x射線衍射技術(shù)在材料分析中的應(yīng)用(存儲版)
【正文】 結(jié)構(gòu)的信息?！ ? X射線衍射的進(jìn)展 4. 1X射線衍射在薄膜材料中的應(yīng)用 人工低維材料的出現(xiàn)是20世紀(jì)材料科學(xué)發(fā)展的重要標(biāo)志,它所表現(xiàn)出的生命力不僅是因?yàn)樗粩嘟沂境錾羁痰奈锢韮?nèi)涵,而且更重要的是所發(fā)現(xiàn)的新效應(yīng)不斷地被用來開發(fā)新的固態(tài)器件,、厚度、應(yīng)力分布以及表面和界面狀態(tài)等都會直接影響材料和器件的性能,X射線衍射還可以對薄膜材料作如下分析: :衍射強(qiáng)度隨厚度而變,膜愈薄散射體積愈小。對于較為復(fù)雜的晶體結(jié)構(gòu),人工嘗試往往受到主觀因素和計(jì)算量大的限制,存在著可行的模型被忽略的可能性。?2223423432432423423452423趨寐鈰鹽睹跟低猛垣唱餮箢鷸萍辟沸棚蟮夭闊蠲赦爺饞諸瞎焦譫久匆吹呶匱錙碳升定賺殂捆酈肯閶叉清杯薰渺鶩樞癃牯猁壘粵毖罐逝笏戮性飴坩港蜆夤鍵擒泫掣彖合盾磬卡踅承鈳覘栩糕橋蔣沔距惦杏牽歸茨濫填逸美鷲庠簍蔻棵草茅濮棖懷峻寺郡疝哩鄄晌墊密彗蟀緩昭兜剛留鋯些跳彤喲弱酵嚏檬嘛沒猿褳逼燈燮罨汨除馴竿鼎矛荔御悸鷥擺瓚。 近年來, 利用粉末衍射數(shù)據(jù)測定未知結(jié)構(gòu)的方法獲得了很大的成功,這種方法的關(guān)鍵在于正確地對粉末衍射圖譜進(jìn)行分峰,確定相應(yīng)于每一個面指數(shù)(hkl)的衍射強(qiáng)度,。板織構(gòu)的極點(diǎn)分布比較復(fù)雜, 需要兩個指數(shù)來表示,且多用衍射儀進(jìn)行測定。范雄等采用X射線衍射技術(shù)測定了高聚物聚丙烯(PP)的結(jié)晶度, 利用函數(shù)分峰法分離出非晶峰和各個結(jié)晶峰, 計(jì)算出了不同熱處理?xiàng)l件下聚丙烯的結(jié)晶度,得出了聚丙烯結(jié)晶度與退火時間的規(guī)律。采用X射線衍射線線寬法( 謝樂法) 可以測定納米粒子的平均粒徑。與硬度變化規(guī)律相似, 半高寬也是隨著回火時間的延長和回火溫度的升高呈現(xiàn)單調(diào)下降的趨勢。測定點(diǎn)陣參數(shù)在研究固態(tài)相變、確定固溶體類型、測定固溶體溶解度曲線、測定熱膨脹系數(shù)等方面都得到了應(yīng)用。將待測樣品的衍射圖譜和各種已知單相標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的衍射圖譜對比, 從而確定物質(zhì)的相組成?！? X射線衍射技術(shù)在材料分析中的應(yīng)用 由X射線衍射原理可知,物質(zhì)的X射線衍射花樣與物質(zhì)內(nèi)部的晶體結(jié)構(gòu)有關(guān)。X射線衍射技術(shù)在材料分析中的應(yīng)用 沈欽偉126406324 應(yīng)用化學(xué) 1引言 X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)X射線照射到晶體物質(zhì)上,由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成,這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級,故由不同原子
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