電測(cè)試方法手冊(cè)(已修改)
2025-05-30 21:43 本頁面
【正文】 1 電 測(cè) 入 門 一﹑電測(cè)工作的必須條件 1. 電測(cè)設(shè)備﹐如測(cè)試機(jī)。 2. 電測(cè)夾具 (Fixture)﹐如針盤等。 3. 標(biāo)準(zhǔn)電路板之樣板。 4. 待測(cè)同料號(hào)之電路板。 以上四項(xiàng)要件若缺任一項(xiàng)﹐即可使電測(cè)無法進(jìn)行或毋須進(jìn)行。 二﹑電測(cè)設(shè)備 談到電測(cè)設(shè)備 (Tester)每個(gè)人之當(dāng)然反應(yīng)即為如此多之廠牌﹐價(jià)位差異又如此大﹐不知從何選起 ?筆者謹(jǐn)試以所用電測(cè)夾具及測(cè)試電壓分類如下。 按測(cè)試用夾具分類﹐所有之電測(cè)試均可分為專用型 (Dedicated)及萬用型 (Universal)兩大類。所謂專用型電測(cè)機(jī)﹐其所用之針盤夾具通常需經(jīng)專業(yè)人員制作﹐ 針盤背面可看到密如蛛網(wǎng)之繞線用之測(cè)試探針﹐既無法重復(fù)使用且針盤制作又極費(fèi)時(shí)。此類電測(cè)機(jī)之價(jià)格較廉﹐但若考慮日后各式各類針盤制作之費(fèi)用及測(cè)試點(diǎn)數(shù)不足之限制則不如購置萬用型電測(cè)機(jī)。 萬用型電測(cè)機(jī)所用之針盤﹐一般人員即可自行制作﹐不需繞線而所用之探針又可反復(fù)使用。針盤之制作可于數(shù)小時(shí)內(nèi)完成。唯此類設(shè)備﹐價(jià)格高昂﹐一般中小型電路板同業(yè)購置意愿不高。但若考慮針盤費(fèi)用之節(jié)省﹐及測(cè)試點(diǎn)多﹐可靠性高等因素﹐長期而言萬用型仍較專用型劃算。 以電測(cè)機(jī)之測(cè)試電壓分類則可分為高﹑中﹑低三個(gè)等級(jí) (此分類純屬筆者個(gè)人看法 )。 高壓型﹕ 測(cè)試電壓可高于 40V 以上者。 中壓型﹕測(cè)試電壓介于 40V 至 10V 之間者。 低壓型﹕測(cè)試電壓低于 10V 者。 電測(cè)機(jī)內(nèi)之組成零件之品級(jí)﹐故其價(jià)格差異頗大。以目前電子產(chǎn)品要求日趨嚴(yán)格﹐欲提高電路板的性能及品質(zhì)﹐電測(cè)亦漸以高壓測(cè)試為導(dǎo)向﹐以保障高價(jià)零件免于再拆重裝的煩惱及系統(tǒng)測(cè)試后﹐ 2 有助于所出現(xiàn)問題的單純化。 姑不論如何分類﹐任一電測(cè)機(jī)基本上必須包含下列各種要件﹕ (1) 界面裝置﹕ 此一裝置將針盤上每一探針的針尖接觸點(diǎn)與電測(cè)機(jī)內(nèi)的開關(guān)線路 (Switch Circuit)連接﹐以便測(cè)試。針盤更換速度的快慢﹐探針位置之編號(hào)等 均由此一裝置決定。 (2) 開關(guān)線路 (Switch Circuit)﹕ 所有的電測(cè)機(jī)內(nèi)﹐重復(fù)最多的線路即為開關(guān)線路。每一根測(cè)試針皆藉由此一線路而與測(cè)試線路連接進(jìn)行測(cè)試。開關(guān)線路的開關(guān)順序則由該機(jī)所設(shè)計(jì)的軟件控制。 (3) 測(cè)試線路 (Test Circuit)﹕ 是真正在電測(cè)機(jī)內(nèi)執(zhí)行測(cè)試功能的主角。此一線路設(shè)計(jì)的優(yōu)劣可決定斷路 (Open)﹐短路 (Short)或漏電 (Leakage)等判斷能力的高低。 (4) 記憶裝置 (Memory)﹕ 存放正確的電路圖以便與待測(cè)物進(jìn)行比較。 (5) 中央控制單位﹕ 此一單位為電測(cè)機(jī)中的靈魂。主導(dǎo)電測(cè) 機(jī)內(nèi)所有測(cè)試工作的進(jìn)行﹐包括自我測(cè)試﹐開關(guān)線路的運(yùn)作順序﹐測(cè)試結(jié)果的比較等等。 (6) 輸入 /輸出裝置 (I/O,Input/Output device)﹕ 藉由此一裝置﹐操作人員可明了電測(cè)之結(jié)果以及改變測(cè)試條件等。 三﹑專用朮語 為使下文易于了解﹐現(xiàn)將電測(cè)之主要常用朮語簡(jiǎn)介如下﹕ (1) 回路﹐網(wǎng)路 (Network)﹕ 一組經(jīng)由導(dǎo)線而連接在一起的測(cè)試點(diǎn)群。任一回路中之點(diǎn)數(shù)由1 至任何正整數(shù) “ n”。本文中之回路以 Lj 表示﹐注腳 i 字乃表示該一回路之編號(hào)。 (2) 測(cè)試
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