x射線衍射技術(shù)在材料分析中的應(yīng)用-全文預(yù)覽
【正文】 : Xc 結(jié)晶度 Ic 晶相散射強度 Ia 非晶相散射強度 K 單位質(zhì)量樣品中晶相與非晶相散射系數(shù)之比。 3. 6結(jié)晶度的測定 結(jié)晶度是影響材料性能的重要參數(shù)?！?. 5納米材料粒徑的表征 納米材料的顆粒度與其性能密切相關(guān)?！ ?. 4宏觀應(yīng)力的測定 在材料部件宏觀尺度范圍內(nèi)存在的內(nèi)應(yīng)力分布在它的各個部分,相互間保持平衡,這種內(nèi)應(yīng)力稱為宏觀應(yīng)力,宏觀應(yīng)力的存在使部件內(nèi)部的晶面間距發(fā)生改變,在一定波長輻射發(fā)生衍射的條件下, 晶面間距的變化導(dǎo)致衍射角的變化,測定衍射角的變化即可算出宏觀應(yīng)變, ,X射線衍射測定應(yīng)力的原理是以測量衍射線位移作為原始數(shù)據(jù),所測得的結(jié)果實際上是應(yīng)變,而應(yīng)力則是通過虎克定律由應(yīng)變計算得到。材料的微觀殘余應(yīng)力是引起衍射線線形寬化的主要原因, 因此衍射線的半高寬即衍射線最大強度一半處的寬度是描述微觀殘余應(yīng)力的基本參數(shù)?！墙i等采用X射線衍射技術(shù)測量了不同配比條件下Fe2O3和Cr2O3的固溶體的點陣參數(shù),根據(jù)Vegard定律計算出固溶體中某相的固溶度,這種方法雖然存在一定的誤差,但對于反映固溶度隨工藝參數(shù)的變化趨勢仍然是非常有效的?！ 墙i等制備了一定比例的SiO2和其他物質(zhì)的混合物,然后分別采用內(nèi)標(biāo)法和外標(biāo)法測量了混合物中SiO2的含量,并與混合物中SiO2初始配比進行對照,發(fā)現(xiàn)各個樣品的測量結(jié)果和初始配比都是比較接近的,說明這兩種測定方法是可以用于待測樣品的物相定量分析的?！ 射線衍射物相定量分析有內(nèi)標(biāo)法外標(biāo)法、增量法、無標(biāo)樣法和全譜擬合法等常規(guī)分析方法?！?. 1物相鑒定 物相鑒定是指確定材料由哪些相組成和確定各組成相的含量,主要包括定性相分析和定量相分析。因此,沒有兩種不同的結(jié)晶物質(zhì)會給出完全相同的衍射花樣。X射線分析儀器上通常使用的X射線源是X射線管,這是一種裝有陰陽極的真空封閉管, 在管子兩極間加上高電壓, 陰極就會發(fā)射出高速電子流撞擊金屬陽極靶,從而產(chǎn)生X射線。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點。當(dāng)某物質(zhì)( 晶體或非晶體)進行衍射分析時,該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象, 物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生特有的衍射圖譜。X射線的波長較短, 大約在108~1010cm之間。每種結(jié)晶物質(zhì)都有其特定的結(jié)構(gòu)
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