x射線(xiàn)衍射技術(shù)在材料分析中的應(yīng)用-預(yù)覽頁(yè)
【正文】 參數(shù)(包括晶體結(jié)構(gòu)類(lèi)型, 晶胞大小,晶胞中原子、離子或分子的位置和數(shù)目等)。目前, X射線(xiàn)衍射技術(shù)已經(jīng)廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域的材料分析與研究工作中。確定相組成后, 根據(jù)各相衍射峰的強(qiáng)度正比于該組分含量(需要做吸收校正者除外) ,就可對(duì)各種組分進(jìn)行定量分析。外標(biāo)法雖然不需要在樣品中加入?yún)⒖紭?biāo)相,但需要用純的待測(cè)相物質(zhì)制作工作曲線(xiàn), 這也給實(shí)際操作帶來(lái)一定的不便。點(diǎn)陣參數(shù)的測(cè)定是通過(guò)X射線(xiàn)衍射線(xiàn)位置的測(cè)定而獲得的,通過(guò)測(cè)定衍射花樣中每一條衍射線(xiàn)的位置均可得出一個(gè)點(diǎn)陣常數(shù)值。當(dāng)一束X射線(xiàn)入射到具有微觀(guān)應(yīng)力的樣品上時(shí), 由于微觀(guān)區(qū)域應(yīng)力取向不同, 各晶粒的晶面間距產(chǎn)生了不同的應(yīng)變, 即在某些晶粒中晶面間距擴(kuò)張, 而在另一些晶粒中晶面間距壓縮,結(jié)果使其衍射線(xiàn)并不像宏觀(guān)內(nèi)應(yīng)力所影響的那樣單一地向某一方向位移, 而是在各方向上都平均地作了一些位移, 總的效應(yīng)是導(dǎo)致衍射線(xiàn)漫散寬化。因此,X射線(xiàn)衍射中半高寬，回火時(shí)間，溫度曲線(xiàn)可以用于回火過(guò)程中殘余應(yīng)力消除情況的判定。(3)測(cè)量結(jié)果可靠性高等?！☆欁棵鞯炔捎弥x樂(lè)法測(cè)定了納米碳酸鈣粒子和納米稀土(主要為CeO2)粒子的平均粒徑,測(cè)定結(jié)果為DCaCO3=,DCeO2=,另外他們采用透射電鏡法測(cè)定兩種粒子粒徑的結(jié)果為DCaCO3=,DCeO2=,兩種方法的測(cè)量結(jié)果比較吻合, 說(shuō)明謝樂(lè)法測(cè)定納米粒子粒徑是可信的?；竟綖? Xc=Ic/(Ic+ KIa)。 3. 7晶體取向及織構(gòu)的測(cè)定 晶體取向的測(cè)定又稱(chēng)為單晶定向, 就是找出晶體樣品中晶體學(xué)取向與樣品外坐標(biāo)系的位向關(guān)系。 多晶材料中晶粒取向沿一定方位偏聚的現(xiàn)象稱(chēng)為織構(gòu),常見(jiàn)的織構(gòu)有絲織構(gòu)和板織構(gòu)兩種類(lèi)型?！ ″敌〈ú捎肵射線(xiàn)能譜法測(cè)定了金屬板材織構(gòu),分別獲得了IF鋼、冷軋電工鋼、CuNi15Sn8合金的織構(gòu)信息, 說(shuō)明X射線(xiàn)衍射能譜儀在金屬板材的織構(gòu)測(cè)定方面具有快速、高效的優(yōu)點(diǎn),在材料性能與織構(gòu)及生產(chǎn)工藝相互關(guān)系研究方面有極大的應(yīng)用價(jià)值?！ ∮蓛煞N材料交替沉積形成的納米多層膜具有成分周期性變化的調(diào)制結(jié)構(gòu),不論是薄膜厚度還是多層膜的周期數(shù)都可以通過(guò)X射線(xiàn)衍射測(cè)得?！ 【w結(jié)構(gòu)測(cè)定還有一些經(jīng)驗(yàn)方法,如同構(gòu)型法、傅里葉差值法和嘗試法等?！ ? 結(jié)束語(yǔ) 綜上所述,X射線(xiàn)衍射技術(shù)在材料分析領(lǐng)域有著十分廣泛的應(yīng)用,在無(wú)機(jī)材料、有機(jī)材料、鋼鐵冶金、納米材料等研究領(lǐng)域中發(fā)揮越來(lái)越重要的
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