【正文】 存在）、改善階段（驗證解決方案）、控制階段（確定是否過程發(fā)生重要的變化）均會用到假設(shè)檢驗的方法去發(fā)現(xiàn)問題，驗證方案有效性。 對結(jié)論進行總結(jié)，是否只適用于所研究的特定場合，可否推廣，有何限制 /約束條件？ 相應(yīng)供應(yīng)商 A的物料。即實際觀察的差異的顯著性，如果 P α ,則差異具有統(tǒng)計顯著性，如果 P≥ α,則說明差異不具有統(tǒng)計顯著性。 ? t檢驗法： 單樣本 t檢驗法適用于對單個總體樣本均值的檢驗，可針對小樣 本容量（ n≤ 30）進行檢驗。 α＝ ? 選擇假設(shè)檢驗類別。 P＝ 總體均值的置信區(qū)間 A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 多樣本均值假設(shè)檢驗 若需要同時檢驗多個樣本均值有無差異，這時就需要用到方 差分析 ANOVA 例：某編碼下有 3種電阻，實測其阻值分別是： A： B： C： 問：三種電阻阻值均值是否有顯著差異。 P＝ A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 多樣本方差檢驗 在需要同時比較多個方差的場合，需進行多樣本方差 檢驗 多樣本方差檢驗樣本分正態(tài)數(shù)據(jù)的檢驗和非正態(tài)數(shù)據(jù) 的檢驗 在 MINITAB中用 Bartlett檢驗法用于正態(tài)數(shù)據(jù)的檢驗 Levene檢驗法用于非正態(tài)數(shù)據(jù)的檢驗 A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 例：某公司用 4臺設(shè)備加工一批 100K電阻，為檢驗 4臺設(shè)備加工精度有無差異，各抽取 20個電阻，測得其阻值分別是： A： 105 108 104 102 103 106 108 110 109 102 104 106 105 111 104 103 105 106 107 105 B： 98 112 117 109 112 114 105 108 109 107 105 104 108 107 100 99 98 101 103 117 C： 115 109 108 107 105 104 105 95 106 108 107 105 103 103 105 105 106 107 93 105 D： 104 103 102 97 96 108 107 105 108 108 104 105 107 105 100 98 107 110 112 113 問：這 4臺設(shè)備加工精度有無差異。 ? 比例的置信區(qū)間和假設(shè)檢驗 分單樣本和雙樣本，用于量化變差，確定變化是否 具有統(tǒng)計顯著性。 所有點都超出置信區(qū) A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 6）卡方 檢驗 （ χ2檢驗 ） 例：某公司某產(chǎn)品，有 3條生產(chǎn)線生產(chǎn)，近期從客戶退回一批不良品，經(jīng)檢驗分析主要為 4種不良：分別是漏件、劃傷、板裂和元器件破損，為確認缺陷是否隨不同生產(chǎn)線而變化。 置信區(qū)間下限是 %，上限是 %，即生產(chǎn)線現(xiàn)在的不良范圍是 %～ % P 置信區(qū)間 A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 3）兩個比例的置信區(qū)間和假設(shè)檢驗 例：我司某單板，同時使用 A、 B兩家供應(yīng)商的器件，為確認那家器件的不良率低，收集了一個月生產(chǎn)不良率的數(shù)據(jù)如下： 供應(yīng)商 A：檢驗數(shù) 38604，不良品數(shù) 280，不良比例% 供應(yīng)商 B：檢驗數(shù) 2780，不良品數(shù) 15，不良比例 % 問供應(yīng)商 A的器件不良率是否比供應(yīng)商 B的高？ ? 建立假設(shè)： H0：供應(yīng)商 A的器件不良率不比供應(yīng)商 B的高 Ha：供應(yīng)商 A的器件不良率比供應(yīng)商 B的高 ? 確定可接受的 α風(fēng)險系數(shù)， α＝ ? Minitab： StatBasic Statistics2 Proportion A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 用 MINITAB計算結(jié)果 Test and CI for Two Proportions Sample X N Sample p 1 280 38604 2 15 2780 Estimate for p(1) p(2): 95% lower bound for p(1) p(2): Test for p(1) p(2) = 0 (vs 0): Z = PValue = P ，無法拒絕零假設(shè)，即以 95％置信度認為供應(yīng)商A的器件不良率不比供應(yīng)商 B的高。s TestFactor LevelsDCBATest for Equal Variances for A用 MINITAB計算結(jié)果 Test for Equal Variances Response A Factors C2 ConfLvl Bonferroni confidence intervals for standard deviations Lower Sigma Upper N Factor Levels 20 A 20 B 20 C 20 D Bartlett39。這時就需要用到 F檢驗 例：某公司用 2臺設(shè)備加工一批電阻，為檢驗兩臺設(shè)備加工精度有無差異，各抽取 10個電阻，測得其阻值分別是： A： B： 問：這 2臺設(shè)備加工精度有無差異。 2) 雙樣本 t檢驗 雙樣本 t檢驗法適用于小樣本容量條件下對兩個總體 均值進行測試。 P＝ 總體均值的置信區(qū)間 A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 例：某供應(yīng)商生產(chǎn)的一批電阻，阻值為 500Ω，為確認來料是否與目標值 500Ω吻合，測得 20個阻值數(shù)據(jù)如下： 499 501 500 502 498 500 501 501 497 502 499 499 498 499 498 500 499 499 502 501 問該批來料阻值是否偏離目標值。 一般情況，若 P，則拒絕零假設(shè)， 95％的置信度 A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 假設(shè)的定義 1) 單側(cè)檢驗和雙側(cè)檢驗 臨界值 α 2 α 2 無法拒絕 H0 拒絕范圍 拒絕范圍 臨界值 α 無法拒絕 H0 拒絕范圍 臨界值 臨界值 α 無法拒絕 H0 拒絕范圍 H0： A＝ B Ha： A≠B H0： A＝ B Ha： A B H0： A＝ B Ha： A B A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 2） 定義假設(shè) 零假設(shè)公式 備選假設(shè)公式 檢驗類別 應(yīng)用 H0 ： μ1＝ μ2 Ha： μ