【正文】 標(biāo)準(zhǔn)加入法 當(dāng)測(cè)定低含量元素時(shí) ， 找不到合適的基體來(lái)配制標(biāo)準(zhǔn)試樣時(shí) ， 一般采用標(biāo)準(zhǔn)加入法 。 但實(shí)際工作中并不需要求出 γ， b 1 ， lgA的值 。 ⑤ .所選用的譜線應(yīng)不受其它元素譜線的干擾 ， 也應(yīng)不是自吸收嚴(yán)重的譜線 。 內(nèi)標(biāo)線：內(nèi)標(biāo)元素的譜線 — 待測(cè)元素中準(zhǔn)確地加入某一元素 ， 稱該元素為 “ 內(nèi)標(biāo)元素 ” 或 “ 參比元素 ” 。39。39。 通常用圖解法表示 。 進(jìn)行半定量分析的方法很多 ， 現(xiàn)對(duì)常用的方法介紹如下： 標(biāo)準(zhǔn)系列目視強(qiáng)度法 用待測(cè)元素配制一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)系列 ， 將分析試樣與標(biāo)準(zhǔn)系列并列攝譜 ， 目視法比較譜線的強(qiáng)度 ， 估計(jì)待測(cè)元素的大致含量 。 在進(jìn)行光譜全分析時(shí) ， 對(duì)于復(fù)雜式樣 ， 可采用分段曝光法 ， 先在小電流 (5A) 激發(fā) ， 攝取易揮發(fā)元素光譜調(diào)節(jié)光闌 ， 改變暴光位置后 ， 加大電流 (10A)， 再次暴光攝取難揮發(fā)元素光譜；為了能將試樣和鐵譜能并列攝于同一感光板上 ， 攝譜時(shí)要使用 Hartman光闌 。若試樣量較少或?yàn)榉勰悠罚ǔＶ糜谟墒瞥傻母鞣N形狀電極小孔中，然后激發(fā)。 這 5條線幾乎等距離排列 ， 中間線強(qiáng)度較大 ， 其它 4條強(qiáng)度相近 。 1883年 ， Hartley首先提出元素最后線原理：隨元素含量逐漸減小 ，光譜線逐漸減少 ， 而最后消失的譜線 ， 稱為最后線 。 （ 1） 靈敏線：激發(fā)電位低、躍遷幾率大的原子線或離子線，大多為共振線。 用攝譜儀進(jìn)行光譜分析時(shí) ， 必須有觀測(cè)設(shè)備 ， 常用的觀測(cè)設(shè)備有：映譜儀 、 測(cè)微光度計(jì) （ 黑度計(jì) ） 及比長(zhǎng)儀等 。 ? ?? ? 由上方程式可以看出：當(dāng)一束平行的復(fù)合光以一定的入射角照射平面光柵時(shí)，對(duì)于給定的光譜級(jí)次，衍射角隨波長(zhǎng)的增長(zhǎng)而增大，即波長(zhǎng)不同，其衍射光程差 dsin 就不同，而產(chǎn)生光的色散。棱鏡的底邊長(zhǎng)；棱鏡的數(shù)目；理????ddnbmddnmbR::00???光譜儀的理論分辨率與棱鏡材料、形狀、個(gè)數(shù)及波長(zhǎng)有關(guān)，即在理想條件下，有： B、光柵攝譜儀 光柵攝譜儀以衍射光柵作為色散元件，根據(jù)光的衍射現(xiàn)象進(jìn)行分光，其色散率和分辨率都高于棱鏡攝譜儀，且不受材料性質(zhì)的限制，與波長(zhǎng)幾乎無(wú)關(guān)，因而廣泛流行的商品儀器大多屬光柵攝譜儀。 ??ddlb 、線色散率 它表示兩條波長(zhǎng)相差 ，通過(guò)棱鏡后，在攝譜儀焦面上分開(kāi)的距離 ，其大小可用下式表示： ?ddl：角色散率。 （ 1）照明系統(tǒng) 由狹縫和準(zhǔn)直鏡組成，其作用是使進(jìn)入狹縫的光變成平行光束照射到單色器上。 然后檢測(cè)譜線而進(jìn)行定性定量分析 。 試樣是通過(guò)流速為 ～ 的氬氣流帶入到中心石英管內(nèi)。 在等離子體中 ， 陰陽(yáng)離子的濃度是相等的 ， 靜電荷為 0。 （ 5）應(yīng)用 : 礦物和金屬材料中痕量元素的定性 、 半定量分析 ，特別是難熔氧化物中痕量元素的定性 、 半定量分析；不宜用于定量及低熔點(diǎn)元素的分析 。 方法：（ 1）看譜分析法 （ 2） 攝譜分析法 （ 3）光電直讀光譜法 光譜分析儀組成： 激發(fā)光源、（分光系統(tǒng)）攝譜儀、檢測(cè)系統(tǒng) 。 這一過(guò)程稱為蒸發(fā) 、 原子化和激發(fā) ， 需借助于激發(fā)光源來(lái)實(shí)現(xiàn) 。 主要用于元素的分析： 譜線波長(zhǎng) （ λ ） —— 定性分析 譜線強(qiáng)度 （ I） —— 定量分析 一、原子光譜分析的基本原理 在正常的情況下 ， 原子處于穩(wěn)定狀態(tài) ， 它的能量是最低的 ， 這種狀態(tài)稱為 基態(tài) 。 屬于這類分析方法的有原子發(fā)射光譜法 （ AES） 、 原子吸收光譜法 （ AAS） ， 原子熒光光譜法 （ AFS） 以及 X射線熒光光譜法 （ XFS） 等 。 光學(xué)分析法分類： 光學(xué)分析法可分為 光譜法 和 非光譜法 兩大類。 這些光譜是由于物質(zhì)的原子或分子的特定能級(jí)的躍遷所產(chǎn)生的 ， 根據(jù)其特征光譜的波長(zhǎng)可進(jìn)行定性分析；而光譜的強(qiáng)度與物質(zhì)的含量有關(guān) ，可進(jìn)行定量分析 。 引起電磁輻射在方向上的改變或物理性質(zhì)的變化 ， 而利用這些改變可以進(jìn)行分析 。 特征輻射 基態(tài)元素 M 激發(fā)態(tài) M* 熱能、電能 ?E EhcchhEEEhEXX????????＝或＝光譜的記錄輻射躍遷：????12*:)(① 量子化 ———— 線光譜 ② 光譜選律 ———— 元素的特征性 處于激發(fā)態(tài)的原子是十分不穩(wěn)定的 ， 在極短的時(shí)間內(nèi)便躍遷至基態(tài)或其它較低的能級(jí)上 。 二 、 分析過(guò)程 樣品的蒸發(fā)（原子化）與激發(fā) 光譜的獲得和記錄 （ 1)分光 : 將激發(fā)態(tài)原子所產(chǎn)生的光輻射經(jīng)過(guò)色散，得到按波長(zhǎng)排列的光譜。 由于光譜分析任務(wù)的復(fù)雜性 （ 如樣品的種類不同 ， 狀態(tài)的差別和待測(cè)元素的激發(fā)電位不同等各種情況 ） ， 要想使用一種光源滿足各種不同的分析要求是困難的 ， 因此 ，光譜分析中常用的光源有很多種 ， 且仍在不斷地革新發(fā)展 ，目前 ， 光譜分析中的光源主要有： 火焰光源 （ 最早使用 ） ； 電弧激發(fā)光源： 直流電弧光源 （ DCA)；交流電弧光源 （ ACA)； 高壓火花光源 新型光源： 電感耦合等離子炬 、 直流等離子體噴焰 、微波感生等離子炬 、 空心陰極燈 、 輝光放電 、 激光探針等 。 ICP時(shí)二十世紀(jì)六十年代提出 、 七十年代得到迅速發(fā)展的一種新型光源 。用高頻火花等方法時(shí)中間流動(dòng)的工作氣體電離，產(chǎn)生的離子和電子再與感應(yīng)線圈所產(chǎn)生的起伏磁場(chǎng)作用。因此，由弧焰中心發(fā)射的譜線在穿過(guò)弧層時(shí)會(huì)被外層的基態(tài)原子所吸收，而使強(qiáng)度減弱，這種現(xiàn)象稱自吸，嚴(yán)重的自吸會(huì)使譜線中心的輻射完全被吸收，這種現(xiàn)象稱自蝕。 S－－入射狹縫， L1－－準(zhǔn)直鏡 D－－哈脫門光欄， P－－棱鏡 L2－－成像物鏡， F－－感光板。但它們的基本構(gòu)造和作用原理是相似的 。2121????????????????RR 即當(dāng)儀器的分辨率 ，才能清楚地分開(kāi)鐵譜線 。 2…… 相應(yīng)得到的光譜稱零級(jí)光譜、一級(jí)光譜、二級(jí)光譜 …… 177。實(shí)際工作中，要想獲得高分辨率，最現(xiàn)實(shí)的方法是采用大塊的光柵，以增加總刻線數(shù)，目前有些光譜儀中僅有 254nm尺寸大的光柵，其分辨率可達(dá) .106 5?三、光譜檢測(cè)裝置 （一） 光譜感光板 感光板（干板） 構(gòu)成：片基（支持體）－－玻璃片或膠片 感光層－－感光劑（溴化銀乳劑） 增感劑－－提高感光靈敏度或感光波段范圍 防暈劑－－吸光劑。 常用的為國(guó)產(chǎn) 9W（ WCD） 型測(cè)微光度計(jì) 。第一共振線，也是該元為至基態(tài)所發(fā)射的譜線稱由第一激發(fā)態(tài)直接