xrf光譜儀原理及維護(hù)-免費(fèi)閱讀
【正文】 溫度控制在 30 oC 177。觀察真空泵是否漏油 壓縮空氣報(bào)警？ 檢查空壓機(jī)壓力是否正常。應(yīng)檢查分析方法本身，檢查誤差來源。探測器高壓 HV 。 3. 參數(shù)文件的上傳：輸入文件名， Dyxxx, 檢查文件是否存在，如存在 按 F2鍵，文件將被傳到儀器。 3. 定期檢查真空泵油面（ 3個(gè)月）。 7. 開高壓。 2. 關(guān)高壓電源。開計(jì)算機(jī)電源。 檢測器不僅記錄入射光子引起的脈沖數(shù)目 ， 還記錄該低能光譜光子產(chǎn)生的脈沖數(shù) ， 在能譜圖上表現(xiàn)為兩個(gè)峰：主峰和逃逸峰 。 檢測器和 脈沖高度 分析 器 區(qū)別不同能量譜線 光子 的能力稱為 能量 分辨率 。監(jiān)控頻率為 ,每 5000個(gè)時(shí)鐘脈沖控制 。 (分光 )系統(tǒng) 光學(xué)系統(tǒng)由樣品、前級準(zhǔn)直器、分光晶體 和探測器準(zhǔn)直器組成； 晶體分光原理 Braggs Law : n?=2dsin? 布喇格定律 樣品發(fā)射的具有不同波長的特征 X射線通過晶體的衍射，散布 在空間不同的方位上，并由探測器跟蹤測量 —— 稱為波長散射。一般 K系線強(qiáng)度 L系線強(qiáng)度 。 波長色散光譜儀 AXioS光譜儀 ? 能量型：優(yōu)點(diǎn)，無分光系統(tǒng)，小巧，檢測靈敏度提高 2—3數(shù)量級，可一次同時(shí)測定樣品中幾乎所有元素；缺點(diǎn)，分析背景大，準(zhǔn)確度不夠，尤其對輕元素還不能使相鄰元素的 Ka譜線完全分開。XRF光譜儀原理及維護(hù) 一 .X射線熒光儀概論 ?.煉鋼爐前分析的發(fā)展 ?手動濕法分析 ?手動儀器分析 ?自動快速分析 ?.快速分析的幾種模式 X熒光 火花光譜 制樣（銑床） 機(jī)械手 試樣歸類存儲 進(jìn)樣 XRF光譜儀通常分成兩大類： (EDXRF) 2. 波長色散光譜儀 (WDXRF) ?X射線熒光儀分類 (EDAXS) X光管－樣品－探測器－定標(biāo)器－微機(jī) X光管或放射性同位素 半導(dǎo)體探測器 樣 品 冷卻器 多道分析器 MCA ampli fier an dmulti chann elana lyserener gy ( K eV)chann elcount ssam pleXray tubedete ctor二維光學(xué)（光管直接激發(fā)） EDXRF X光管初級輻射直接激發(fā)樣品，由樣品發(fā)射的熒光直接進(jìn)入探測器進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換 和能量分辨，信號輸入多道分析器進(jìn)行定性和定量分析。 ? 波長型：主要由光源、準(zhǔn)直器、分光晶體、檢測器、記錄系統(tǒng)組成，有多道和單道式，分析準(zhǔn)確度較高，價(jià)格較貴。在無干擾的情況下 盡量選擇 K系線。 晶體分光原理與布拉格定律 布拉格定律 入射波長 ? 準(zhǔn)直 器系統(tǒng) 1. 前級 準(zhǔn)直器的作用在于： 控制入射光束的 強(qiáng)度及分辨 性能 2. 探測器準(zhǔn)直器的作用在于降低雜散背景，提高靈敏度 3. 通常具有兩種準(zhǔn)直器 系統(tǒng)： ? 平面晶體 /準(zhǔn)直器色散系統(tǒng) －非聚焦系統(tǒng)，用于順序式儀器 ? 柱面彎曲晶體 /狹縫色散系統(tǒng) －聚集系統(tǒng)，用于同時(shí)式儀器 4. 準(zhǔn)直器由若干金屬薄片 （ Mo)及隔墊疊積而成，金屬片間隔越密，分辨率越高，強(qiáng)度越低；金屬片間距越大，強(qiáng)度越高，分辨率越差。 4. 探測器工作原理 以光電效應(yīng)為基礎(chǔ)， 把 X射線光子轉(zhuǎn)換成可測量的電壓脈沖 .以達(dá)到檢測 X射線光子的目的 . 1. 探測器不僅能將光子轉(zhuǎn)變成可以測量的脈沖，而且具有區(qū)分光子能 量大小的正比特性； 2. 常用的探測器有 :閃爍計(jì)數(shù)器、封閉型正比計(jì)數(shù)器和流氣式正比計(jì)數(shù)器。 脈沖高度分 析器的作用 分析器 上限甄別器 下限甄別器 反符合電路 輸入 輸出 脈沖高度選擇器由上限甄別器、下限甄別器、反符合電路等部分組成。 探測器的主峰與逃逸峰 逃逸峰現(xiàn)象實(shí)例 V的逃逸峰 V的主峰 (光子峰 ) 22Ti ~ 27Co 各元素出現(xiàn)逃 逸峰 逃逸峰的計(jì)算例 CrKα 的逃逸峰： 分析線 ： CrKa ArKa 光子能量 ： keV ； keV 逃逸峰的能量 : E = Cr Ka Ar Ka = = Kev 光子峰 逃逸峰 堆積峰的形成 堆積峰是由于兩個(gè)光子同時(shí)進(jìn)入了探測器形成的，這兩個(gè)光子各自產(chǎn)生一群電子并被檢測，所以檢測的能量相當(dāng)于兩個(gè)初始能量之和 雙多道脈沖分析計(jì)數(shù)電 路 (DMCA) ? 作用是 提高計(jì)數(shù)速度，以實(shí)現(xiàn)快速定性掃描 ? 擴(kuò)大 計(jì)數(shù)的線性范圍，提高靈敏度。運(yùn)行 SuperQ,進(jìn)入 System setup, 檢查 P10流量 (1L/h左右），真空度（小于 100Pa）。 3. 設(shè)定介質(zhì)為空氣。 8. 檢查 PHD. X－光管老化 1. 停機(jī)超過 24小時(shí)以上，再開機(jī)時(shí) X光管需老化。真空泵每 6個(gè)月排一次水。 儀器參數(shù)下載 檢查顯示儀器動態(tài)參數(shù) A N A L O G S E N S O R I N P U T S ADC Name Value ADC Name Value 1 CABTMP: C 儀器內(nèi)部溫度 13 +12VSB: V 2 TMPPWR: V 1
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