【正文】 （ 偶然原因、普通原因、固有原因、隨機原因）：系統(tǒng)或過程固有的誤差因素? 異常原因（ Special Cause）： (可查明、可指出、特殊原因、異常原因、系統(tǒng)原因）：系統(tǒng)或過程中特殊、異常事件造成的誤差統(tǒng)計推斷? 正常 原因造成的誤差滿足正態(tài)分布? 異常原因造成的誤差偏離正態(tài)分布? 合理分組應(yīng)為：組內(nèi)差異是由正常原因引起的，組間差異應(yīng)由異常原因引起的。人機器材料 資源組合 輸出方法環(huán)境（ 輸入）誤差 的概念13/171CECpanda LCD technology誤差 的概念? 過程中存在誤差? 人? 機器? 材料? 方法? 環(huán)境Product or servicePeople Machine MaterialsEnvironment Methods14/171CECpanda LCD technology因變量：與客戶相關(guān)的過程輸出結(jié)果現(xiàn)象X1X2X3YX=f(x)自變量： X1, X2,..., Xn過程輸入原因問題誤差 的概念15/171CECpanda LCD technology誤差的描述－趨勢圖16/171CECpanda LCD technology? 統(tǒng)計量（ Statistics） 總體和抽樣 .? 平均值? 極差 R=X max X min? 方差 標準偏差 ^2=方差實際問題先轉(zhuǎn)化為統(tǒng)計問題 ,得到統(tǒng)計學結(jié)論后再轉(zhuǎn)化為實際結(jié)論誤差 的描述－統(tǒng)計量1)(122=229。Berger)教授指出，日本成功的基石之一就是 SPC。1/171CECpanda LCD technologySPC相關(guān)知識簡介相關(guān)知識簡介 2023年度新職員入廠培訓年度新職員入廠培訓Presented by蔣云峰蔣云峰2/171CECpanda LCD technology今天您需要做些什么3/171CECpanda LCD technology? 認識 實行 SPC的意義? 理解 過程中的誤差及其度量? 掌握 控制圖及 OCAP的內(nèi)涵及運用? 掌握 工藝能力的概念及計算? 懂得 預(yù)防與檢測的區(qū)別課程目標4/171CECpanda LCD technology? 如何 搜集數(shù)據(jù)（合理分組），制定合理的數(shù)據(jù)搜集計劃。W. 10/171CECpanda LCD technology誤差誤差 的概念Variation變動， 偏差，變異，波動，變差11/171CECpanda LCD technology誤差 的概念? 世界是變化的 世事易變，唯變不變? 世界上沒有一模一樣的東西? 沒有 兩個產(chǎn)品是完全一樣的? 產(chǎn)品 間的差異就是誤差? 過程 存在誤差，產(chǎn)品間的差異永遠存在? 誤差 越大質(zhì)量越差12/171CECpanda LCD technology? 過程： 將各項輸入，按照一定的要求組合，并能轉(zhuǎn)化為輸出的活動?？傮wSample019 PCS使用者 占有率 ?Data大韓民國區(qū)分 人員350120530011 PCS017 PCS019 PCSPCS使用者1000名18/171CECpanda LCD technology對總體的判斷◆ 總體和 Sample標本 (Sample,10)總體(N=1,000)Sample 10個測定 (規(guī)格 : 100177。? SPC是從統(tǒng)計的觀點來認識和處理過程變異的。3σ區(qū)域內(nèi)的概率為 %，落在區(qū)域之外的概率僅為 %.? 因此常把 X177。當特殊原因偏差存在時 ).? 展示過程的自然偏差 ,? 根據(jù)中心極限定理，無論控制圖所控制的質(zhì)量特性如從何種分布，只要抽樣數(shù)足夠多，其平均值的分布服從正態(tài)分布。由于兩家采用的是同樣的檢驗規(guī)范，福特公司覺得不可思議，最后福特公司把兩家生產(chǎn)的變速器的零件拆下作檢測，結(jié)果發(fā)現(xiàn)他們均滿足規(guī)范要求，但是分布狀態(tài)不同。一旦進入了控制階段，就表明過程實現(xiàn)了上述兩點。σR/d2^它等于過程均值與最近的規(guī)范之差除以過程固有偏差的3σ范圍 . CPK=Min[CPU， CPL] CR： CR是 CP的倒數(shù)， CR=： 隨著時間推移，任一工序的分布中心會在 “規(guī)格中心 177。85/171CECpanda LCD technology計量值數(shù)據(jù)控制圖過程能力分析? 過程能力的度量指數(shù)? ZLSL為下限過程能力 ,定義為規(guī)格上限與平均值之差除以過程固有偏差的 σ范圍 .? LSL=規(guī)格下界限? Xbar=所有樣本的本均值 R=子組內(nèi)數(shù)據(jù)極差的平均值 d2=常數(shù) ,如下表 ,n為子組樣本容量=nXixni計量值數(shù)據(jù)控制圖過程能力分析? 過程能力的度量指數(shù)? PP為性能指數(shù) ,定義為不考慮過程偏移時 ,公差寬度除以過程總偏差的 6σ范圍 .? USL=規(guī)格上界限? LCL=規(guī)格下界限 =過程總偏差 = n=所有樣本的容量CP= USLLSL6σS^? 定義測量系統(tǒng)：該過程采用三班制生產(chǎn)，因此確定的測量系統(tǒng)為 3班各一位檢驗人員，共用一把卡尺，及各班生產(chǎn)的產(chǎn)品? 測量系統(tǒng)分析：經(jīng)分析測量系統(tǒng)誤差在可接受范圍? 確定抽樣數(shù)及抽樣頻率：抽樣子組容量為 5pcs，連續(xù)抽樣，抽樣頻率為每1小時抽樣一次。?出現(xiàn)可查明原因。5,113/171CECpanda LCD technology異常原因（ XbarR圖）R圖超界 R圖非隨機趨勢 X圖超界 X圖非隨機趨勢?數(shù)據(jù)錯誤?控制界限計算錯誤?描點錯誤?測量系統(tǒng)變化?測量系統(tǒng)分辨力不足?過程變異分布寬度變寬?數(shù)據(jù)錯誤?控制界限計算錯誤?描點錯誤?測量系統(tǒng)變化?測量數(shù)據(jù)可能來自不同的總體?過程變異質(zhì)量特性發(fā)生變化?數(shù)據(jù)錯誤?控制界限計算錯誤?描點錯誤?測量系統(tǒng)變化?過程變異分布中心變化?數(shù)據(jù)錯誤?控制界限計算錯誤?描點錯誤?測量系統(tǒng)變化?測量數(shù)據(jù)可能來自不同的總體?過程變異位置發(fā)生變化5M1E(人，機，料，法，量，環(huán)）管理分析 以消除明顯的過程偏差114/171CECpanda LCD technologyXbarS圖? XbarS圖與 XbarR的比較? ? S圖的比較? (1)R可以比較靈敏的檢出子組內(nèi)個別值異常所造的過程偏差， S圖無法做到此點? (2)S圖描述過程分布寬度比 R圖更為準確? ? Xbar –S圖適用于子組容量較大 ,又可以方便計算 S 值得計量值數(shù)據(jù)過程控制 .115/171CECpanda LCD technologyXbarS圖? 確定進行控制的過程? 確定進行控制特性項目? 定義測量系統(tǒng)? 進行測量系統(tǒng)分析? 消除明顯的過程偏差? 收集數(shù)據(jù)? 確定子組樣本容量 :XbarS圖應(yīng)用于子組樣本容量 =9的場合 ,在使用時一般每個子組取10個樣本 .? 確定子組抽樣頻率 :綜合考慮過程的穩(wěn)定性和經(jīng)濟性 ,至少每個班次抽樣一次? 確定子組數(shù)：一般而言子組數(shù)在 25個以上 ,這樣可以比較全面地判斷過程穩(wěn)定性? 建立 XbarS控制圖? 計算控制界限? 繪圖 ? 分析控制圖? 計算過程能力? 改善或維持116/171CECpanda LCD technologyXbarS圖? 計算控制界限? UCLx=X+A3S? LCLx=XA3S? CLx=X? UCLs=B4S? LCLs=B3S? CLs=S? n=子組容量? Xi=子組內(nèi)每個測量數(shù)據(jù)? X=子組平均值? K=子組數(shù)? Xj=每個子組的均值? Sj=每個子組的標準差? A3， B3， B4均為常數(shù)∑KSjj=1K－S=＝－－＝＝－－－－－－－－－= =120/171CECpanda LCD technologyXbarS圖? 將數(shù)據(jù)及控制界限作于 XbarS圖上? 分析 S圖：按 S圖的分析準則判斷，未發(fā)現(xiàn)異常? 分析 Xbar圖：按 Xbar 圖的分析準則判斷，未發(fā)現(xiàn)異常? 結(jié)論：根據(jù)對 S圖和 Xbar圖的分析，可以判斷過程處于受控狀態(tài)121/171CECpanda LCD technologyXbarS圖? 計算過程能力CP= USLLSL6σS/C4^ CPK=＜ 1，因此該過程能力需要改善。直方圖的制作方法128/171CECpanda LCD technology 步驟：? 收集數(shù)據(jù) 約 100個數(shù)據(jù)? 計算極差 R＝ 最大值 L－ 最小值 S ? 適當分組 ? 確定組距 組距 H＝ 極差 R / 組數(shù) K ? 確定各組區(qū)界線? 計算落在各組中的數(shù)據(jù)數(shù)目? 在紙上畫直方圖 直方圖的制作方法129/171CECpanda LCD technology 組數(shù)選用表 數(shù)據(jù)數(shù)目 組數(shù) K50－ 100 6－ 10100－ 250 7－ 12250 以上 10－ 20 組數(shù)太少會掩蓋各組內(nèi)數(shù)據(jù)的變動情況，組數(shù)太多會使各組的高度參差不齊，從而看不出明顯的規(guī)律。 (g) 平頂形h、 邊峰型 (Edgepeaked) 某個異常因素在起作用(a)邊峰型常見的直方圖形態(tài)141/171CECpanda LCD technology 對正常型直方圖，用數(shù)據(jù)散布范圍 B與標準范圍（公差） T進行比較，觀察直方圖是否都在標準范圍之中，以便了解生產(chǎn)過程中的質(zhì)量狀況。(c) 雙峰形(d) 斷齒型常見的直方圖形態(tài)138/171CECpanda LCD technologye、 偏向型 (Skewed) 偏左：由于某種原因使下限受限制時易發(fā)生 偏左型 。 SC4CPU= USLXbar3σS/C4^=nXixniS=√＝－－＝＝－－－－－－－－－117/171CECpanda LCD technologyXbarS圖? 為對某產(chǎn)品孔徑 A的分布狀態(tài)有較為詳細的了解，決定用 Xbar –S圖對其進行控制，流程如下：? 確定需控制的過程和項目：? 控制過程為機加工過程，控制項目為某產(chǎn)品的孔徑 A，其規(guī)格為：∮ 177。?無趨勢和其他模式。? 要求馬上采取行動 .? 檢驗 2? 由流程平均值改變引起UCLLCLAABCCB檢驗 1. 單個點超出區(qū)間 AxxUCLLCLAABCCBTest 2. 連續(xù)九個點都在中心線的同一側(cè)x?101/171CECpanda LCD technology檢驗 1 和 2 – 展示 規(guī)則 1規(guī)則 2? ? ?X杠UCLLCL? ? ?檢驗 1. 單個點超出區(qū)間 ATest 2. 連續(xù)九個點都在中心線的同一側(cè)102/171CECpanda LCD technology檢驗 3 和 4? 檢驗 3 – 向上或向下的趨勢? 有下列原因造成 1 個點，距離中心線超過 個標準差。K Xjj=1K＝X=_ ∑σR/d2^=過程固有偏差即 ZUSL=3CPUZUSL= USLXbarσR/d2^時間Y 因變量普通原因誤差每個方格都代表一個子群的數(shù)據(jù)特殊原因誤差72/171CECpanda LCD technology計量值數(shù)據(jù)控制圖? 極差 /標準差圖的分析及決策圖確定控制對象性質(zhì)所有點都落在控制界限內(nèi)嗎從控制圖中去除該點否是 是否只有 1或 2個點超出控制界限 三個或以上 R/S點超出控制界限重新計算控制界限所有點都落在控制界限內(nèi)嗎極差標準差受控極差 /標準差不在控制范圍消除變異原因收集