電測試方法手冊(完整版)
【正文】 等級(jí) (此分類純屬筆者個(gè)人看法 )。 二﹑電測設(shè)備 談到電測設(shè)備 (Tester)每個(gè)人之當(dāng)然反應(yīng)即為如此多之廠牌﹐價(jià)位差異又如此大﹐不知從何選起 ?筆者謹(jǐn)試以所用電測夾具及測試電壓分類如下。 3. 標(biāo)準(zhǔn)電路板之樣板。針盤之制作可于數(shù)小時(shí)內(nèi)完成。以目前電子產(chǎn)品要求日趨嚴(yán)格﹐欲提高電路板的性能及品質(zhì)﹐電測亦漸以高壓測試為導(dǎo)向﹐以保障高價(jià)零件免于再拆重裝的煩惱及系統(tǒng)測試后﹐ 2 有助于所出現(xiàn)問題的單純化。 (4) 記憶裝置 (Memory)﹕ 存放正確的電路圖以便與待測物進(jìn)行比較。本文 中各測試點(diǎn)以 Pij表示之。事實(shí)上對測試工作的執(zhí)行者而言﹐明了 “回路學(xué)習(xí) ”的原理后﹐電測原理可說已懂得七﹑八成了﹐其余只是實(shí)務(wù)經(jīng)驗(yàn)的歷練而進(jìn)一步的熟念而已。 (4)最后得到 L4=(7)。 (2) 測試兩點(diǎn)間之電壓﹐其電路示意如圖四。以圖三為例﹐測試線路所量到之電阻應(yīng)為 Pij與電路板之接觸電阻﹐加 上電路板導(dǎo)線電阻﹐再加上 Pkl與電路板間之接觸電阻﹐再加上回路中其它導(dǎo)線之電阻。 否 良 測試斷路 斷路 測試絕緣 絕緣 良品 是 不良 斷路不良 測試短路 否 短路 絕緣不良 圖六﹑電測系統(tǒng)流程圖 短路不良 1 2 4 圖七 3 5 6 7 10 9 8 假設(shè)圖一之線路因制造失誤而成圖七。 以 L1,L2,……,L10 回路為例﹕ 第一次 測試﹕并聯(lián) L1﹐ L2﹐ L3﹐ L4﹐ L5 并聯(lián) L6﹐ L7﹐ L8﹐ L9﹐ L10 第二次測試﹕并聯(lián) L1﹐ L3﹐ L5﹐ L7﹐ L9 并聯(lián) L2﹐ L4﹐ L6﹐ L8﹐ L10 第三次測試﹕并聯(lián) L1﹐ L2﹐ L6﹐ L7﹐ ,L10 并聯(lián) L3﹐ L4﹐ L5﹐ L8﹐ L9 第四次測試﹕并聯(lián) L1﹐ L2﹐ L3﹐ L4﹐ L6 并聯(lián) L5﹐ L7﹐ L8﹐ L9﹐ L10 只需四次測試即可判斷該 10 個(gè)回路間絕緣性是否不良﹐但若使用順次測試則需 10 9/2=45 次才行。此法測試時(shí)每一探針之編碼在制作電測針盤夾具時(shí)即已確定。例如圖九中之 e及 f 若有一處斷路﹐則利用電測并無法測知。此乃因斷路之表示法其所指出之位置﹐乃該一回路之第一點(diǎn)（程序記憶之第一點(diǎn)﹐并非該實(shí)際回路之第一點(diǎn)）與發(fā)現(xiàn)斷路之第一點(diǎn)。 由于斷路與絕緣性之判斷點(diǎn)并不相同﹐故實(shí)際測量后將得到三種不同之結(jié)果﹕即斷路﹑短路及絕緣不良 (漏電 )其關(guān)系如圖八所示?？墒且?“點(diǎn) 2”為斷路點(diǎn)﹐故除 了測試 L1
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