【正文】 離子線 : 原子在激發(fā)源中得到足夠能量時，會發(fā)生電離。 玻茲曼分布定律 ： Ni = N0 gi/g0e (E / kT) 式中 Ni 為單位體積內(nèi)處于激發(fā)態(tài)的原子數(shù)， N0為單位體積內(nèi)處于基態(tài)的原子數(shù)， gi， g0為激發(fā)態(tài)和基態(tài)的統(tǒng)計權(quán)重， Ei為激發(fā)電位， k為 玻茲曼常數(shù)， T為激發(fā)溫度。但溫度升高，電離的原子數(shù)目也會增多，而相應(yīng)的原子數(shù)減少，致使原子譜線強度減弱，離子的譜線強度增大 （ 5）基態(tài)原子數(shù) 譜線強度與基態(tài)原子數(shù)成正比。 由于光譜的特征性強，所以對于一些化學(xué)性質(zhì)極相似的元素的分析具有特別重要的意義。因此ICP－ AES已廣泛應(yīng)用于各個領(lǐng)域之中。光源對光譜分析的檢出限、精密度和準(zhǔn)確度都有很大的影響。 在電極間的氣體被擊穿后，即使沒有外界電離作用，仍然繼續(xù)保持電離，使放電持續(xù)，這種放電稱為自持放電 。氣體中通過電流時，電極間的電壓和電流的關(guān)系不遵循歐姆定律，其相應(yīng)的關(guān)系如下圖： 電極間電壓 電流 氣體放電中電壓和電流曲線 電弧放電具有 下降的伏安特性 ，這是因為氣體的電阻和固體的不同，氣體的電阻值是變化的，當(dāng)通過氣體電阻的電流增大時，會使氣體的溫度增高，氣體的電離度增大，從而使氣體的導(dǎo)電性增加，即電阻變小，使氣體電阻兩端的電壓降反而減少。電極頭的溫度較弧焰的溫度低，且與電流大小有關(guān)，一般陽極可達(dá) 3800℃ 。此時，借助高頻高壓電流，不斷地“ 擊穿 ”電極間的氣體，造成電離，維持導(dǎo)電。 由于高壓火花放電時間極短，故在這一瞬間內(nèi)通過分析間隙的電流密度很大（高達(dá) 10000 50000A/cm2， 因此弧焰瞬間溫度很高，可達(dá) 10000K以上，故激發(fā)能量大，可激發(fā)電離電位高的元素。 在有氣體的石英管外套裝一個高頻感應(yīng)線圈，感應(yīng)線圈與高頻發(fā)生器連接。 等離子炬管分為三層。試樣氣溶膠在此區(qū)域被預(yù)熱、蒸發(fā)，又叫 預(yù)熱區(qū) 。環(huán)形的中心是一個進樣中心通道，氣溶膠能順利進入到等離子體內(nèi)，使得等離子體焰炬有很高的穩(wěn)定性。 電弧或火花光源通常用 溶液干渣法 進樣。 ? 一般地，易揮發(fā)的物質(zhì)先蒸發(fā)出來，難揮發(fā)的物質(zhì)后蒸發(fā)出來。 1. 目視法 用眼睛來觀測譜線強度的方法稱為 目視法 （看譜法）。 感光板上譜線的 黑度 與作用其上的總曝光量有關(guān)。 該曲線分為三部分， AB部分稱為曝光不足部分，斜率逐漸增大，即黑度隨曝光量增大而緩慢增大。 ?是乳劑特性曲線直線部分的斜率，稱為感光板乳劑的反襯度。 照相式攝譜儀 光源： 使樣品激發(fā)發(fā)光 常用光源有：電弧，電火花 攝譜儀： 將光源發(fā)的光記錄下來，包括有： 照明系統(tǒng)，準(zhǔn)直系統(tǒng)，分光系統(tǒng) 投影系統(tǒng)（照相感板） 映譜儀： 將照相感板的譜線放大，便于識別 黑度計： 測譜線黑度 ? ? 電感偶合等離子體發(fā)射光譜儀（ ICPOES） 第三節(jié) 分析方法 一 、 光譜定性分析 由于各種元素的 原子結(jié)構(gòu)不同 ， 在光源的激發(fā)作用下 ， 試樣中每種元素都發(fā)射自己的 特征光譜 。如果只見到某元素的一條譜線，不可斷定該元素確實存在于試樣中，因為有可能是其它元素譜線的干擾。對每一條譜線波長，人們都已進行了精確的測量。鐵譜線比較法可同時進行多元素定性鑒定。 然后在映譜儀上用目視法直接比較試樣與標(biāo)準(zhǔn)系列中被測元素分析線的黑度。 2. 內(nèi)標(biāo)法 采用內(nèi)標(biāo)法可以減小前述因素對譜線強度的影響，提高光譜定量分析的準(zhǔn)確度。 I = a cb I0 = a0 c0bo 分析線與內(nèi)標(biāo)線強度之比 R稱為 相對強度 R = I / I0 = a cb / a0 c0bo 式中內(nèi)標(biāo)元素 c0為常數(shù)，實驗條件一定時，A = a / a0 c0bo 為常數(shù)，則 R = I / I0 = A cb = a cb 取對數(shù)，得 lgR = blgc + lg a 此式為 內(nèi)標(biāo)法光譜定量分析的基本關(guān)系式。 ⑤ 分析線對波長應(yīng)盡可能接近。 若分析線對黑度 S1， 內(nèi)標(biāo)線黑度 S2， 則 S1 = ?1lgH1 – i1 = ?1 lgI1 – i 1 S2 = ?2lgH2 – i2 = ?2 lgI2 – i 2 因分析線對所在部位乳劑特征基本相同，故 ?1 = ?2 = ? i1 = i2 = i 因此黑度差 △ S = S1 –S2 = ? （ lgI1 lgI2 ） = ?lgI1 / I2 =?lgR △ S = ?blgc + ?lga 上式為 攝譜法定量分析內(nèi)標(biāo)法的基本關(guān)系式 。 lgR = blgc + lg a 光譜背景 是指在線狀光譜上，疊加著由于 連續(xù)光譜 和 分子帶狀光譜等所造成的譜線強度（攝譜法為黑度）。 雜散光 是指由于光譜儀光學(xué)系統(tǒng)對輻射的散射，使其通過非預(yù)定途徑，而直接達(dá)到檢測器的任何所不希望的輻射。 （ 3）狹縫 在定量分析中，為了減少由乳劑不均勻所引入的誤差，宜使用較寬的狹縫，一般可達(dá) 20?m 。 （ 6）光譜載體 進行光譜定量分析時， 在樣品中加入一些有利于分析的高純度物質(zhì)稱為 光譜載體 。 ④ 穩(wěn)定電弧，減少直流電弧的漂移，提高分析的準(zhǔn)確度 金冊網(wǎng)（ ） 152 此文檔由 （您的第三方檢測信息專家）提供。 載體量大可控制電極溫度，從而控制試樣中元素的蒸發(fā)行為并可改變基體效應(yīng)。 為了減少試樣成分對弧焰溫度的影響，使弧焰溫度穩(wěn)定，試樣中加入一種或幾種輔助物質(zhì)，用來抵償試樣組成變化的影響，這種物質(zhì)稱為 光譜緩沖劑 。 光電直讀光譜儀 由于光電直讀光譜儀檢測器將譜線強度積分的同時也將背景積分，因此需要扣除背景。 c. 譜線的擴散 分析線附近有其它元素的強擴散性譜線（即譜線寬度較大），如 Zn、 Sb、Pb、 Bi、 Mg等元素含量較高時，會有很強的擴散線。 光電直讀法中，在相同條件下激發(fā)試樣與標(biāo)樣的光譜，測量標(biāo)準(zhǔn)樣品的電壓值 U和 Ur， U和 Ur分別為分析線和內(nèi)標(biāo)線的電壓值；再繪制 lgUlgc或 lg（ U/Ur ） lgc校準(zhǔn)曲線 ；最后，求出試樣中被測元素的含量。再由校準(zhǔn)曲線求得試樣被測元素含量。 加入內(nèi)標(biāo)元素符合下列幾個條件： ①內(nèi)標(biāo)元素與被測元素在光源作用下應(yīng)有相近的蒸發(fā)