(qc7大手法-精選講議=qc七大手法精選之訓(xùn)練講議(p0-文庫吧在線文庫
【正文】 ,錫鉛比例與溫度之關(guān)係 ,電鍍時間與電鍍厚度之關(guān)係 . DATE:2023/11/3 PAGE:13 Prepared by: Ted Wang 二 .散佈圖 ? 繪製方法 : 收集 50~100相對應(yīng)之?dāng)?shù)據(jù) .至少 30組 . 一般以橫軸代表要因 ,縱軸代表品質(zhì)特性 . 若是要因與要因或品質(zhì)特性與品質(zhì)特性 .則可任意決定 . 刻度大小 ,則兩者變異弧度大致相同大小即可以 . 將收集之?dāng)?shù)據(jù)繪於相對位置上 . 把握正確資訊 ,採取必要的措施 . DATE:2023/11/3 PAGE:14 Prepared by: Ted Wang 二 .散佈圖 散佈圖的看法 — : x增加時 y也跟著增加 .欲管制 y時只需管制 x. x增加時 y反而跟著減少 .只需管制 x, y即可獲得管制 . x與 y完全沒有相關(guān) . DATE:2023/11/3 PAGE:15 Prepared by: Ted Wang 三 .柏拉圖 ? 柏拉圖 柏拉圖分析是以 80:20原理進(jìn)行重點(diǎn)分析的圖表，不良／缺點(diǎn)項(xiàng)目依數(shù)量之大小排列，橫座標(biāo)為不良／缺點(diǎn)項(xiàng)目，縱座標(biāo)為不良／缺點(diǎn)數(shù)量或累積百分比，分析出重點(diǎn)不良／缺點(diǎn)項(xiàng)目做為改善之目標(biāo) DATE:2023/11/3 PAGE:16 Prepared by: Ted Wang 三 .柏拉圖 ? 繪製方法 1. 決定分類項(xiàng)目： 以產(chǎn)品或製程訂定檢查項(xiàng)目或不良原因。 DATE:2023/11/3 PAGE:5 Prepared by: Ted Wang QC七大手法 ? QC統(tǒng)計(jì)手法 特性要因圖 ,散佈圖 ,柏拉圖 ,直方圖 ,推移圖 ,查檢表 ,層別法 . QC七大手法 關(guān)聯(lián)圖法 ,KJ法 ,系統(tǒng)圖法 ,PDPC法 ,箭線圖法 ,矩陣圖法 ,矩陣數(shù)據(jù)解析法 推定與檢定 ,抽樣計(jì)畫 ,管制圖 ,實(shí)驗(yàn)計(jì)畫法 ,相關(guān)與回歸 . 抽樣技術(shù) ,官感檢查 ,可靠度 DATE:2023/11/3 PAGE:6 Prepared by: Ted Wang QC七大手法 集 ：須根據(jù)事實(shí)或數(shù)據(jù)說明。如果能夠充分了解 QC手法且運(yùn)用得宜，就能蒐集到正確有效的資訊，並作出精準(zhǔn)的判斷。工具包括：特性要因圖、統(tǒng)計(jì)圖中的管制圖（ Control Chart）。 3. 計(jì)算統(tǒng)計(jì)量。 DATE:2023/11/3 PAGE:36 Prepared by: Ted Wang 六 .層別法 ? 依原料的供應(yīng)來源或批次層別 ? 依作業(yè)人員的 部門、年齡、性別、熟練程度等層別 ? 依機(jī)械設(shè)備之種類、廠牌與佈置位置等層別 ? 依時間，如月、週、日夜、或上下午等層別 ? 依作業(yè)條件，如溫度、壓力、速度或天氣等層別 ? 依操作方法層別 ? 依不同生產(chǎn)線層別 線別 A線 B線 C線 投入數(shù) 10000 9800 8500 不良數(shù) 20 18 22 不良率 % % % X X 公司注塑機(jī)系三班輪班 , 前週所生產(chǎn)的產(chǎn)品均為同一產(chǎn)品 , 結(jié)果為 以班別來分類 , 並加以統(tǒng)計(jì) , 就可得知各班的產(chǎn)量及不良率狀況 , 以這些數(shù)據(jù)來實(shí)施那些改良措施 . DATE:2023/11/3 PAGE:37 Prepared by: Ted Wang 七 .查核表 ? 查核表是一種用來收集及分析數(shù)據(jù)簡單而有效率的圖形方法。 ，整理分析，以便了解管制情況或採取必要措施。 在運(yùn)用 QC七大手法之初可能會像其他工具一樣，開始並不熟捻，因此建議使用者不妨先由工作上簡單的作業(yè)進(jìn)行練習(xí)。在改以專門的搬運(yùn)工具後，缺點(diǎn)數(shù)顯著減少。 ? 查檢表依用途區(qū)分，大致可分為記錄用及點(diǎn)檢用兩種。 ? 層別法之步驟 。 組距 (h)= 全距 (R) / 組數(shù) (k) 一般取 h 值為量測單位之整數(shù)倍 組界即是每一分組之上下界限值，其決定之方法如下： 第一組下界 Ｌ 1 ＝ MIN｛ Xij｝－ 量測單位／ 2 第一組上界 Ｕ 1 ＝ Ｌ 1 ＋ h 第二組下界 Ｌ 2 ＝ Ｕ 1 第二組上界 Ｕ 2 ＝ Ｌ 2 ＋ h 第ｉ組下界 Ｌ i ＝ Ｕ i1 第ｉ組上界 Ｕ i ＝ Ｌ i ＋ h 第ｋ組下界 Ｌ k ＝ Ｕ k1 第ｋ組下界 Ｕ k ＝ Ｌ k ＋ h ＞
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