sixsigma基礎(chǔ)教材-文庫吧在線文庫
【正文】 part, repeatability, reproducibility 分類進行分析 , ANOVA方法是 上述事項 外根據(jù) operatorbyoperator 的變動分析 . ANOVA 方法比 XbarR方法正確 , Gage RR Study (Crossed)可以使用這兩種方法 , 但 Gage RR Study (Nested)是只用 ANOVA方法分析 . 判斷標準 %Study Var %RR ≤10% : Good 好 10% ≤% RR≤ 30% : Accessible 可以接受 (要考慮測量對象的重要性和更換設(shè)備的費用 ) %RR ≥30% : Not Available 不可以接受 Measure Step 測量系統(tǒng)好的條件分析 ◆ 只存在對偶然因素的偏差 (排除短時間的偏差 ) ◆ 測量系統(tǒng)偏差比制造 /試驗過程偏差要少 . ◆ 測量的最小單位是過程偏差或規(guī)格界限中允許的 1/10. ◆ 以一個測量系統(tǒng)測量各種項目時 , 項目的最大偏差 比其項目的過程偏差或規(guī)格界限中允許的還要小 . 好的測量系統(tǒng)的條件 Measure Step 過程能力 — 概念 過程能力 是在其過程采取的各種質(zhì)量特性 ,能達到何種程度的能力。 2 mm Measure Step 過程能力指數(shù) — 狀態(tài)分布 PPM Total PPM USL PPM LSL PPM Total PPM USL PPM LSL PPM Total PPM USL PPM LSL Ppk PPL PPU Pp Cpk CPL CPU Cp StDev (Overall) StDev (Within) Sample N Mean LSL Target USL 100 * Exp. Overall Performance Exp. Within Performance Observed Performance Overall Capability Potential (Within) Capability Process Data Within Overall 潛在的分布曲線 柱狀圖 實際分布曲線 602 601 600 599 598 USL LSL Process capability Analysis for supper Measure Step 過程能力指數(shù) — 正態(tài)分布 * 結(jié)果說明 過程數(shù)據(jù) : Process Data StDev(Within) : 樣本標準偏差 , StDev(Overall) : 總體標準偏差 短期過程能力 (潛在過程能力 ) : Potential (within) Capability Cp : 短期過程能力指數(shù) , Cpk : 考慮過程中心值與目標值偏離的短期過程能力指數(shù) 長期過程能力 (實際的過程能力 ) : Overall Capability Pp : 長期過程能力指數(shù) , Ppk : 考慮過程中心值與目標值偏離的長期過程能力指數(shù) Observed Performance 因規(guī)格未達到的不良率 10000PPM Exp. “Within” Performance (潛在的過程能力 ) 脫離規(guī)格或未達到發(fā)生的不良率 Exp. “Overall” Performance (實際過程能力 ) 脫離規(guī)格或未達到要求的不良率是 * 過程平均稍微脫離目標值 . 數(shù)據(jù)的分布超過 LSL偏向于左 , 這說明供方提供的材料有時不能滿足下限規(guī)格要求 . 潛在過程能力的 Cpk是 ，這說明供方應(yīng)減少過程波動 , 提供與目標要求一致的產(chǎn)品 .’ Measure Step 過程能力指數(shù) — 計數(shù)型數(shù)據(jù) 計數(shù)型 Data 計量型 Data Zst = 3*Cp, Zlt = 3*Cpk Zshift = Zst Zlt D PMO ??? ?? D PMO ??? ??500 ,000460 ,000421 ,000382 ,000345 ,000309 ,000242 ,000184 ,000136 ,00096,8 0066,8 0044,6 0028,7 00? 17,9 0010,7 006,21
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