直方圖(存儲版)
【正文】 所表現(xiàn)出來的保證產(chǎn)品質(zhì)量的能力。 判定過程是否有偏離 [3 Cp(1k) ] 216。[3 Cp(1+k) ] =2 216。 – 判定過程是否處于正常狀態(tài)。此外，過程能力指數(shù)、控制圖等也均是建立在正態(tài)分布的基礎(chǔ)上。當(dāng)生產(chǎn)過程穩(wěn)定時，絕大多數(shù)計量值特性服從正態(tài)分布、不合格品數(shù)服從二項分布，缺陷數(shù)服從泊松分布。()==% 50 過程能力指數(shù)的應(yīng)用程序 ? 過程能力指數(shù)的應(yīng)用程序可分為下述 6個步驟： – 確定分析的質(zhì)量特性。()] =2[]=3x105 例 2中 Cpk=,且 k=， Cp=， 過程不合格率 p為： p=2 216。 求平均值 x ， 標(biāo)準(zhǔn)偏差 S x = 1460 ， S= 28 求 Cp（ l） 值 Cp（ l） = （ ?Tl） /3? ≈ （ xTl） /3S =（ 14601400） /3/28= 48 過程能力指數(shù)與過程不合格品率 p之間的關(guān)系 ? Cp與 p的關(guān)系 p=2[1 216。 計算過程能力指數(shù) Cp=T/6?≈T/6S=4/6/= ? 42 計算方法 過程有偏差時： ? ?Tm的情形 若過程質(zhì)量特性 X的分布中心 ? 不等于規(guī)格中心 Tm， 則稱此過程是有偏差的。( )216。 密度函數(shù) 分布函數(shù) f(x)= ?2 ? 1 ex2/2 216。 – 以后我們以 X N（ ?， ?2） 表示質(zhì)量特性 X服從均值 ? 、標(biāo)準(zhǔn)偏差為 ?的正態(tài)分布。 29 正 態(tài) 分 布 30 正態(tài)分布的概念 當(dāng)生產(chǎn)過程正常時，計量特性值數(shù)據(jù)的頻率直方圖應(yīng)是中間高，兩邊低，左右大致對稱的圖形，這種分布規(guī)律稱為正態(tài)分布。這時應(yīng)采取措施使兩者重合，否則一側(cè)無余量，稍不注意就會超差，出現(xiàn)不合格品。 ? 由于某種原因使上限受到限制時，容易發(fā)生“偏右”型。 ? 這是由于作直方圖時數(shù)據(jù)分組太多，測量儀器誤差過大，或觀測數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確等造成的?！? ? “近似”是指一般直方圖多少有點參差不齊，主要看整體形狀。故第一組下限值取為 Sh/2== 然后依次加入組距 h， 即可得到各組上、下限值。 ? 矩形的高為數(shù)據(jù)落入各相應(yīng)區(qū)間的頻數(shù)或頻率。 ? 滾珠直徑 x （ 單位： mm) j i 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 Li Si 1 2 3 4 5 Li為第 i行數(shù)據(jù)的最小值 Si為第 i行數(shù)據(jù)的最小值 5 找出數(shù)據(jù)中的最大值 L、 最小值 S和極差 R L=maxLi= S=minSi= R=LS== 1≤i≤5 1≤i≤5 區(qū)間 [S， L] 稱為數(shù)據(jù)的散布范圍，記作 B， 全體數(shù)據(jù)在散布范圍內(nèi)變動。 9 計算各組中心值 bi 第 i組下限值 +第 i組上限值 2 bi= 各組中心值見表 1。 ? 此時，應(yīng)查明原因
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