【正文】 依檢驗(yàn)記錄繪制 P控制圖 . 最近產(chǎn)線反映不合格品一再出現(xiàn) , 即提出了對(duì)外包廠是否要采取措施的問(wèn)題 , 但依上月之檢驗(yàn)記錄看 , 20天內(nèi)有 2次超出控制界限外 , 但每次只有一個(gè)不合格 , 而其他天不合格數(shù)皆為 0, 初步分析認(rèn)為分組數(shù)過(guò)小 , 若每組樣本大小 n增為 10倍以上 , 則可使 np5. 計(jì)數(shù)值控制圖的分組原則分組過(guò)小計(jì)數(shù)值控制圖的分組原則控制圖的分類與選用控制圖匯總控制圖的選用實(shí)例五、控制圖的分類與選用→ 計(jì)量型數(shù)據(jù)控制圖分類控制圖的分類與選用 → 計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖分類控制圖的分類與選用控制圖的公式匯總計(jì)量 /計(jì)數(shù)值控制圖選擇綜合練習(xí)根據(jù)以下情況選擇合適的控制圖 (P, Pn, C, U),并說(shuō)明原因 . 1. 比克電池一車間控制拉漿報(bào)廢的不合格品率 , 在拉漿檢測(cè)的過(guò)程中對(duì)拉漿性能進(jìn)行檢驗(yàn) , 用每天的批量作為一個(gè)樣本 , 每天批量可能會(huì)發(fā)生波動(dòng) . 控制圖類型選擇原因 計(jì)量 /計(jì)數(shù)值控制圖選擇綜合練習(xí)根據(jù)以下情況選擇合適的控制圖 (P, Pn, C, U),并說(shuō)明原因 . 2. 比克電池為控制電池不良品質(zhì)成本 , 在生產(chǎn)過(guò)程中改變以往用不良率計(jì)算的模式 , 換成不良數(shù)計(jì)算且固定檢驗(yàn)批量 .控制圖類型選擇原因 計(jì)量 /計(jì)數(shù)值控制圖選擇綜合練習(xí)根據(jù)以下情況選擇合適的控制圖 (P, Pn, C, U),并說(shuō)明原因 . 3. 比克電池為收集電池關(guān)鍵缺陷點(diǎn)進(jìn)而找出品質(zhì)改善方向 , 在電池生產(chǎn)過(guò)程中對(duì)電池缺陷進(jìn)行逐一檢查 , 生產(chǎn)批量不定 .控制圖類型選擇原因 計(jì)量 /計(jì)數(shù)值控制圖選擇綜合練習(xí)根據(jù)以下情況選擇合適的控制圖 (XbarR, XbarS, XMR),并說(shuō)明原因 . 3. 比克電池為控制壓片厚度性能 , 在生產(chǎn)過(guò)程中每隔 10分鐘隨機(jī)抽取 5件進(jìn)行尺寸量測(cè) .控制圖類型選擇原因 計(jì)量 /計(jì)數(shù)值控制圖選擇綜合練習(xí)根據(jù)以下情況選擇合適的控制圖 (XbarR, XbarS, XMR),并說(shuō)明原因 . 4. 比克電池注液工序?yàn)榭刂齐娊庖褐亓?, 每隔 30分鐘隨機(jī)抽取 12片進(jìn)行重量量測(cè) , 請(qǐng)問(wèn)該選用的控制圖為 : 控制圖類型選擇原因 過(guò)程能力研究篇Process capability analysis課程目的 ： 理解進(jìn)行過(guò)程能力分析的重要性； 掌握過(guò)程能力指數(shù)計(jì)算和分析的方法 。指數(shù)分類Cp,Cpk與 Pp,Ppk的區(qū)別? Cp指數(shù) =? Cp（ Capability of process） 過(guò)程能力指數(shù)? Cp:“我們能做得多好 ”? Cpk:“我們真正能做得多好 ”規(guī)格寬度工序?qū)挾菴p,Cpk與 Pp,Ppk的區(qū)別? Pp過(guò)程性能指數(shù)? Pp： “我們實(shí)際做到多好 ”? Ppk修正的過(guò)程性能指數(shù)? Ppk： “我們實(shí)際真正做到多好 ”Cp,Cpk與 Pp,Ppk的應(yīng)用時(shí)機(jī)短期過(guò)程能力指數(shù) 長(zhǎng)期過(guò)程能力指數(shù)? 新產(chǎn)品試作階段 。ofmatchesStdDev注： 過(guò)程績(jī)效指數(shù) 的使用時(shí)機(jī)同 過(guò)程能力指數(shù) 相當(dāng)；它們之間的區(qū)別之一是計(jì)算公式中使用的 Sigma不同。withinmachesupper(m)StdDev? 量產(chǎn)階段 。把 過(guò)程能力 記為 B ,則 B= 6 σ影響過(guò)程能力的因素☆ 人、機(jī)、料、法、測(cè)、環(huán)（ 5M1E）? 操作者方面 ： 如操作者的技術(shù)水平、熟練程度、質(zhì)量意識(shí)、責(zé)任心、管理程度等；? 設(shè)備方面 ：如設(shè)備精度的穩(wěn)定性，性能的可靠性，定位裝置和傳動(dòng)裝置的準(zhǔn)確性，設(shè)備的冷卻、潤(rùn)滑情況等等；? 材料方面 ：如材料的成分，配套元器件的質(zhì)量等等；影響過(guò)程能力的因素工藝方面 ：如工藝流程的安排，過(guò)程之間的銜接，工藝方法、工藝裝備、工藝參數(shù)、過(guò)程加工的指導(dǎo)文件、工藝卡、操作規(guī)范、作業(yè)指導(dǎo)書等；測(cè)量方面 ：如測(cè)量?jī)x器的精度、穩(wěn)定性、測(cè)量者的讀數(shù)習(xí)慣、測(cè)量方法等等都會(huì)對(duì)結(jié)論的形成產(chǎn)生一定的影響；環(huán)境方面 ：如生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的溫度、濕度、噪音干擾、振動(dòng)、照明、室內(nèi)凈化、現(xiàn)場(chǎng)污染程度等等。5定義測(cè)量系統(tǒng) , 如 GoNoGo量規(guī) , 目視檢驗(yàn)等標(biāo)準(zhǔn)判定程序 。設(shè) n為樣本大小， C為缺陷數(shù)，則單位缺陷數(shù)為： u=c/n單位缺陷數(shù)控制圖作圖步驟I. 收集數(shù)據(jù)，包括樣本大小和缺陷數(shù)：?jiǎn)挝蝗毕輸?shù)控制圖作圖步驟2. 計(jì)算單位缺陷數(shù)和上下控制界限：? 計(jì)算結(jié)果單位缺陷數(shù)控制圖作圖步驟單位缺陷數(shù)控制圖作圖步驟3. 作控制圖計(jì)數(shù)值控制圖導(dǎo)入注意事項(xiàng)因計(jì)數(shù)值控制圖牽涉到較多的工程技術(shù)問(wèn)題 , 因計(jì)數(shù)值控制圖則與管理系統(tǒng)有較大關(guān)系 , 因此導(dǎo)入前牽涉到較多的管理制度 , 例如 :1將品質(zhì)目標(biāo)量化 , 即如何制定展開(kāi)至過(guò)程系統(tǒng)的品質(zhì)水準(zhǔn) 。不合格品數(shù)控制圖作圖步驟2. 收集數(shù)據(jù) Pn1， Pn2, Pn3 , …… , Pnk ,k為樣本數(shù) :不合格品數(shù)控制圖作圖步驟3. 計(jì)算控制中心和控制界限 :不合格品數(shù)控制圖作圖步驟該例中 ,所以 :不合格品數(shù)控制圖作圖步驟4. 作控制圖不合格品數(shù)控制圖比克練習(xí)例：比克電池品質(zhì)管理層為了了解電池的品質(zhì)狀況 , 經(jīng)抽樣檢查 25批電池后 , 得出的不良數(shù)據(jù)如下表 , 試制作 Pn圖 .不合格品率控制圖(P圖 )不合格品率控制圖 (P圖 )? 樣本容量 n大小不定時(shí)對(duì)產(chǎn)品合格與否的控制圖 。 3定義控制特性 。這樣可以使車間工人易于接受控制圖方法。b. 計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)錯(cuò)誤 。 3決定樣本組數(shù) K 足夠的樣本數(shù)以保證過(guò)程系統(tǒng)的主要變異有機(jī)會(huì)出現(xiàn) . 均值 極差控制圖作法重點(diǎn)1) 收集數(shù)據(jù)：至少 75個(gè)以上，最好 100個(gè)以上。 經(jīng)常出問(wèn)題的特性 。n=1？ 關(guān)心的是不合格率嗎？均值是否方便計(jì)算？ n是否恒定？n是否恒定？–連續(xù) 8點(diǎn)中沒(méi)有 1點(diǎn)落在安全區(qū)判斷受控與失控xUCLCLLCLtxUCLCLLCLt典型失控狀態(tài)九 ：216。連續(xù) 9點(diǎn)出現(xiàn)在中心線一側(cè) 典型失控狀態(tài)二：判斷受控與失控216。距離太大，當(dāng)有些數(shù)據(jù)點(diǎn)超出控制限時(shí)無(wú)法表示；距離太小，描點(diǎn)和分析時(shí)會(huì)比較困難 。步驟二、確定抽樣方案 ◆3 、確定抽樣間隔期– 確定抽樣間隔應(yīng)考慮的因素? — 工序穩(wěn)定性? — 抽樣時(shí)間及成本因素? — 工序能力指數(shù)? — 工序調(diào)整周期 (ECN)– 一般在兩次相鄰的工序調(diào)整之間要抽取 20—24個(gè)樣本 .? *當(dāng) n≥10 時(shí)，此時(shí)用 R/d2作為對(duì) σ 的估計(jì)，誤差較大，此時(shí)一般選用 S控制圖代替 R圖。解析用 穩(wěn)定 控制用控制圖的分類 (按用途分 )制作分析用控制圖之目的? 在控制圖的設(shè)計(jì)階段使用 ,主要用以確定 合理的 控制界限 。何時(shí)使用 SPC課程內(nèi)容柯達(dá) 5000職工一共用了 35000張控制圖。方式 UCL ＝ u ＋ 3σ 式中 u、 σ 為統(tǒng)計(jì)量的總體參數(shù) CL ＝ u LCL ＝ u － 3σ 注意：規(guī)格界限不能用作控制界限。 偶因 → 偶波 → 對(duì)質(zhì)量影響小 → 聽(tīng)之任之 難以去除 異因 → 異波 → 對(duì)質(zhì)量影響大 → 過(guò)程注意對(duì)象 不難去除控制圖原理的第二種解釋 偶因 → 偶波 → 典型分布 異因 → 異波 → 偏離典型分布 → 控制圖檢出 控制圖上的控制界限就是區(qū)分偶波與異波的科學(xué)界限。168?？刂茍D的形成 控制圖的構(gòu)成+3s1 2 3 4 5 6 7 8 9 1018171615141312111098765 3s? 日本在 1950年由 . Deming博士引到日本。缺點(diǎn)■ 平均數(shù)受超常值的影響。 。特 殊 原 因? 特殊原因是使過(guò)程特性發(fā)生顯著變化的因素 它的特點(diǎn)是：不經(jīng)常存在于過(guò)程中；它們通常來(lái)自過(guò)程之外；相對(duì)于普通原因來(lái)講，對(duì)過(guò)程波動(dòng)有較大的影響；容易發(fā)現(xiàn)和隔離 .當(dāng)過(guò)程受特殊因素的影響時(shí)，過(guò)程的輸出不再服從預(yù)期的分布，過(guò)程處于不穩(wěn)定狀態(tài)。 % %μ177。如果加工出來(lái)的數(shù)據(jù)都是 ，那么標(biāo)準(zhǔn)差是零。σ :總體 標(biāo)準(zhǔn)差，描述數(shù)據(jù)的分散程度。 2) 維持或改善控制 .目標(biāo)是使品質(zhì)維持不變 .把統(tǒng)計(jì)，過(guò)程及控制三個(gè)名詞的英文字頭起來(lái)就是 SPC.什么是統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制 (SPC)SPC就是利用統(tǒng)計(jì)方法去 : . . . SPC幾個(gè)重要概念 .第一個(gè) ,也是最重要的是你能否確定過(guò)程的輸入和輸出并把它們定量化，然后才開(kāi)始控制該過(guò)程 不是先行控制 . SPC是以預(yù)防代替檢驗(yàn)，制業(yè)與其他行業(yè)一樣 ,預(yù)防發(fā)生錯(cuò)誤永遠(yuǎn)比事后矯正為好。? 隨機(jī)現(xiàn)象通常應(yīng)用分布來(lái)描述，分布可以告訴我們：變異的幅度有多大，出現(xiàn)這么大幅度的可能性，這就是統(tǒng)計(jì)規(guī)律。正態(tài)分布的基礎(chǔ)知識(shí)?μ 不同 (均值 )正態(tài)分布的基礎(chǔ)知識(shí)?σ 不同 (標(biāo)準(zhǔn)差 )正態(tài)分布的基礎(chǔ)知識(shí)正態(tài)曲線的特征? 曲線關(guān)于 μ對(duì)稱；? 當(dāng) x=μ時(shí)取到最大值；? X離 μ越遠(yuǎn)， f（ x） 的值越小；μ正態(tài)分布的基礎(chǔ)知識(shí) 正態(tài)分布的兩個(gè)參數(shù) μ和 σ是相互獨(dú)立的。kσ 在內(nèi)的概率 在外的概率μ177。首先是區(qū)分普通原因和特殊原因。 ■ 一組數(shù)據(jù)只有一個(gè)平均數(shù)且組中每個(gè)數(shù)據(jù)的變化都會(huì)影響平均數(shù)。需要對(duì)數(shù)據(jù)排序，對(duì)大樣本將非常繁瑣。眾數(shù)的優(yōu)、缺點(diǎn)控制圖的歷史控制圖原理及形成控制圖的重要性何時(shí)使用 SPC四、控制圖概述? 控制圖 是 1924年由 美國(guó) 品管 大師休哈特 . Shewhart博士 發(fā)明 . 因其用法 簡(jiǎn)單 且效果 顯著 , 人人能用 , 到 處 可用