【正文】 2 25 82 28 3125 5 7 40 11 13 54 17 19 69 23 25 83 29 3211 0 1 26 6 7 55 17 19 70 23 26 84 29 3212 1 2 27 6 7 41 11 13 56 17 20 85 30 3213 1 2 28 6 8 42 12 14 57 18 20 71 24 26 86 30 3314 1 2 29 7 8 43 12 14 58 18 21 72 24 27 87 31 3315 2 3 30 7 9 44 13 15 59 19 21 73 25 27 88 31 3416 2 3 45 13 15 60 19 21 74 25 28 89 31 3417 2 4 31 7 9 46 13 15 75 25 28 90 32 3518 3 4 32 8 9 47 14 16 61 20 22 76 26 2819 3 4 33 8 10 48 14 16 62 20 22 77 26 2920 3 5 34 9 10 49 15 17 63 20 23 78 27 2935 9 11 50 15 17 64 21 23 79 27 3021 4 5 36 9 11 65 21 24 80 28 30符號(hào)檢定表 HY 19 品管手法七工具 直方圖 (Histogram) 一、何謂直方圖 一眼可看出變異狀況的方法 又稱柱狀圖 二、直方圖之製作 收集數(shù)據(jù) (一般 50~200個(gè) ) 範(fàn)例 : (1) 某公司 H的製品規(guī)格為 +(ms)， 也就是規(guī)格內(nèi)的 ~ (ms) ， 數(shù)據(jù) 100個(gè) (如右 )。 C (Y) 硬度 No. (X) 燒熔溫度。 X(大 ) = 890, X(小 ) = 810 。 管制圖中 ， 若同一製品之二特性間有密切關(guān)係時(shí) ， 則可捨去其中一個(gè)管制圖 ， 以降低預(yù)防成本 。 二 、 散佈圖的注意事項(xiàng) 注意有無(wú)異常點(diǎn) ? 是否有層別必要 ? 是否為假相關(guān) ? 數(shù)據(jù)太少 、 易發(fā)生誤判 ， 調(diào)查有無(wú)異常原因 。 在決定收集數(shù)據(jù)的期間，按照上述分類，在期間內(nèi)收集數(shù)據(jù)。 5. 並非對(duì)所有原因採(cǎi)取處置 ， 而是先從影響較大的 2~3項(xiàng)採(cǎi)取措施 ， 即所謂的重點(diǎn)管理 柏拉圖 (Pareto Diagram) 品管手法七工具 QC 7 Tools HY 3 品管手法七工具 查檢表 (check sheet) 一 、 何謂查檢表 查檢表為一種便於蒐集數(shù)據(jù) ， 並使用簡(jiǎn)單記號(hào)填寫 ， 加以統(tǒng)計(jì)整理 ， 以便進(jìn)一步分析 、 核對(duì)或檢查的一種 表格或圖表 。 此七大手法工具列舉如下 : 1. 查檢表 (Check Sheet) 2. 特性要因圖 (Characteristic Diagram) 3. 柏拉圖 (Pareto Diagram) 4. 散佈圖 (Scatter Diagram) 5. 直方圖 (Histogram) 6. 管制圖 (Control Chart) 7. 層別法 (Stratification) HY 2 二 、 何時(shí)使用此七大手法工具 : 、 數(shù)據(jù)發(fā)言 圖表 (Graph)、 查檢表 (Check Sheet)、 散佈圖 (Scatter Diagram)。 而在品質(zhì)管制的活動(dòng)中 ， 大多採(cǎi)用 【 根據(jù)事實(shí) ， 數(shù)據(jù)發(fā)言 】 的統(tǒng)計(jì)方法來(lái)管理 ， 除了可 客觀瞭解 、 判斷事實(shí)外 ， 也具有合理性的說(shuō)服力 。 4. 為區(qū)別各不同層級(jí)原因?qū)Y(jié)果之影響 ， 而分別進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析的方法 層別法 (Stratification)。 一般是先從結(jié)果之分類，洞悉問(wèn)題之所在，再依原因別繪製柏拉圖。 不 良 率 % 點(diǎn)上累計(jì)影響度，並以折線連結(jié)則得柏拉圖 * 柏拉圖之用途 : ， 從圖中可看出 (1) 全體的不良有多少 ? (2) 各種不良佔(zhàn)多少 ? (3) 減低那些不良，將可降低全體不 良之 70%~80%以上 ? 5 項(xiàng) 目 別 10 15 20 25 30 32 25% 50% 75% % 100% 累 計(jì) 影 響 度 A B C D 其他 HY 12 品管手法七工具 散佈圖 (Scatter Diagram) 一、何謂散佈圖 為研究?jī)蓚€(gè)變量間的相關(guān)性 ， 而搜集成對(duì)二組數(shù)據(jù) ， 在方格紙上以點(diǎn)來(lái)表示出二個(gè)特性值 之間相關(guān)情形的圖形 ， 稱之為 「 散佈圖 」 。 抽樣檢驗(yàn)中 ， 若品質(zhì)特性之測(cè)試成本高或困難 ， 則可採(cǎi)用與此特性有關(guān)係存在的另一個(gè)測(cè)試 成本較低或測(cè)試容易之特性 ， 以降低檢驗(yàn)成本 。 (1) 找出 x, y之最大值及最小值。 C (Y) 硬度 No. (X) 燒熔溫度。 給予象限號(hào)碼，並計(jì)算各象限的點(diǎn)數(shù) (如下圖 )。 (2) 缺齒型 : 係因測(cè)定值或換算方法有偏差，次數(shù)分配不妥當(dāng)所形成的。 (5) 高原型：不同平均值的分配混在一起，應(yīng)層別之後再做直方圖比較。 雙峰型 離島型 高原型 偏態(tài)型 HY 25 品管手法七工具 直方圖 (Histogram) 四、與規(guī)格或標(biāo)準(zhǔn)值比較 (1) SL SU 合適的製程能力 SL SU 製程能力較規(guī)格好得太多 (2) 如果出現(xiàn)的直方圖偏向規(guī)格下限並伸展到規(guī)格下限左邊，或偏向規(guī)格上限並伸展到規(guī)格上限 (3) 右邊，即表示平均位置偏差，應(yīng)針對(duì)固定設(shè)備、機(jī)器、原料等方向去追查。 異常 (非機(jī)遇 )原因 ( Assignable cause) : 可避免的原因，不可讓它存在，需追查原因，採(cǎi)取行動(dòng)， 使製程恢復(fù)正常。 在平均值加三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差處作成管制上限 (UCL)，在平均值減三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差處作成管制下限 (LCL)。 * 缺點(diǎn) : 在製造過(guò)程中，需要經(jīng)常抽樣、測(cè) 定、計(jì)算，再點(diǎn)上管制圖，較為麻煩且 浪費(fèi)時(shí)間。 * 缺點(diǎn) : 只靠此種管制圖，有時(shí)無(wú)法尋求不良之原因，而不能即時(shí)採(cǎi)取處理措施，而延誤時(shí)機(jī)。 配合柏拉圖使用，控制幾個(gè)影響較大的原因，更能有效