x射線(xiàn)衍射技術(shù)在材料分析中的應(yīng)用-全文預(yù)覽
【正文】 : Xc 結(jié)晶度 Ic 晶相散射強(qiáng)度 Ia 非晶相散射強(qiáng)度 K 單位質(zhì)量樣品中晶相與非晶相散射系數(shù)之比。 3. 6結(jié)晶度的測(cè)定 結(jié)晶度是影響材料性能的重要參數(shù)?！?. 5納米材料粒徑的表征 納米材料的顆粒度與其性能密切相關(guān)?！ ?. 4宏觀應(yīng)力的測(cè)定 在材料部件宏觀尺度范圍內(nèi)存在的內(nèi)應(yīng)力分布在它的各個(gè)部分,相互間保持平衡,這種內(nèi)應(yīng)力稱(chēng)為宏觀應(yīng)力,宏觀應(yīng)力的存在使部件內(nèi)部的晶面間距發(fā)生改變,在一定波長(zhǎng)輻射發(fā)生衍射的條件下, 晶面間距的變化導(dǎo)致衍射角的變化,測(cè)定衍射角的變化即可算出宏觀應(yīng)變, ,X射線(xiàn)衍射測(cè)定應(yīng)力的原理是以測(cè)量衍射線(xiàn)位移作為原始數(shù)據(jù),所測(cè)得的結(jié)果實(shí)際上是應(yīng)變,而應(yīng)力則是通過(guò)虎克定律由應(yīng)變計(jì)算得到。材料的微觀殘余應(yīng)力是引起衍射線(xiàn)線(xiàn)形寬化的主要原因, 因此衍射線(xiàn)的半高寬即衍射線(xiàn)最大強(qiáng)度一半處的寬度是描述微觀殘余應(yīng)力的基本參數(shù)?！墙i等采用X射線(xiàn)衍射技術(shù)測(cè)量了不同配比條件下Fe2O3和Cr2O3的固溶體的點(diǎn)陣參數(shù),根據(jù)Vegard定律計(jì)算出固溶體中某相的固溶度,這種方法雖然存在一定的誤差,但對(duì)于反映固溶度隨工藝參數(shù)的變化趨勢(shì)仍然是非常有效的?！ 墙i等制備了一定比例的SiO2和其他物質(zhì)的混合物,然后分別采用內(nèi)標(biāo)法和外標(biāo)法測(cè)量了混合物中SiO2的含量,并與混合物中SiO2初始配比進(jìn)行對(duì)照,發(fā)現(xiàn)各個(gè)樣品的測(cè)量結(jié)果和初始配比都是比較接近的,說(shuō)明這兩種測(cè)定方法是可以用于待測(cè)樣品的物相定量分析的?！ 射線(xiàn)衍射物相定量分析有內(nèi)標(biāo)法外標(biāo)法、增量法、無(wú)標(biāo)樣法和全譜擬合法等常規(guī)分析方法?！?. 1物相鑒定 物相鑒定是指確定材料由哪些相組成和確定各組成相的含量,主要包括定性相分析和定量相分析。因此,沒(méi)有兩種不同的結(jié)晶物質(zhì)會(huì)給出完全相同的衍射花樣。X射線(xiàn)分析儀器上通常使用的X射線(xiàn)源是X射線(xiàn)管,這是一種裝有陰陽(yáng)極的真空封閉管, 在管子兩極間加上高電壓, 陰極就會(huì)發(fā)射出高速電子流撞擊金屬陽(yáng)極靶,從而產(chǎn)生X射線(xiàn)。X射線(xiàn)衍射方法具有不損傷樣品、無(wú)污染、快捷、測(cè)量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。當(dāng)某物質(zhì)( 晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí),該物質(zhì)被X射線(xiàn)照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象, 物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生特有的衍射圖譜。X射線(xiàn)的波長(zhǎng)較短, 大約在108~1010cm之間。每種結(jié)晶物質(zhì)都有其特定的結(jié)構(gòu)
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