發(fā)能力強； 缺點 是 : 放電不穩(wěn)定，且弧較厚，自吸現(xiàn)象嚴重，故不適宜用于高含量定量分析，但可很好地應用于礦石等的定性、半定量及痕量元素的定量分析。 在 這種情況下，低頻低壓交流電就能不斷地流過，維持電弧的燃燒。 由于電火花是以間隙方式進行工作的，平均電流密度并不高，所以電極頭溫度較低，且弧焰半徑較小。當高頻電流通過線圈時，在管的內外形成強烈的振蕩磁場。最外層通Ar氣作為冷卻氣，沿切線方向引入，并螺旋上升，其作用： 第一 ，將等離子體吹離外層石英管的內壁，可保護石英管不被燒毀； 第二 ，是利用離心作用，在炬管中心產生低氣壓通道，以利于進樣； 第三 ，這部分 Ar氣流同時也參與放電過程。 （ 2）內焰區(qū) 在感應圈上 10 20mm左右處，淡藍色半透明的炬焰，溫度約為 6000 8000K。 ICP具有如下 特點 ： （ 1）檢出限低； （ 2）穩(wěn)定性好，精密度、準確度高； （ 3）自吸效應、基體效應??； （ 4）選擇合適的觀測高度光譜背景小。將試液滴在平頭或凹液面電極上，烘干后激發(fā)。 試樣中不同組份的蒸發(fā)有先后次序的現(xiàn)象稱為分餾 。這種方法僅適用于可見光波段。 曝光量 等于感光層所接受的 照度 和 曝光時間 的乘積； H = E ?t 式中， H為曝光量， E為照度， t為時間。 CD部分稱為曝光過度部分，斜率逐漸減小。反襯度 ? 表示曝光量改變時，黑度變化的快慢。 光譜定性分析一般多采用攝譜法 。 檢出某元素是否存在必須有兩條以上不受干擾的 最后線與靈敏線。在實驗室中有標準光譜圖對照進行分析。 (2)標準試樣光譜比較法 將要檢出元素的純物質和純化合物與試樣 并列攝譜于同一感光板上 ，在映譜儀上檢查試樣光譜與純物質光譜。黑度若相同，則可做出試樣中被測元素的含量與標準樣品中某一個被測元素含量近似相等的判斷。 內標法是通過測量譜線相對強度來進行定量分析的方法。 內標元素與分析線對的選擇 金屬光譜分析 中的內標元素，一般采用基體元素 。 分析線對兩條譜線應沒有自吸或自吸很小，并不受其它譜線的干擾。 △ S = ?blgc + ?lga 分析線對黑度值都落在乳劑特征曲線直線部分，分析線與內標線黑度差△ S 與被測元素濃度的對數(shù) lgc呈線性關系。 （ 1）光譜背景來源 a. 分子輻射 在光源作用下，試樣與空氣作用生成的分子氧化物、氮化物等分子發(fā)射的帶狀光譜。 （ 2）背景的扣除 攝譜法 測出背景的黑度 SB，然后測出被測元素譜線黑度為分析線與背景相加的黑度 S(L+B)。 （ 4）內標元素和內標線 （ 5）光譜緩沖劑 試樣組份影響弧焰溫度，弧焰溫度又直接影響待測元素的譜線強度。它們多為一些化合物、鹽類、碳粉等。 若想獲得更多資料，敬請訪問 。 ①控制試樣中的蒸發(fā)行為 通過化學反應，使試樣中被分析元素從難揮發(fā)性化合物（主要是氧化物）轉化為低沸點，易揮發(fā)的化合物，使其提前蒸發(fā)，提高分析的靈